極めて微少な変位量を、レーザ光を用いて非接触で計測！過渡応答現象測定に適した、光ヘテロダイン変位計
光ヘテロダイン変位計の１プローブ１出射型のプローブを 顕微鏡鏡筒上部に設置し、顕微鏡による観察と同時に変位量を測定する 顕微鏡搭載型光ヘテロダイン変位計 【特徴】 ○被測定物の測定点をピンポイント ○被測定物状態観察と並行計測可能 ○落射照明系、CCDカメラを取りつけ通常の顕微鏡として 被測定物を視認すると共にCCDカメラを用い ディスプレイ（CRT）上で被測定面状態を観測 ○ステージ上に様々な装置を取り付けることも可能 ○ステージに自動ステージを取り付けることで、自動化することも可能 ○手動ステージか自動ステージかで構成の大きさが異なります。 ○ヘテロダイン変位計の選択はHV400,HV250いずれも可能 ●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。
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基本情報
光ヘテロダイン変位計の１プローブ１出射型のプローブを 顕微鏡鏡筒上部に設置し、顕微鏡による観察と同時に変位量を測定する 顕微鏡搭載型光ヘテロダイン変位計 【特徴】 ○被測定物の測定点をピンポイント ○被測定物状態観察と並行計測可能 ○落射照明系、CCDカメラを取りつけ通常の顕微鏡として 被測定物を視認すると共にCCDカメラを用い ディスプレイ（CRT）上で被測定面状態を観測 ○ステージ上に様々な装置を取り付けることも可能 ○ステージに自動ステージを取り付けることで、自動化することも可能 ○手動ステージか自動ステージかで構成の大きさが異なります。 ○ヘテロダイン変位計の選択はHV400,HV250いずれも可能 ●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。
価格情報
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納期
用途／実績例
【用途】 ○微少形状物の変位量分布測定 ○面粗さ・うねり分布測定 ○全体像と微少部分の変動の関連性・相関測定 ○全体像の観察と測定の同時進行
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企業情報
”光で物理量を高精度の計測”を経営方針として掲げています。 現代の最先端技術には光計測技術が欠かせない要素となっています。高精度計測の要求は科学の発展と共に、強くなると確信しております。その高精度計測を光の持つ、無侵襲・無誘導・非接触・高精度、の優れた性質と合わせることで更なる技術革新が期待できるのです。大量生産品の計測には向きませんし、オンラインでの計測にも向かないでしょう。しかし、物理量の高精度計測を必要とする最先端産業にこそ役立てるものと日々努力しております。