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HV400

最終更新日:2019年12月09日

株式会社フォトンプローブ
株式会社フォトンプローブ
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極めて微少な変位量を、レーザ光を用いて非接触で計測!過渡応答現象測定に適した、光ヘテロダイン変位計

光ヘテロダイン変位計 HV400 【特徴】 ○1nmの分解能  0.001ミクロンが縦分解能  計測の基準は周波数安定化HeNeレーザの波長 ○最短1μsごとに過渡現象を記録  短時間に変動する事象を計測・記録・表示  PCのLCD画面上で変動の様子が一目瞭然 ○最大100万点を記録、データ処理  記録時間を大幅に増加  膨大な記録点数は、すべてPCで処理しフィルタ処理、エクセル変換が可能 ○相対計測でベース振動等に基づく誤差要因を排除  測定点を2か所として、その2地点での変位量の相対値を計測  相対変動量のみを明確にし、ベース振動成分などの  誤差要因を取り除く事が可能 ●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。

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光ヘテロダイン変位計 HV400

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極めて微少な変位量を、レーザ光を用いて非接触で計測! 過渡応答現象測定に最適な、光ヘテロダイン変位計 【特徴】 ○1nmの分解能  0.001ミクロンが縦分解能  計測の基準は周波数安定化HeNeレーザの波長 ○最短1μsごとに過渡現象を記録  短時間に変動する事象を計測・記録・表示  PCのLCD画面上で変動の様子が一目瞭然 ○最大100万点を記録、データ処理  記録時間を大幅に増加  膨大な記録点数は、すべてPCで処理しフィルタ処理、エクセル変換が可能 ○相対計測でベース振動等に基づく誤差要因を排除  測定点を2か所として、その2地点での変位量の相対値を計測  相対変動量のみを明確にし、ベース振動成分などの  誤差要因を取り除く事が可能 ●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。

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用途/実績例

【用途】 ○PZT、制動鋼板、トランス、磁性材料などの振動解析・応答特性評価 ○高分子材料、薄膜、半導体、セラミックスなどのヤング率測定 ○MD、FD、HD、光ディスク、ブランクスなどの回転動特性評価 ○LN、合金、鋼材、有機材などでの表面波、超音波伝搬速度測定 ○レーザ露光での空間揺らぎや膜材の音波、超音波での振動成分解析 ○光ピックアップ、磁気ヘッド(スライダ)の立ち上がり動特性評価 ○金属、高分子、セラミックの動的熱応答特性 ○その他の物理量;圧電係数、熱膨張係数、浸透圧、重力波、 物性強度、硬度、衝撃波の過渡現象も計測の対象

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”光で物理量を高精度の計測”を経営方針として掲げています。 現代の最先端技術には光計測技術が欠かせない要素となっています。高精度計測の要求は科学の発展と共に、強くなると確信しております。その高精度計測を光の持つ、無侵襲・無誘導・非接触・高精度、の優れた性質と合わせることで更なる技術革新が期待できるのです。大量生産品の計測には向きませんし、オンラインでの計測にも向かないでしょう。しかし、物理量の高精度計測を必要とする最先端産業にこそ役立てるものと日々努力しております。

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