高速温度測定システム
本システムは高速性と安定性を特徴としております。 サンプリングはデータ上10msec間隔で表現しておりますが、実質サンプリング間隔は50μsecと非常に高速なサンプリングを実現しております。 独自の解析処理を施し、10msecの高速性と安定性を実現しております。 データ安定性は実力で±0.05℃程度を実現しており、高速性と安定性の両立を望まれるuser様にとって最適なシステムとなっております。 カスタム熱電対との組合せにより、性能を活かすことができます（御用とに合わせご提案）。
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基本情報
被測定物の温度を、高速（10msec）・多チャンネル（8ch）にて測定し、リアルタイムにグラフ表示／データ集録ができる高速温度測定システムです。 付属のViewerを使用頂くことで、採取したデータをグラフィカルに解析する事が可能です。 高速サンプリングが可能ですので、熱シミュレーションとの整合確認や瞬時的な変化を計測する必要のある研究・工業用途に最適な評価システムです。 [特徴］ ●最新の式ハードウエアを中心としたシステム構成により設備の軽量／コンパクト化及び高い信頼性を実現 ●試験中に集録データをリアルタイム確認できるVIEWER付属 ●カスタム熱電対のご提案
価格情報
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納期
用途／実績例
・大手半導体メーカー様システム熱解析 ・TVメーカー様液晶TV研究開発 ・LEDチップ温度実測 ・各種組み込みシステム内部部品温度モニター
カタログ（2）
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企業情報
開発・設計会社として、半導体周辺回路と応用製品の開発・設計・評価 シミュレーション技術により、お客様の開発設計を促進しています。