スリット光を使って高さ深さを１μｍ単位で無接触測定をする光切断型測定顕微鏡
スリット光を使って高さ深さを１μｍ単位で無接触測定をする光切断型測定顕微鏡です。
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基本情報
【特徴】 ○投射スリット、落射照明、基準スリットの照明をハロゲンとファイバーの組み合わせに変更 ○照明のエリアとスポットの輝度が安定した状態で長時間の測定作業に適合 ○測定物の大型化に合わせて大きな試料台も積載
価格情報
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納期
~ 1ヶ月
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用途／実績例
【用途】 ○厚膜ＩＣの高さ測定 ○接着の為のシール剤の高さ測定 ○リードフレームピン先のバラツキ高さ変位 ○円盤上縁面の面取り高さ測定
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企業情報
設計からレンズ研磨・機械加工・組立調整までの一連をすべて自社で行っておりますので、オーダーメイドの光学装置も迅速かつ経済的に製作が可能です。
