超高速インタフェース、計測の課題と解決法 ～ USB3.0, PCI Express Gen3, SATA Gen3～
最も良い測定装置・測定方法・修理・メンテナンス・アップグレード・ 購入計画をユーザーと一緒になって考え提案しているレクロイジャパン社のET-WEST2009セミナー資料【超高速インタフェース、計測の課題と解決法】のご案内です。 組み込み総合技術展 AD-1発表資料 6月5日に大阪で開催された組み込み総合技術展のアナログ・トラックAD-1で弊社 プロダクト・マーケティング・マネージャが発表したセミナー資料です。 USB3.0、SerialATA3.0、PCI Express Gen3など最新の シリアル・インタフェース規格の動向と、 計測器に求められる解析機能などを解説しています。
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基本情報
• 高速インタフェースの要点 – USB3.0 (SuperSpeed)、SATA3.0、PCI Express Gen2を例として • 高速信号計測計測の課題 – USB3.0（SuperSpeed)信号の測定を例として
価格情報
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企業情報
テレダイン・レクロイ・ジャパン株式会社はTeledyne LeCroy Corporation （米国 ニューヨーク州）100%出資の子会社として1990年9月14日に 設立されました。 東京・大阪に営業部とサポート・センターを設置し、日本のお客様のニーズに お応えしています。 2001年11月16日にISO9001:2000を取得。 当社は、日本語の技術資料や解析ソフトウェア、技術セミナー等を無料で ご提供し、お客様の製品開発や問題解決に寄与していきたいと 願っております。
