電子部品・モジュールの製品一覧

  • 分類:電子部品・モジュール

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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  • その他搬送機械

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添加剤、洗浄剤、化学品、消臭・除菌剤類など製品企画から充填・加工・出荷までサポート!原料はあるが充填できる場所がないお悩みに

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  • そのほか消耗品
  • 加工受託

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150Wの小型高出力ヒーターにより、圧倒的な熱回復力を実現。鉛フリーはんだ対応。RoHS2対応/静電対策

  • はんだ付け装置
  • ハーネス
  • ケーブル

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樹脂やカーボン素材等、有機系の分析に強い装置を揃えました。

  • ダイオード
  • 受託測定
  • 複合材料

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非破壊分析サービス 2018年4月より開始のお知らせ

2018年4月2日、MSTは最新型の加工・分析装置を導入し非破壊分析サービスを開始します。電子デバイス・医薬品・食品の製品開発・品質管理など幅広い分野を対象に分析サービスを提供します。 非破壊分析は、製品を破壊することなく内部の状態を可視化する技術です。 今回MSTでは最新型の加工・分析装置を導入し、非破壊分析の実施が可能となりました。受託による分析サービスをご提供いたします。

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真空加熱/昇温により発生したガスを温度毎にモニターできる質量分析法。水素や水も感度よく確認

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  • その他受託サービス
  • 基板設計・製造

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PL分析(フォトルミネッセンス法)を追加しました

取り扱い製品一覧に、PL分析(フォトルミネッセンス法)を追加しました。 PL分析は物質に光を照射し、励起された電子が基底状態に遷移する際に発生する光を観測する方法です。 詳しい情報はカタログをご覧ください。

TOC計は、試料中の全炭素量 、全有機体炭素量、無機体炭素量(IC:を評価することができる装置です

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  • 基板設計・製造

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C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です。

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  • その他受託サービス
  • 基板設計・製造

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SiCデバイスの拡散層構造を可視化できます(拡散層構造の高感度評価)

  • 受託解析
  • トランジスタ

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シミュレーションによってアモルファス膜のミクロな構造解析が可能です

  • 受託解析
  • メモリ

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照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です

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