電子部品・モジュールの製品一覧

  • 分類:電子部品・モジュール

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電池の基本概念から、利用目的・実現方法による分類までを体系化。複雑な電池選定の第一歩を、初心者目線で分かりやすくまとめました

  • 電池・バッテリー
  • 技術書・参考書
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静電式により高い捕集率を実現。大型から小型まで豊富なラインアップを展開。水溶性オイルミストにも対応

  • small-mistcollector.png
  • 空調

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蓄電池製品の寿命、コスト、調達のお悩みを解決!

  • リチウムイオン電池

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150Wの小型高出力ヒーターにより、圧倒的な熱回復力を実現。鉛フリーはんだ対応。RoHS2対応/静電対策

  • はんだ付け装置
  • ハーネス
  • ケーブル

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樹脂やカーボン素材等、有機系の分析に強い装置を揃えました。

  • ダイオード
  • 受託測定
  • 複合材料

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hihakai_img.jpg

非破壊分析サービス 2018年4月より開始のお知らせ

2018年4月2日、MSTは最新型の加工・分析装置を導入し非破壊分析サービスを開始します。電子デバイス・医薬品・食品の製品開発・品質管理など幅広い分野を対象に分析サービスを提供します。 非破壊分析は、製品を破壊することなく内部の状態を可視化する技術です。 今回MSTでは最新型の加工・分析装置を導入し、非破壊分析の実施が可能となりました。受託による分析サービスをご提供いたします。

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真空加熱/昇温により発生したガスを温度毎にモニターできる質量分析法。水素や水も感度よく確認

  • 打ち合わせ.jpg
  • セミナー.jpg
  • 受託解析
  • その他受託サービス
  • 基板設計・製造

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名称未設定-1.jpg

PL分析(フォトルミネッセンス法)を追加しました

取り扱い製品一覧に、PL分析(フォトルミネッセンス法)を追加しました。 PL分析は物質に光を照射し、励起された電子が基底状態に遷移する際に発生する光を観測する方法です。 詳しい情報はカタログをご覧ください。

TOC計は、試料中の全炭素量 、全有機体炭素量、無機体炭素量(IC:を評価することができる装置です

  • 打ち合わせ.jpg
  • セミナー.jpg
  • 受託解析
  • その他受託サービス
  • 基板設計・製造

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C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です。

  • 打ち合わせ.jpg
  • セミナー.jpg
  • 受託解析
  • その他受託サービス
  • 基板設計・製造

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SiCデバイスの拡散層構造を可視化できます(拡散層構造の高感度評価)

  • 受託解析
  • トランジスタ

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シミュレーションによってアモルファス膜のミクロな構造解析が可能です

  • 受託解析
  • メモリ

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照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です

  • 打ち合わせ.jpg
  • セミナー.jpg
  • 受託解析
  • その他受託サービス
  • 基板設計・製造

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固体試料にイオンビームを照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱されてくるイオンのエネルギーおよび強度を測定する手法です

  • 打ち合わせ.jpg
  • セミナー.jpg
  • 受託解析
  • その他受託サービス
  • 基板設計・製造

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熱分解GC/MS法によりグラフェンの官能基の評価が可能

  • 受託解析
  • トランジスタ
  • 蓄電装置

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ディスクリートパッケージ内部の構造を非破壊で立体的に観察

  • サンプル内部構造.png
  • サンプル全景.png
  • サンプル外観.png
  • X線透過像.png
  • 開封後のサンプル内部構造.png
  • 受託解析
  • その他半導体

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デバイス特性に関わるトレンチ側壁の粗さを定量評価

  • 受託解析
  • その他半導体

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金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

  • 受託解析
  • メモリ

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複合解析により特定の有機成分の脱離について温度依存性評価が可能です

  • 受託解析
  • 2次電池・バッテリー
  • 液晶ディスプレイ

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電解液界面近傍の模式図や電解液中の溶媒和構造などを図を用いて詳しく掲載!

  • 負極との界面近傍におけるリチウム塩成分の分布2.png
  • 電解液中の溶媒和構造.png
  • 溶媒和構造.png
  • 負極の模式図.png
  • リチウムイオン電池

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ナノ材料に外力を加えた時の形状変化、歪みエネルギーの評価が可能

  • 初期構造.png
  • 歪みエネルギー.png
  • ab.png
  • 受託解析
  • その他
  • 2次電池・バッテリー

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TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

  • img_C0264_2.jpg
  • img_C0264_3_HO-Si-O.jpg
  • img_C0264_4_O-Si-O-Si-O.jpg
  • img_C0264_5_Si-N-Si.jpg
  • img_C0264_6_Si-Si.jpg
  • 受託測定
  • トランジスタ
  • メモリ

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最表面だけでなく、30nmの深部まで ~表面と材料内部の化学状態を同一箇所・非破壊で定量評価!~

  • 2次電池・バッテリー

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デバイス内部の異常を非破壊で評価します

  • 受託解析
  • その他電子部品
  • トランジスタ

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負極の断面構造・表面形状、活物質断面の元素マッピング像など複合的にアプローチ!

  • 2次電池・バッテリー
  • 受託測定

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めっきなどの膜中・界面の不純物をTOF-SIMSで評価できます。

  • img_c0638_2.jpg
  • ウエハー
  • 受託測定
  • その他半導体

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SEM-EDXによる形状観察及び簡易定量分析

  • img_C0736_2.jpg
  • 受託検査
  • ウエハー
  • その他半導体製造装置

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SiCデバイスの拡散層のp/n極性とキャリア濃度分布を評価できます

  • 受託解析
  • その他電子部品

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純水やウエハ洗浄液等、様々な溶液の高感度分析が可能です

  • 受託解析
  • ウエハー
  • 水質検査

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官能基の変化を捉えることで樹脂の硬化度を評価することが可能です

  • 受託解析
  • その他電子部品

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着目の成膜パラメータ(温度、圧力)にて多分子競合吸着性の評価が可能です

  • img_C0743_3.jpg
  • 受託解析
  • その他電子部品
  • メモリ

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