受託 分析・評価の製品一覧

  • 分類：受託 分析・評価

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【導入事例5選を収録！】バランサー　総合カタログ無料プレゼント

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株式会社パラマティック 株式会社パラマティック

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！

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安全柵　『SATECH』 【低コスト＆スピード施工！】

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SATECH株式会社 SATECH株式会社

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JIS・ISO規格の解説資料進呈。豊富な製品シリーズから好適な安全柵をご提案！デモキット無料貸出。

  • Satech - AdaptaGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
  • Satech - BlueGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
  • Satech - EasyGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
  • Satech - FastGuard_Ipros_2023_JP_2.jpg
  • Satech - ImpactGuard_Ipros_2023_JP_1.jpg
  • Satech - EasyGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_1.jpg
  • Satech - ImpactGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_2.jpg
  • Satech - AdaptaGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_1.jpg
  • Satech - BlueGuard_Ipros_2023_JP_Media-gallery_2.jpg
  • その他安全・衛生用品

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ウェーハベベル評価技術

ウェーハベベル評価技術

東芝ナノアナリシス株式会社 東芝ナノアナリシス株式会社

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感度・定量に特化したSIMS(D-SIMS)にて高精度に成分評価する手法を確立！

  • その他 分析・評価受託

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光電子分光による表面酸化膜の膜厚評価

光電子分光による表面酸化膜の膜厚評価

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Si基板上のSiO2表面酸化膜について、光電子分光から酸化膜厚を算出！

  • その他 分析・評価受託

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全反射HAXPESの応用事例

全反射HAXPESの応用事例

東芝ナノアナリシス株式会社 東芝ナノアナリシス株式会社

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全反射条件ではX線の侵入長が光電子の脱出深さよりも短くなるためHAXPESの検出深さはX線の侵入長で決まる！

  • その他 分析・評価受託

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変色した銅部材表面のXPS分析

変色した銅部材表面のXPS分析

東芝ナノアナリシス株式会社 東芝ナノアナリシス株式会社

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金属部材の変色部分の原因調査では、最表面状態の定性分析と表面酸化膜の厚さや深さ方向の分布などXPSによる評価が非常に有効！

  • その他 分析・評価受託

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SAXSによるDDS製剤高分子ミセルの粒子評価

SAXSによるDDS製剤高分子ミセルの粒子評価

東芝ナノアナリシス株式会社 東芝ナノアナリシス株式会社

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ナノ粒子の形状(球や楕円など)およびサイズ分布の算出が可能！

  • その他 分析・評価受託

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Ti酸化物(TiOx)の酸化状態評価

Ti酸化物(TiOx)の酸化状態評価

東芝ナノアナリシス株式会社 東芝ナノアナリシス株式会社

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さまざまな酸化チタンの酸化状態の比較評価を行った例もご紹介！

  • その他 分析・評価受託

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XPS分析の錠剤への応用

XPS分析の錠剤への応用

東芝ナノアナリシス株式会社 東芝ナノアナリシス株式会社

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極表面の化学組成・結合状態・価数などの情報を得ることができる！

  • その他 分析・評価受託

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高濃度層から下層膜への不純物拡散評価

高濃度層から下層膜への不純物拡散評価

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基板側からSIMS分析を行うバックサイドSIMS(Backside SIMS)についてご紹介！

  • その他 分析・評価受託

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二次イオン質量分析(SIMS)

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東芝ナノアナリシス株式会社 東芝ナノアナリシス株式会社

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質量分析計には、磁場型・四重極型・飛行時間型などの種類があり、分析の目的に応じて使い分けます！

  • その他 分析・評価受託

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金属部品における内部欠陥調査

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東芝ナノアナリシス株式会社 東芝ナノアナリシス株式会社

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内部欠陥の有無を試料にダメージを与えることなく確認できる！

  • その他 分析・評価受託

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金属表面の印刷層の評価

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東芝ナノアナリシス株式会社 東芝ナノアナリシス株式会社

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断面構造解析やTOF-SIMSによる深さ方向分析を実施！表面コート層から金属までの成分の分布状態や発色成分を確認可能

  • その他 分析・評価受託

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リートベルト解析によるX線回折データの定量分析

リートベルト解析によるX線回折データの定量分析

東芝ナノアナリシス株式会社 東芝ナノアナリシス株式会社

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二次電池の充放電過程における正極/負極材料の粒径・ひずみ量評価などの用途に！

  • その他 分析・評価受託

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高機能自動化SIMS

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半導体デバイスなどのプロセス開発や不良解析への迅速なフィードバックを行うことが可能！

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高温XRDによる極薄膜の結晶性評価

高温XRDによる極薄膜の結晶性評価

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温度条件による相変化・化学反応・格子定数の変化を知るために有効な手段！

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薄膜分析・評価

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構成元素の種類と量、膜質などを評価！複合的な分析をご提案いたします

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