受託 分析・評価の製品一覧

  • 分類:受託 分析・評価

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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JIS・ISO規格の解説資料進呈。豊富な製品シリーズから好適な安全柵をご提案!デモキット無料貸出。

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  • その他安全・衛生用品

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成分分析を行う際に、FT-IRとGC/MSをどのように使い分けるのかをご紹介!

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  • 受託解析
  • 成分分析

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有機物の成分分析(FT-IRとGC/MS)

当社の「有機物の成分分析」にはFT-IRやGC/MSがよく用いられます。 FT-IR測定では成分既知の物質のIRスペクトルと比較することによって 有機物の主成分を分析することが可能。 また、成分未知の物質の主成分だけではなく、添加剤等の微量に含まれる 有機物も分析したい場合にはGC/MS測定を行うことを推奨します。

GxP省令対応!査察関連の環境パラメータを一元管理する環境モニタリングシステム

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  • その他環境分析機器
  • 環境分析

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開発用の評価データを解析・分析! 設計へのフィードバックをサポートします。業務フローの改善提案も実施!

  • 組込みシステム設計受託サービス
  • その他 分析・評価受託
  • ビジネスインテリジェンス・データ分析

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検出深さが大きくなり、より深い領域の評価が可能になります!

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X線による物質への影響や耐性を評価するための手法!

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高い分解能で4インチ~6インチの大口径ウェーハ全面の欠陥評価を非破壊で可能!

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部品内部へ溜まった水分が熱ストレスにより気化!体積膨張する事により応力が発生

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赤外線加熱により、試料のみを加熱するため、低バックグラウンド化が可能!

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D-SIMSを用いてn-バッファ層厚・窒素(N)濃度を捉えることに成功!

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D-SIMSを用いてゲート酸化膜上層側からの不純物拡散を捉えることに成功!

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膜構造・組成情報があらかじめ分かれば、多層膜もシミュレーションにより評価可能!

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感度・定量に特化したSIMS(D-SIMS)にて高精度に成分評価する手法を確立!

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Si基板上のSiO2表面酸化膜について、光電子分光から酸化膜厚を算出!

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全反射条件ではX線の侵入長が光電子の脱出深さよりも短くなるためHAXPESの検出深さはX線の侵入長で決まる!

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金属部材の変色部分の原因調査では、最表面状態の定性分析と表面酸化膜の厚さや深さ方向の分布などXPSによる評価が非常に有効!

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