半導体製造装置の製品一覧
- 分類:半導体製造装置
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- オシロスコープ
JPV法により、非接触で、PNジャンクションのジャンクション・リーク、空乏層の容量評価、PN接合試料のシート抵抗を高速に測定!
- その他検査機器・装置
- 半導体検査/試験装置
世界唯一の分光エリプソメーター技術でのEP(光学式ポロシメーター)細孔率・細孔分布測定装置
- 半導体検査/試験装置
- その他計測・記録・測定器
- 分析機器・装置
u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります
- 半導体検査/試験装置
- その他計測・記録・測定器
- 分析機器・装置
大阪半導体製造装置の精密部品 ステンレス加工【コストダウンはフィリール株式会社にお任せください】
- その他半導体製造装置
- エッチング装置
- モールディング装置