半導体製造装置の製品一覧

  • 分類:半導体製造装置

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【アールエスコンポーネンツ】計測器、工具、受動部品など豊富な産業用製品のご購入は今がチャンス!※セール対象品カタログを無料進呈中

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  • オシロスコープ

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洗浄可能な、タッチレス(非接触)構造のバルブフィーダー!異物混入リスクを低減しました

  • フィーダー

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結晶欠陥測定装置 (光散乱断層撮影式)

  • 半導体検査/試験装置
  • その他電子計測器
  • 分析機器・装置

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インライン型ウェハー測定モジュール

  • 半導体検査/試験装置
  • その他電子計測器
  • 分析機器・装置

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JPV法により、非接触で、PNジャンクションのジャンクション・リーク、空乏層の容量評価、PN接合試料のシート抵抗を高速に測定!

  • その他検査機器・装置
  • 半導体検査/試験装置

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世界唯一の分光エリプソメーター技術でのEP(光学式ポロシメーター)細孔率・細孔分布測定装置

  • 半導体検査/試験装置
  • その他計測・記録・測定器
  • 分析機器・装置

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シリコンウェハー/ブロックのPN判定が瞬時に行えます

  • 半導体検査/試験装置
  • その他電子計測器
  • 分析機器・装置

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渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵抗を瞬時に測定

  • 半導体検査/試験装置
  • その他電子計測器
  • 分析機器・装置

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u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります

  • 半導体検査/試験装置
  • その他計測・記録・測定器
  • 分析機器・装置

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単結晶シリコンブロック用ライフタイム測定装置

  • 半導体検査/試験装置
  • その他計測・記録・測定器
  • 分析機器・装置

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ロールツーロール分光エリプソメータ

  • 半導体検査/試験装置
  • 距離関連測定器
  • 分光分析装置

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結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

  • 半導体検査/試験装置
  • その他計測・記録・測定器
  • 分析機器・装置

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2流体でウェーハを徹底洗浄します。

  • その他半導体製造装置

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大阪半導体製造装置の精密部品 ステンレス加工【コストダウンはフィリール株式会社にお任せください】 

  • その他半導体製造装置
  • エッチング装置
  • モールディング装置

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半導体製造装置の旋盤加工品 A5052 丸【コストダウンはフィリール株式会社にお任せください】

  • CVD装置

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ベトナム金属加工 アルミ加工 フライス加工【コストダウンはフィリール株式会社にお任せください】

  • エッチング装置

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半導体製造装置の精密部品 【コストダウンはフィリール株式会社にお任せください】

  • CVD装置

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