その他計測器の製品一覧
- 分類：その他計測器
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電池の基本概念から、利用目的・実現方法による分類までを体系化。複雑な電池選定の第一歩を、初心者目線で分かりやすくまとめました
- 電池・バッテリー
- 技術書・参考書
- 技術書・参考書
SIRCセンサ専用スマートフォンアプリがiPhoneに対応しました
式会社SIRCは、当社が提供するIoTセンサ専用アプリ 「SIRC センサ モニター」のiPhone対応版（iOSアプリ）を公開しました。 これまで本アプリはAndroid版のみの提供でしたが、 今回のリリースによりiPhoneでもご利用いただけるようになりました。 本アプリでは、各種IoTセンサから発信されるデータを受信し、 動作確認をスマートフォンで簡単に行うことができます。 また、本アプリは ・IoT電力センサユニット ・IoT角度センサユニット ・IoTデジタル入力ユニット など、SIRCの各種IoTセンサに対応しています。
SIRCセンサ専用スマートフォンアプリがiPhoneに対応しました
式会社SIRCは、当社が提供するIoTセンサ専用アプリ 「SIRC センサ モニター」のiPhone対応版（iOSアプリ）を公開しました。 これまで本アプリはAndroid版のみの提供でしたが、 今回のリリースによりiPhoneでもご利用いただけるようになりました。 本アプリでは、各種IoTセンサから発信されるデータを受信し、 動作確認をスマートフォンで簡単に行うことができます。 また、本アプリは ・IoT電力センサユニット ・IoT角度センサユニット ・IoTデジタル入力ユニット など、SIRCの各種IoTセンサに対応しています。
SEMICON JAPAN 2025 出展のご案内
弊社は2025年12月17日(水)より東京ビッグサイトで開催される 「SEMICON Japan 2025」 に出展いたします。（ブース番号：E4727） 本展示会では、日々進化を遂げる半導体製造プロセスの信頼性、半導体性能の向上に寄与する半導体産業専用アプリケーション及び非接触式測定器をご紹介します。 是非ブースへお立ち寄りの上、ご覧頂きたくご案内申し上げます。 ＜主な展示製品＞ ・ダイシング工程向けビジュアルブレード検査システム ブレードの高速位置決め、加工中のブレードのチッピング検出と摩耗検出が可能 ・非接触式高精度薄膜測定装置（インターフェロメトリ技術） 1μm未満の極薄ウエハまで、インライン制御、最終検査、ラボ試験装置として利用可能 ・非接触式高精度表面形状測定装置（クロマティックコンフォーカル技術） 様々な素材や反射面など、あらゆるタイプの表面素材に対し高い分解能で測定 ・加工中ウェーハ厚さ制御向け接触／非接触式厚さ測定ゲージ（インターフェロメトリ技術） ドライ/ウェット環境で、機械加工中のウェーハ厚さを精密に制御する接触型および非接触型ソリューション
半導体製造プロセスに関わる全ての方へ 迅速にプロセス汚染を特定する高い分離性能、確立された手法による分析事例をご紹介
- 分析機器・装置
- その他計測・記録・測定器
お客様のご要望により修正装置の搭載も可能！プロペラシャフト専用のバランシングマシン
- その他計測・記録・測定器
- その他工作機械
不釣り合いの測定と不釣り合い位置へのマーキングを行うタイヤAssy専用のバランシングマシンをご紹介！
- その他計測・記録・測定器
- その他工作機械
- その他マーキング
HPLC-CADとシングル四重極質量分析計により、ロット間比較やポリソルベート80の品質問題を検出可能！
- その他計測・記録・測定器
シングル四重極質量分析計とCADの組み合わせは、既知の不純物を同定し、未知不純物の分子量予測と推定構造を提案！
- その他計測・記録・測定器
シンプルで簡単操作、コンパクトなデザイン！オールインワンのNanoDropシステム
- その他計測・記録・測定器
- 分光分析装置
チップ製造のサイクルタイム短縮と高品質を実現！ウェーハ切断中のブレード監視用センサー
- その他計測・記録・測定器
- センサ
- ウエハー
SEMICON JAPAN 2025 出展のご案内
弊社は2025年12月17日(水)より東京ビッグサイトで開催される 「SEMICON Japan 2025」 に出展いたします。（ブース番号：E4727） 本展示会では、日々進化を遂げる半導体製造プロセスの信頼性、半導体性能の向上に寄与する半導体産業専用アプリケーション及び非接触式測定器をご紹介します。 是非ブースへお立ち寄りの上、ご覧頂きたくご案内申し上げます。 ＜主な展示製品＞ ・ダイシング工程向けビジュアルブレード検査システム ブレードの高速位置決め、加工中のブレードのチッピング検出と摩耗検出が可能 ・非接触式高精度薄膜測定装置（インターフェロメトリ技術） 1μm未満の極薄ウエハまで、インライン制御、最終検査、ラボ試験装置として利用可能 ・非接触式高精度表面形状測定装置（クロマティックコンフォーカル技術） 様々な素材や反射面など、あらゆるタイプの表面素材に対し高い分解能で測定 ・加工中ウェーハ厚さ制御向け接触／非接触式厚さ測定ゲージ（インターフェロメトリ技術） ドライ/ウェット環境で、機械加工中のウェーハ厚さを精密に制御する接触型および非接触型ソリューション
有線LAN地震計［センサ部］SU202 販売終了のお知らせ
この度、下記の製品の販売を終了いたしましたのでお知らせします。 販売終了製品 有線LAN地震計［センサ部］SU202 販売終了事由 部品入手困難となり、新たな製造ができないため 販売終了 2025年3月末にて終了しました 代替製品 有線LAN地震計［センサ部］SU301 本件お問い合わせ先 各営業担当者宛にお問い合せいただくか、お問い合わせフォームをご利用ください。
帯域幅は1527.8～1610.05nm！光システム試験、DWDMテストなどの用途で使用
- その他計測・記録・測定器