試験機器・装置の製品一覧
- 分類：試験機器・装置
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電池の基本概念から、利用目的・実現方法による分類までを体系化。複雑な電池選定の第一歩を、初心者目線で分かりやすくまとめました
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![[BGA対応！実装基板テスト] JTAGボードテストツール](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/b69/303096003/IPROS_16903476509175706000.jpg?w=280&h=280){kind=small}
JTAGテスト入門セミナー - 第238回 2016年12月 7日 水曜日
最近、組込み製品の基板が複雑化、高度化しており、改めて注目されている JTAGバウンダリスキャン・テストを分かり易く解説します！ 【セミナー内容】 1. JTAGバウンダリスキャンテスト概要 JTAGバウンダリスキャンアーキテクチャ紹介と活用される分野 2. JTAGバウンダリスキャンテストが登場した背景 LSIのパッケージの高密度実装にともなう変遷 BGAの実装不良と小型化・高密度化による課題 部品内蔵基板やTSV技術による3D LSI/2.5 LSIの概要 3. 実装基板の検査手法と特徴 各テスト手法が検出可能な故障タイプ インサーキットテスト / ファンクションテスト / X線検査 / 自動外観検査（AOI）との補完 4. JTAG ProVisionデモンストレーション 基板の実装検査を行う手順を実機のデモを交えて紹介します。 5. JTAGテストの国内導入企業と課題解決事例 開発現場での活用と開発期間短縮 製造現場での活用と検査コスト削減 サービス現場での活用と修理コスト削減
見えない・触れないピンのハンダ不良を検出！部品内蔵基板、TSV技術にも対応！
- 試験機器・装置
JTAGテストで未検査領域を減らし、お客様へ"安心”をご提供！
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JTAGテストで高密度実装における一貫した先進の検査体制を確立！
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BGA不具合箇所の統計データを製造にフィードバック！
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ソースコード付きサンプルソフトウエア標準付属、『手動探傷からロボットなどの自動探傷の開発を検討しませんか？』
- 探傷試験
