試験機器・装置の製品一覧
- 分類：試験機器・装置
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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！
- その他搬送機械
高い再現性の衝撃試験を実現。基礎工事が不要で、設置も省スペース。最大30,000G、作用時間0.1～60msec
- 衝撃試験
計装化落錘式衝撃試験機。材料からコンポーネントまで、シャルピー、アイゾット、打ち抜き、CAI試験(衝撃後圧縮）等幅広い試験に対応
- 衝撃試験
(無料）インストロンWEBセミナーシリーズ : コンポーネント試験という言葉をご存知ですか？ ～インストロンなら大型の完成部品でも試験ができます
【発表者】インストロンジャパン 材料試験機部門 山下 晋平 【セミナー内容要約】 “3点曲げ試験”というと静的に圧縮荷重をかけていく試験を想像すると思います。曲げ治具に供試体を設置し、一定の高さからタップ（打ち込み棒）を 落下させ衝撃を与えることで、動的な曲げ衝撃試験を実施することができます。また、これらの試験は薄板やダンベル試験片だけでなく、コンポーネント （完成部品）で試験をすることでより実際の使用環境に適した試験を実施することができます。本セミナーでは“3点曲げ”および“コンポーネント”の衝撃試験 についてご紹介いたします。 【セミナーご参加対象様例】 ・薄板やダンベル試験片だけでなく、大型の完成部品で試験を検討されている方 ・“3点曲げ衝撃試験”という言葉を初めて聞いた方 ・安全に大型な供試体の衝撃試験を実施し、衝撃の様子を観察したい方 ・インストロン9400シリーズ、Bluehill Impactソフトウェアをご検討のお客様
【導入事例】半導体バーイン装置（RF/DC）
発振しにくい治具を実現！試験条件設定、通電試験、データ取得まで全自動化が可能 当社では長年にわたり日本国内の大手半導体メーカ様へ、高周波パワーFET用通電装置の納入実績がございます。 開発新規デバイスの信頼性試験や生産ラインでの使用等、お客様の使用用途に合わせた各種機能に対して、自社でカスタム対応。 また、ますます小型、複雑化するデバイスパッケージに対応した治具に関しても、高周波コンポーネントの設計・製造メーカであるメリットを活かして、高周波特性を考慮したデバイス治具設計等、お客様のご要望に沿ったカスタマイズ設計と長期メンテナンスも承ります。 【事例概要】 ■導入先：FA（半導体試験設備） ■導入製品：半導体バーイン装置（RF/DC） ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
