試験機器・装置の製品一覧
- 分類：試験機器・装置
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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！
- その他搬送機械
2024/4/10（水）～2024/4/12（金）名古屋 ものづくり ワールド 2024出展のご案内
三和式ベンチレーター株式会社は、ポートメッセなごやで開催される 2024ものつくりワールド（名古屋）に出店いたします。 弊社も大型冷風機、涼暖ビエントの展示をおこないます。 日時：2024/4/10～2024/4/12 開場：AM10:00~ 場所：名古屋ポートメッセ（第１展示会場） ※弊社ブース：19-1 お時間が御座いましたら、ご来場頂ければ幸いです。
圧縮空気・ガスの漏れの「見える化」 圧縮エアー・ガスのリークを可視化することで、ガス漏れをすぐに検知することができます。
- その他計測・記録・測定器
- リーク試験装置
楠本化成株式会社 エタック事業部製品の掲載開始のお知らせ
イプロスサイトのアズサイエンスページにて、楠本化成株式会社 エタック事業部の製品掲載を開始をいたしました。 環境試験器・信頼性評価システムを掲載しております。 ここでは、注目製品のご紹介をいたします。 ■低温恒温恒湿器・低温恒湿器 HIFLEX NEO E 国内環境試験器メーカー初！フルラインナップで高GWP冷媒R-404Aの全廃を実現しました。 「安心・快適・手間いらず」をコンセプトとした新機能の数々が、業務負担の軽減とスムースな管理をいたします。 ○特長 ・水回路に強い ・一回の給水で85℃ 85％ ・1,000 時間連続運転が可能 ・独自のUV殺菌ランプが水質を維持 ・ユーザフレンドリー機構 ・省エネルギーと高性能を実現 詳細は製品ページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。 この他にも多数商品掲載しておりますので、アズサイエンスの特設サイトを是非ご覧ください。
HIFLEX NEO-Eの使いやすさと高い環境性能を継承しながらも ハイコストパフォーマンスを追求したベーシックモデル
- 恒温槽
ヨーロッパをはじめとする主要な自動車メーカやエレクトロニクス業界を中心とした国際的な熱衝撃試験規格に準拠しています。
- 試験機器・装置
カタログが新しくなりました！【JIS Z 2241】に準拠。油圧万能試験機『AY-S5/D5』または『YU-S5/D5』シリーズ
- 試験機器・装置
手作業の計測、テスト作業の自動化をサポートします！
- 試験機器・装置
Ｘ線検査では困難なハンダ不良やパターン不良の検出を可能にし、工数の削減や製造品質の向上を実現しました！
- 試験機器・装置
お客様のテスト、検証作業の自動化をスイッチの切り替えにより実現します(事例あり)
- 試験機器・装置
様々なハードウェアシミュレータ・モジュールを提供しております！
- 試験機器・装置
高い安全性が要求される車載機器の検査をJTAGテストで実現！
- 試験機器・装置
高性能・高品質な計測を支える JTAGバウンダリスキャンテスト！
- 試験機器・装置
開発初期の信頼性を向上させたJTAGバウンダリスキャンテスト！
- 試験機器・装置
![[BGA対応！実装基板テスト] JTAGテスト](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/9c7/2001167049/IPROS16571686840134820493.png?w=280&h=280){kind=small}
JPCA Show 2024 / 2024 マイクロエレクトロニクスショーに出展します
アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2024/6/12(水)～6/14(金)まで開催される「JPCA Show 2024 / 2024マイクロエレクトロニクスショー」に出展します。 【展示内容】 ・BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテスト ・半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューション ともに実機デモを実施いたしましますので、是非お立ち寄りください。 【出展ブース】 ・展示会名：2024 マイクロエレクトロニクスショー ・開催日時：2024年6月12日(水)～6/14日(金) 10:00～17:00 ・展示会場：東京ビッグサイト 東展示棟 ・小間番号：3B-35
![[BGA対応！実装基板テスト] JTAGボードテストツール](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/b69/303096003/IPROS_16903476509175706000.jpg?w=280&h=280){kind=small}
JTAGテスト入門セミナー - 第238回 2016年12月 7日 水曜日
最近、組込み製品の基板が複雑化、高度化しており、改めて注目されている JTAGバウンダリスキャン・テストを分かり易く解説します！ 【セミナー内容】 1. JTAGバウンダリスキャンテスト概要 JTAGバウンダリスキャンアーキテクチャ紹介と活用される分野 2. JTAGバウンダリスキャンテストが登場した背景 LSIのパッケージの高密度実装にともなう変遷 BGAの実装不良と小型化・高密度化による課題 部品内蔵基板やTSV技術による3D LSI/2.5 LSIの概要 3. 実装基板の検査手法と特徴 各テスト手法が検出可能な故障タイプ インサーキットテスト / ファンクションテスト / X線検査 / 自動外観検査（AOI）との補完 4. JTAG ProVisionデモンストレーション 基板の実装検査を行う手順を実機のデモを交えて紹介します。 5. JTAGテストの国内導入企業と課題解決事例 開発現場での活用と開発期間短縮 製造現場での活用と検査コスト削減 サービス現場での活用と修理コスト削減
見えない・触れないピンのハンダ不良を検出！部品内蔵基板、TSV技術にも対応！
- 試験機器・装置
JTAGテストで未検査領域を減らし、お客様へ"安心”をご提供！
- 試験機器・装置
JTAGテストで高密度実装における一貫した先進の検査体制を確立！
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