検査機器・装置の製品一覧

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• オシロスコープ

洗浄可能な、タッチレス(非接触)構造のバルブフィーダー！異物混入リスクを低減しました

• フィーダー

挟ピッチ対応P=0.2mmを実現！厳しい非磁性特性を求める現場で活躍。鉛フリーの電極に適した材料を使用しています。

• プローブ
• その他電子部品
• 検査治具

半導体検査で使用するプローブカードやICソケットでは新規製作をする場合が多いです。標準品プローブで採用できない問題を解決。

• プローブ
• その他電子部品
• 検査治具

前工程は後工程よりも挟ピッチ化、安定した電気的性能が求められます。プローブカードまでの製作も承ります！

• プローブ
• その他電子部品
• 検査治具

片側のプランジャーを中継基板の電極や中継ピンに接触させてコンタクトを取る！L=20mm～1.5mm、φ1mm～φ0.1mmまで

• プローブ
• その他電子部品
• 検査治具

・最大電圧300kVのX線発生器で炭素鋼 t=50ｍｍ程度の撮影が可能 ・検出範囲325ｍｍ×264ｍｍ

• その他検査機器・装置

高視野、高解像度、高コントラストな３次元透視画像で検査可能

• その他検査機器・装置

温度モニタリングとレーザ出力のフィードバック制御を用いたレーザ焼入れ

• その他検査機器・装置

高出力グリーンレーザによる銅の溶接

• その他検査機器・装置

非接触でのレーザビームの可視化とその連続計測が可能です。

• その他検査機器・装置

各国際規格に基づいた熱量計算にも対応！分解システム、冷却器、万能粉砕機などもラインアップ

• 検査治具
• その他検査機器・装置

コンタクトプローブ先端を外側に寄せることで、ピンの太さを変えずに、2点間のギャップを抑えられます。ピンピッチ間0.4mm～

• プローブ

マーカー本来としてのマーキング・刻印だけでなく、ワーク表面への微細な粗化加工も可能です。

• その他検査機器・装置

大電流測定においても大幅にプローブの性能を改善することが出来ました！ハウジングを含めて許容電流値を大きくすることもできます。

• プローブ

SUS材からもう1ランク上の300度耐熱のバネを使ったプローブも取り扱っています！

• プローブ

従来品のBeCuに比べて同等もしくはそれ以上なので摩耗性がネックになることも有りません

• プローブ