半導体・ICの製品一覧
- 分類：半導体・IC
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キャリブレーションもデバッグもポートひとつ。XCPのスマートな選択
- 開発支援ツール（ICE・エミュレータ・デバッガ等）
- ソフトウェア（ミドル・ドライバ・セキュリティ等）
- マイクロコンピュータ
「どのOSを使っていても」「仮想化されていても」、すべてのシステム構成に対して的確なデバッグができるツール
- 開発支援ツール（ICE・エミュレータ・デバッガ等）
- マイクロコンピュータ
- ソフトウェア（ミドル・ドライバ・セキュリティ等）
シミュレーター、エミュレーター、仮想ターゲット用デバッガ
- 開発支援ツール（ICE・エミュレータ・デバッガ等）
- マイクロコンピュータ
- ソフトウェア（ミドル・ドライバ・セキュリティ等）
デジタル信号とアナログ信号を記録し、プログラムの流れと関連付けることでタイパUp！
- 開発支援ツール（ICE・エミュレータ・デバッガ等）
- ソフトウェア（ミドル・ドライバ・セキュリティ等）
- マイクロコンピュータ
ミッドレンジ組込みシステム用コンパクトトレースツール
- 開発支援ツール（ICE・エミュレータ・デバッガ等）
- マイクロコンピュータ
- ソフトウェア（ミドル・ドライバ・セキュリティ等）
“PowerTrace”で、組込みシステムのリアルタイム性能に影響を与えることなく、異常な動作やタイミングのズレを検出可能
- 開発支援ツール（ICE・エミュレータ・デバッガ等）
- ソフトウェア（ミドル・ドライバ・セキュリティ等）
- マイクロコンピュータ
炊飯器、扇風機、ミキサーなどの家電製品補助電源回路に最適！ より少ない部品点数で小型化、低価格化に貢献！
- その他半導体
高性能降圧定電流LEDドライバ。VCCキャパシタとスタートアップ抵抗が不要で部品点数が非常に少ない回路構成！
- 専用IC
約150万点の市場調査データや製品の分解・コスト分析レポートを提供。競合分析、調達戦略、意思決定を強力にサポート
- その他半導体
添加剤の配合を極力制御した特殊工業用のOPPフィルムです。離型剤をコートせずに離型フィルムとして電子・光学分野で使用が可能です。
- その他光学部品
- その他半導体
世界中のOEMとエンドユーザー向けに、汎用とカスタマイズソリューションを提供
- LEDモジュール
- その他半導体
- 紫外線照射装置
防錆油の基礎講座・水溶性加工液の腐敗
講座内容 第１部 防錆油の基礎講座 第１章 錆と腐食の違い 錆や腐食の原因 第２章 防錆油とは 第３章 錆の実例 第2部 水溶性加工液の腐敗 第1章 水溶性加工液の種類 第2章 水溶性加工関の腐敗の原因 第3章 主な腐敗によるメカニズム 第１部では、防錆油の基礎知識ほか実践に役立つ知識を、 第2部では、水溶性加工液の種類から腐敗のメカニズムまで イラストや実験動画を交えてわかりやすくご紹介する盛沢山の45分間。 最後には質疑応答にてお悩みに直接お答えいたします！ 梅雨時期と夏季休暇前の防錆対策を紹介します！
FFCでEZ-USB FX3 FPGAに接続できるBT.1120カメラモジュールが含まれています！
- その他半導体
すべてのマイコン/MPUのプラットフォームに対応！スマートビルやヘルスケアなど様々なアプリケーションに対応
- その他半導体
2つのディスクリートパッケージを置き換えることで、基板上の電源部を少なくとも50％縮小することが可能！
- その他半導体
Vgs(th)のばらつきを抑え、並列接続能力を向上させることにより、スケーリングが容易になり、電力出力が向上！
- その他半導体
LTE/LTE-Advanced、4G、5Gアプリケーションに好適！低消費電力動作を実現
- その他半導体
TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析、結晶構造の解析等や材料評価の幅広い要求にお応えします。
- 受託解析
- その他半導体
- その他受託サービス
Talos F200E導入のお知らせ
当社では、透過型電子顕微鏡システム FEI製「Talos F200E」を導入します。 従来機と比べTEM・STEMの分解能が向上し、4本の検出器でEDS分析が可能に なるなど性能が大幅に強化されます。 また、ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算する、ドリフト補正 フレーム積算(DCFI)なども搭載しております。
Talos F200E導入のお知らせ
当社では、透過型電子顕微鏡システム FEI製「Talos F200E」を導入します。 従来機と比べTEM・STEMの分解能が向上し、4本の検出器でEDS分析が可能に なるなど性能が大幅に強化されます。 また、ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算する、ドリフト補正 フレーム積算(DCFI)なども搭載しております。
Talos F200E導入のお知らせ
当社では、透過型電子顕微鏡システム FEI製「Talos F200E」を導入します。 従来機と比べTEM・STEMの分解能が向上し、4本の検出器でEDS分析が可能に なるなど性能が大幅に強化されます。 また、ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算する、ドリフト補正 フレーム積算(DCFI)なども搭載しております。
数枚の試作加工でも問題無く受け付けており、マスクの設計から断面の寸法測定に至るまで、非常に柔軟な対応に定評があります。
- ウエハー
- ウエハ加工/研磨装置
- 加工受託
マイクロプロセッサーのDAPインターフェイスを介して、ECUと効率的に通信を行う、高速ECUインターフェイスです。
- その他電子部品
- その他ネットワークツール
- マイクロコンピュータ
異種材料が混在する半導体基板の平坦化について、お客様のニーズに対応したCMPスラリーをご提供することが可能です。
- その他半導体
ステッピングモータとロータリエンコーダによるクローズドループ制御で高精度の把持力、位置、速度制御を達成した電動グリッパ。
- その他半導体
- スカラロボット
- 搬送・ハンドリングロボット