顕微鏡・マイクロスコープの製品一覧

  • 分類:顕微鏡・マイクロスコープ

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電池の基本概念から、利用目的・実現方法による分類までを体系化。複雑な電池選定の第一歩を、初心者目線で分かりやすくまとめました

  • 電池・バッテリー
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静電式により高い捕集率を実現。大型から小型まで豊富なラインアップを展開。水溶性オイルミストにも対応

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  • 空調

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ナノレベルのダイナミクスの高速3D/4Dイメージング測定を実現!

  • MEMS_550x550pix.jpg
  • MEMS-2_550x550pix.jpg
  • インライン_550x550pix.jpg
  • 液滴乾燥_550x550pix.jpg
  • 摩耗試験_550x550pix.jpg
  • 電子顕微鏡
  • 光学顕微鏡
  • 三次元測定器

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弊社が得意とする【半導体分野向けソリューション】をお客様に合わせてご提案致します!

  • FusionScope_all_with logo.png
  • DriveAFM_with logo.png
  • DHM-R with logo.png
  • neaSCOPE_image_with logo.png
  • dmo with logo.png
  • logo_allresist_en.png
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • レジスト装置
  • 半導体検査/試験装置

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今年度、新たに追加導入!基本的な3つの測定法の特長を紹介します

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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FTIR+EDX.png

FT-IRとEDXによる有機・無機複合材の分析

FT-IRとSEM-EDXを用いて有機・無機複合材の分析を行った例をご紹介します。 ペットボトルラベル表面の光沢がある部分と無い部分におけるFT-IR測定を 行い、光沢部分と光沢の無い部分ではIRスペクトルが異なりました。 光沢の無い部分はアクリル樹脂のスペクトルと類似することから主成分としては アクリル樹脂であると考えられます。 また、光沢がある部分と無い部分におけるSEM-EDX測定を行い、EDXスペクトル と反射電子像を得たところ、光沢の無い部分は光沢部分と異なり硫黄(S)、 バリウム(Ba)が検出されました。

FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。

  • 受託解析
  • その他受託サービス
  • 電子顕微鏡

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?3D reconstruction.PNG

パワーデバイス故障箇所・Slice&View 三次元再構築

FIB-SEMのSlice&View機能を用いた、故障箇所の三次元再構築について ご紹介いたします。 構造物の連続SEM画像を取得し、得られた像を三次元構築ソフト(Avizo)で、 SEM画像間のパターンの位置ズレを補正し立体的に可視化。 故障箇所に対して断面出しをする位置特定技術とSlice&View機能を 組み合わせることで不良状態を保持して異常部前後の情報を含めた 連続SEM画像を取得することができます。

リチウムイオン電池や全固体電池の作製において重要な管理項目の測定事例をご紹介!

  • レーザー顕微鏡
  • その他計測・記録・測定器

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BET法による粉末ゼオライトの比表面積測定

当社では、BET法による粉末ゼオライトの比表面積測定を行っております。 粉末ゼオライト以外にも触媒や活性炭などの比表面積測定にも使用でき、 その他のアプリケーションを使用することで比表面積測定だけでなく、 細孔分布測定も可能。 また、本件の装置・方法以外で粒径や細孔分布を評価可能です。 詳細についてはカタログでご紹介しておりますので、ぜひご活用ください。

試料の観察や元素分析が可能!半導体、電子部品分野のみならず、ライフサイエンス、生物分野でも活用できます

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  • 電子顕微鏡

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FT-IRとEDXによる有機・無機複合材の分析

FT-IRとSEM-EDXを用いて有機・無機複合材の分析を行った例をご紹介します。 ペットボトルラベル表面の光沢がある部分と無い部分におけるFT-IR測定を 行い、光沢部分と光沢の無い部分ではIRスペクトルが異なりました。 光沢の無い部分はアクリル樹脂のスペクトルと類似することから主成分としては アクリル樹脂であると考えられます。 また、光沢がある部分と無い部分におけるSEM-EDX測定を行い、EDXスペクトル と反射電子像を得たところ、光沢の無い部分は光沢部分と異なり硫黄(S)、 バリウム(Ba)が検出されました。

微細なクラックが見やすい!導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ます

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  • 受託検査

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マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察することができます!

  • マイクロスコープ
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  • 受託測定

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非破壊にて観察が可能!内部状態、密着性状態の不具合検出に威力を発揮!

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ

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太陽電池の潜在欠陥を鮮明に写しだす業界実質標準、EL 画像 検査装置PVX330

  • マイクロスコープ
  • 画像解析ソフト
  • 欠陥検査装置

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明視野モードと通常/標準モードの断面観察などを掲載しています!

  • 電子顕微鏡
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微小プローブによる高分解能でのイメージング!ナノレベルの構造解析を実現いたします

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人気商品のガス圧式アームスタンドF10の後継機種です。鏡筒の回転機構が加わり、より自由度の高い観察が可能となりました。

  • 光学顕微鏡

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試料を水平方向から観察するためのユニークな顕微鏡用スタンド

  • 光学顕微鏡

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