受託サービスの製品一覧
- 分類：受託サービス
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自動車関連部品・農機・建機・工場設備などの工業製品に対する疲労耐久や信頼性評価試験サポート！
- 強度試験装置
- 受託測定
長年の製品開発ノウハウ！定常試験だけでなく特殊で難易度の高い測定や評価をサポートします
- 受託測定
【展示会出展】2026年1月21日(水)～ オートモーティブワールドに出展します
この度、東京ビッグサイトにおいて開催されます「第18回オートモーティブワールド」の 「第18回カーエレクトロニクス技術展 (テスティングゾーン)」に出展する運びとなりました。 オートモーティブ ワールドは、クルマの先端テーマの最新技術が一堂に出展します。 その中で、「国際カーエレクトロニクス技術展」は、カーエレクトロニクスの進化を支える半導体・電子部材、ソフトウェア、テスティング技術などが一堂に出展する本分野 世界最大の専門展として開催されます。 弊社からは、 マグナパワートレインのエンジニアリングサービスと解析ソフトウェア製品を展示いたします。 具体的には、車両エンジニアリング、代替推進システム、シミュレーションサービス、およびフルレンジのテスト/試験サービス といったお客様の技術課題を一緒に解決していく受託サービスと、 CAEソフトウェア主力製品である「疲労寿命予測解析ソフトウェアFEMFAT」をはじめ、新たにリリースされた「PCBAの強度解析ソフトウェア FEMFAT MELCOM」など、4つの製品をご紹介いたします。 是非、マグナブースへお立ち寄りください。
欧州の開発現場で培った経験とノウハウで、CAEから試作、評価まで、様々なニーズにお応えします！【※事例集を無料プレゼント】
- 受託測定
- その他受託サービス
- 受託解析
【展示会出展】2026年1月21日(水)～ オートモーティブワールドに出展します
この度、東京ビッグサイトにおいて開催されます「第18回オートモーティブワールド」の 「第18回カーエレクトロニクス技術展 (テスティングゾーン)」に出展する運びとなりました。 オートモーティブ ワールドは、クルマの先端テーマの最新技術が一堂に出展します。 その中で、「国際カーエレクトロニクス技術展」は、カーエレクトロニクスの進化を支える半導体・電子部材、ソフトウェア、テスティング技術などが一堂に出展する本分野 世界最大の専門展として開催されます。 弊社からは、 マグナパワートレインのエンジニアリングサービスと解析ソフトウェア製品を展示いたします。 具体的には、車両エンジニアリング、代替推進システム、シミュレーションサービス、およびフルレンジのテスト/試験サービス といったお客様の技術課題を一緒に解決していく受託サービスと、 CAEソフトウェア主力製品である「疲労寿命予測解析ソフトウェアFEMFAT」をはじめ、新たにリリースされた「PCBAの強度解析ソフトウェア FEMFAT MELCOM」など、4つの製品をご紹介いたします。 是非、マグナブースへお立ち寄りください。
コネクタ等の金めっき端子表面が変色した、もしくは異物が付着している場合、 金めっきが腐食している可能性があります。
- その他受託サービス
- 受託解析
- 受託検査
パワーデバイスの逆バイアス試験（最大2000V）
株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の 高温逆バイアス試験（HTRB）が最大2000Vまで印加できます。 試験中のリーク電流のモニタリングにより､リアルタイムでデバイスの 劣化状況が把握可能｡電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。 また、不良基準（電流値）の設定が可能で不良判定デバイスの電源を 不良判定時に遮断することができます。 【仕様・サービス内容】 ■試験電圧：最大DC2000Vまで印加可能 ■印加電流：最大14mA ■試験数量：最大8個（電源独立） ■対応モジュール：TO-247､TO-220 等（その他のパッケージは接続方法など要相談） ■測定内容：リーク電流のモニタリング ■温度範囲：最大200℃（高温高湿の場合85℃/85％）
TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析、結晶構造の解析等や材料評価の幅広い要求にお応えします。
- 受託解析
- その他半導体
- その他受託サービス
Talos F200E導入のお知らせ
当社では、透過型電子顕微鏡システム FEI製「Talos F200E」を導入します。 従来機と比べTEM・STEMの分解能が向上し、4本の検出器でEDS分析が可能に なるなど性能が大幅に強化されます。 また、ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算する、ドリフト補正 フレーム積算(DCFI)なども搭載しております。
CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性を評価する、ラッチアップ試験サービスをご提供いたします。
- 受託検査
- その他受託サービス
- その他検査機器・装置
海外製部品・製品の中には品質上問題のあるものも含まれています。これらに対して信頼性試験・評価試験の品質評価サービスを提供します。
- 受託検査
- 試験機器・装置
- その他検査機器・装置
冷却(クライオ)イオンミリング断面加工例(ゴム製品)
プルバックカーのタイヤの接着部について、手法別に断面を作製し 観察した事例をご紹介いたします。 作製した断面のSEM観察を実施するとゴム内部に存在しているフィラーが 確認されました。液体窒素による割断や機械研磨では大小のフィラーの 分散状態や接着界面の様子が明瞭でないことがわかりました。 なお、冷却(クライオ)イオンミリングによって作製された断面ではゴム内に 含まれるフィラーの分散状態やプラスチック基材との接着界面の様子を明瞭に 観察することができます。
FT-IRとEDXによる有機・無機複合材の分析
FT-IRとSEM-EDXを用いて有機・無機複合材の分析を行った例をご紹介します。 ペットボトルラベル表面の光沢がある部分と無い部分におけるFT-IR測定を 行い、光沢部分と光沢の無い部分ではIRスペクトルが異なりました。 光沢の無い部分はアクリル樹脂のスペクトルと類似することから主成分としては アクリル樹脂であると考えられます。 また、光沢がある部分と無い部分におけるSEM-EDX測定を行い、EDXスペクトル と反射電子像を得たところ、光沢の無い部分は光沢部分と異なり硫黄(S)、 バリウム(Ba)が検出されました。