受託サービスの製品一覧
- 分類：受託サービス
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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！
- その他搬送機械
2024/4/10（水）～2024/4/12（金）名古屋 ものづくり ワールド 2024出展のご案内
三和式ベンチレーター株式会社は、ポートメッセなごやで開催される 2024ものつくりワールド（名古屋）に出店いたします。 弊社も大型冷風機、涼暖ビエントの展示をおこないます。 日時：2024/4/10～2024/4/12 開場：AM10:00~ 場所：名古屋ポートメッセ（第１展示会場） ※弊社ブース：19-1 お時間が御座いましたら、ご来場頂ければ幸いです。
DMA測定の結果から材料の長期変形(クリープ測定)の結果を予測可能です。通常長時間かかる評価に活かせます
- ゴム
- 受託解析
- 受託解析
バイオコンパチブル機能とリアルタイムバイオプロセスモニタリングにより、PAT、プロセス制御、自動化・リモート化をサポート
- 分析機器・装置
- 分離装置
- 受託解析
PAT 動向と新製品 Infinity III Bio LC による最先端のバイオ医薬品分析【INTERPHEX オンラインカンファレンス 2024】
講演内容：Bio オンラインLCの活用により、反応やバイオプロセスを可視化し、全自動で経時変化をとらえられる。一方、LCによるルーチン分析の自動化、負担軽減はラボ効率化につながる。ユーザーをアシストする最新HPLCによって、未来のラボ、DXを実現する。
試作段階から製品要求仕様や量産工程を考慮した設計提案を行います！ FPC
- 基板設計・製造
- 製造受託
- 受託解析
開発技術担当者様に寄り添い、更なる開発力向上の為の提案・支援を致します！ FPC
- 基板設計・製造
- 製造受託
- 受託解析
地震や地盤沈下によって生じた床の沈下。沈下修正の専門家アップコンが既設床を壊さずに短工期で修正します！全国3000件以上の実績！
- 受託測定
FIB装置でシリコン基板上に高精度のパターン形成を行えます。マスクレスで可能なので試作に最適です。
- 受託解析
- プリント基板
- 加工受託
FIBで微小対象物(例えばICコンタクト部)の任意箇所、ここという場所を狙って断面を作製できます
- 受託解析
- 加工受託
- その他コネクタ
繰り返し伸縮可能で、変形に追従できるフレキシブル基板です。 FPC
- 基板設計・製造
- 製造受託
- 受託解析
高性能の3Dスキャナー使用！ 点群データ取得後、3Dモデル製作、施工図・製作図作成、鋼構造物の製作、改修までワンストップ！
- 受託測定
Niめっきの膜厚や濃度測定、表面汚染レベル測定などXPS、AES、GD-OES各装置での表面分析および測定事例をご紹介します
- その他計測・記録・測定器
- 受託解析
- 表面処理受託サービス
一般的に難しい低温度域でも材料の融解、ガラス転移、結晶化、熱硬化等の転移状況を観測できます
- ゴム
- 受託解析
- 解析サービス
クライオミクロトームとAFMで軟らかい高分子材料の各種高分解能観察が可能です
- その他高分子材料
- 受託解析
- ゴム
知りたい情報によりTG-DTAの測定雰囲気を正しく選ぶ必要があります。当社は適切に選定し測定いたします
- 複合材料
- 受託解析
- 受託解析
引張試験/硬さ試験/成分分析/組織観察 試験片準備からアフターフォローまで Nadcap認証を取得
- 受託検査
【初出展】「人とくるまのテクノロジー展2023 NAGOYA」へ出展致しました！
2023年7/5～7/7 Aichi sky expo［愛知県国際展示場］にて行われた人とくるまのテクノロジー展2023 NAGOYAへ出展致しました！ 人とくるまのテクノロジー展は、毎年自動車にまつわる部品や、材料、CAEソリューション、カーエレクトロニクスなどの 様々な分野の企業が出展しています。 この度、弊社は受託業務をメインとして出店致しました。 人とくるまのテクノロジー展は初の出展となります！ 会場には、砂型３Dプリンターで作成した中子を展示致し、たくさんの方に興味を持っていただけました。 ご来場いただき、ありがとうございました。
硬化特性解析や測定方法など！DSC、TG、DMA、TMAによる事例を多数ご紹介。詳細は資料をダウンロードしてご確認願います
- 受託解析
- その他高分子材料
- プラスチック
FIB-SEM装置で表面からは分かりづらいめっき層内の異常個所を観察でき、Slice&View機能により異常の起点発見も可能です
- 受託解析
- めっき装置
- その他金属材料
YouTubeに動画『FIBによるめっき不良のSlice&Viewおよび3D構築』をアップしました。
集束イオンビーム(Focused Ion Beam：FIB)装置は、集束したイオンビームを試料に照射し、加工や観察を行う装置です。 また、FIB-SEMは高解像度のFE-SEM（電界放出形電子顕微鏡）を搭載しており、高分解能での観察と加工が同時に行えるのが特長です。 本動画はFIB-SEM(サーモフィッシャーサイエンティフィック社製：Helios5 CX)でSlice & Viewおよび3D構築の機能を使い『めっき不良の状況』を観察したものです。 Slice & Viewにより不良の起点から広がる様子、3D構築により不良の形状が確認できています。
ピカリング製スイッチとLabVIEWを組み合わせたファンクションテスター
- 試験機器・装置
- 半導体検査/試験装置
- 受託検査