テスタの製品一覧

  • 分類:テスタ

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100万回繰り返しても壊れない!確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

  • センサ

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直径30mm程度から8インチ、高ライフタイム、1万オームを超えるような高抵抗も対応可能!薄化、チップ加工もアレンジいたします!

  • その他半導体
  • 加工受託
  • ウエハー

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PCIeケーブルBERTと3.2Tロードマップを初公開。1.6T対応BERT・DCA、高精度SMUも実機デモ展示。

  • オシロスコープ
  • テスタ

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【2026年4月22日(水)~24日(金)】「OPIE ’26(OPTICS PHOTONICS International Exhibition 2026)」出展のお知らせ

当社は、パシフィコ横浜で開催される「OPIE ’26(OPTICS PHOTONICS International Exhibition 2026)」に出展いたします。 当社ブースでは、PXIe/ベンチトップSMUと1.6T対応DCA/BERTを実機デモ展示。 LDテスト(Chip Tester:ダイ、CoC Tester:CoC、CoCバーンイン)をはじめ、 CPO(PIC/OEハンドラ)、PCIe高速ケーブルBER、WAT/WLRまで用途別に提案します。 また、3.2Tロードマップもご紹介いたしますので、ぜひご来場ください。

Per-Pinアーキテクチャ採用で従来のシリアルテスタと比較して50%以上高いスループットを実現!

  • テスタ

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Yonata Electronics株式会社、OPIE ’26に出展お知らせ

Yonata Electronics株式会社は、2026年4月22日(水)~24日(金)にパシフィコ横浜で開催される「OPIE ’26」に出展いたします。PXIe/ベンチトップSMU、1.6T対応DCA/BERTの実機デモをはじめ、LDテスト、CPO、PCIe高速ケーブルBER、WAT/WLRなど、光通信・シリコンフォトニクス・半導体向けの各種テストソリューションをご紹介いたします。皆様のご来場を心よりお待ちしております。 【見るポイント 】 ・1.6T光トランシーバー評価ソリューション実機DEMO ・PCIe高速ケーブルBERテスター 初公開 ・高精度SMU 実機デモ ・AIデータセンター向けCPOソリューションおよびLD評価提案を展示 【展示会出展情報】 ■会場:パシフィコ横浜 ■日時:2026年04月22日(水) ~ 2026年04月24日(金) ■住所:〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1 ■ブース:K-14 詳細はここにご参照ください。 https://www.opie.jp/2026/list/info.php?id=5296&ex=

8インチから12インチまでのウェーハに対応した高性能ウェーハレベルテストシステム!

  • テスタ

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Yonata Electronics株式会社、OPIE ’26に出展お知らせ

Yonata Electronics株式会社は、2026年4月22日(水)~24日(金)にパシフィコ横浜で開催される「OPIE ’26」に出展いたします。PXIe/ベンチトップSMU、1.6T対応DCA/BERTの実機デモをはじめ、LDテスト、CPO、PCIe高速ケーブルBER、WAT/WLRなど、光通信・シリコンフォトニクス・半導体向けの各種テストソリューションをご紹介いたします。皆様のご来場を心よりお待ちしております。 【見るポイント 】 ・1.6T光トランシーバー評価ソリューション実機DEMO ・PCIe高速ケーブルBERテスター 初公開 ・高精度SMU 実機デモ ・AIデータセンター向けCPOソリューションおよびLD評価提案を展示 【展示会出展情報】 ■会場:パシフィコ横浜 ■日時:2026年04月22日(水) ~ 2026年04月24日(金) ■住所:〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1 ■ブース:K-14 詳細はここにご参照ください。 https://www.opie.jp/2026/list/info.php?id=5296&ex=

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Yonata Electronics株式会社、OPIE ’26に出展お知らせ

Yonata Electronics株式会社は、2026年4月22日(水)~24日(金)にパシフィコ横浜で開催される「OPIE ’26」に出展いたします。PXIe/ベンチトップSMU、1.6T対応DCA/BERTの実機デモをはじめ、LDテスト、CPO、PCIe高速ケーブルBER、WAT/WLRなど、光通信・シリコンフォトニクス・半導体向けの各種テストソリューションをご紹介いたします。皆様のご来場を心よりお待ちしております。 【見るポイント 】 ・1.6T光トランシーバー評価ソリューション実機DEMO ・PCIe高速ケーブルBERテスター 初公開 ・高精度SMU 実機デモ ・AIデータセンター向けCPOソリューションおよびLD評価提案を展示 【展示会出展情報】 ■会場:パシフィコ横浜 ■日時:2026年04月22日(水) ~ 2026年04月24日(金) ■住所:〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1 ■ブース:K-14 詳細はここにご参照ください。 https://www.opie.jp/2026/list/info.php?id=5296&ex=

万能型ボンドテスターDAGE4000がデザインも一新され、より高精度により多機能になって、生まれ変わりました!

  • テスタ

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各種半導体部品・電子部品の組立工程や基板への実装工程における様々な接合強度試験に一台で対応できる!

  • テスタ

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航空機整備の信頼性を支える、リークテスター

  • 校正・修理
  • テスタ
  • その他計測・記録・測定器

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優れた安定性と作業時間の時短を追求したミドルレンジモデル

  • テスタ
  • 基板検査装置

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優れた安定性と作業時間の時短を徹底的に追求したハンドラ

  • テスタ
  • 基板検査装置

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AI開発におけるICテストの効率化を支援するミドルレンジハンドラ

  • テスタ
  • 基板検査装置

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  • テスタ
  • 基板検査装置

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小型家電製品のICテストを効率化、高品質を両立。

  • テスタ
  • 基板検査装置

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自動車部品の信頼性を支える、高速・高精度ICテストハンドラ

  • テスタ
  • 基板検査装置

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優れた安定性と作業時間の時短を徹底的に追求したミドルレンジハンドラ

  • テスタ
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  • テスタ
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