半導体検査/試験装置の製品一覧

  • 分類:半導体検査/試験装置

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100万回繰り返しても壊れない!確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

  • センサ

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直径30mm程度から8インチ、高ライフタイム、1万オームを超えるような高抵抗も対応可能!薄化、チップ加工もアレンジいたします!

  • その他半導体
  • 加工受託
  • ウエハー

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バリューインパクトの自社ブランド「PressVac(プレスバック)」より高純度ガス用圧力トランスミッターが発売されました。

  • 半導体検査/試験装置

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高機能SoC/Analogテストシステム 優れたマルチメディアオーディオ/ ビデオチップテストを実現

  • 半導体検査/試験装置

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超低温(-70℃)対応ハンドラ、SLT対応

  • 半導体検査/試験装置

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ハンドラと組み合わせ自由の温度コントロールユニット

  • 半導体検査/試験装置

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2光子リソグラフィおよび半導体検査のためのフェムト秒ファイバーレーザー

  • 半導体検査/試験装置

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コンクリート構造物をより長く・より美しく!

  • 半導体検査/試験装置

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既存の光学顕微鏡やマイクロスコープに後付け可能(パッチクランプ法、ナノマニピュレーション、マイクロサンプリング)

  • 半導体検査/試験装置
  • その他

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発振しにくい治具を実現!試験条件設定、通電試験、データ取得まで全自動化が可能

  • 半導体検査/試験装置
  • 恒温槽

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【導入事例】半導体バーイン装置(RF/DC)

発振しにくい治具を実現!試験条件設定、通電試験、データ取得まで全自動化が可能 当社では長年にわたり日本国内の大手半導体メーカ様へ、高周波パワーFET用通電装置の納入実績がございます。 開発新規デバイスの信頼性試験や生産ラインでの使用等、お客様の使用用途に合わせた各種機能に対して、自社でカスタム対応。 また、ますます小型、複雑化するデバイスパッケージに対応した治具に関しても、高周波コンポーネントの設計・製造メーカであるメリットを活かして、高周波特性を考慮したデバイス治具設計等、お客様のご要望に沿ったカスタマイズ設計と長期メンテナンスも承ります。 【事例概要】 ■導入先:FA(半導体試験設備) ■導入製品:半導体バーイン装置(RF/DC) ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

自社技術と世界の技術を応用展開!お客様の新製品の開発や生産性の向上に貢献

  • 試験機器・装置
  • 外観検査装置
  • 半導体検査/試験装置

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多数個同測に対応したプロービングを実現!ダイシング後の位置ずれを補正

  • プローブ
  • 半導体検査/試験装置

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大電流/高電圧プロービングが可能!ウェハ両面(ダブルサイド)へのコンタクトを実現

  • プローブ
  • 半導体検査/試験装置

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7×5mmサイズで高精度なSCカット・OCXOです。±20ppb(-40~+85℃)の高安定・固定周波数タイプ。標準在庫品。

  • 半導体検査/試験装置
  • 電力監視機器
  • 時間・周波数測定

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14×9mmサイズで高精度なSCカット・OCXOです。±10ppb(-40~+85℃)の高安定・固定周波数。標準在庫品。

  • 半導体検査/試験装置
  • その他半導体製造装置
  • その他電子部品

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9×7mmサイズのSCカットOCXOです。周波数=50MHz。±20ppb(-40~+85℃)の高安定・VC調整端。標準在庫品。

  • 発振子
  • その他FA機器
  • 半導体検査/試験装置

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多くのオプションを用意!工業用途やメディカル、一般理化学用途等にお使い頂けます!

  • 半導体検査/試験装置
  • その他電子部品
  • 検査治具

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