半導体検査/試験装置の製品一覧

  • 分類:半導体検査/試験装置

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本機械はφ8”シリコン製ウエハの厚さ測定を行う装置です

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  • その他半導体製造装置

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本機械は、半導体製造工程でφ8”ウェハのマクロ検査及びミクロ検査を行う装置です

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剥離洗浄したウェーハを乾燥する装置です

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φ8インチシリコンウェーハの外観目視検査を行う半自動装置です

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  • その他半導体製造装置

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石英マスクの表裏面目視検査を行うための治具です

  • 半導体検査/試験装置
  • その他半導体製造装置

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φ8インチシリコンウェーハの外観目視検査と厚さ測定を行う装置です

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  • その他半導体製造装置

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ウェーハのマクロ検査及び、顕微鏡によるミクロ検査を行う装置です

  • 半導体検査/試験装置
  • その他半導体製造装置

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ポリッシュ加工後のウェーハの表面検査をする装置です

  • 半導体検査/試験装置
  • その他半導体製造装置

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φ300 mmシリコンウェーハを目視でエッジ検査(チップ・カケ検査)する為の装置です

  • 半導体検査/試験装置
  • その他半導体製造装置

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合否判定装置

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  • その他半導体製造装置

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3種類の動作が行える装置

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両面研磨後の洗浄された300mmウェーハを乾燥させる装置です

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φ300 mmシリコンウェーハを簡易洗浄(ブラシ+水)する装置です。

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φ150 mm及びφ125 mmシリコンウェーハの仕込み、取出

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加工の終了したφ300 mmウェーハを1枚ずつテフロンカセットへ収納し水没させるための装置です

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