半導体検査/試験装置の製品一覧

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• その他搬送機械

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• その他安全・衛生用品

加工の終了したφ300 mmウェーハを1枚ずつテフロンカセットへ収納し水没させるための装置です

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

ウェーハを1枚ずつローディングする装置です。

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

シリコンウェーハのP/N判定・外観検査を行うためにハンドリングする装置です

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

シリコンウェーハを反転移載する装置です。

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• その他半導体製造装置

抵抗率別かつ厚さ別の区分に分類

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• その他半導体製造装置

レーザ光にてウェーハ端面の検出を行い、校正用ウェーハ（基準ウェーハ）との比較により直径を測定する装置です。

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• その他半導体製造装置

画像処理によりウェーハの端面を検出し、直径を測定する装置です。

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• その他半導体製造装置

サファイアウェーハの厚さ測定を行い、その厚さに応じたソーティングを行う装置です。

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• その他半導体製造装置

シリコンウェーハの厚さ測定を行い、その厚さに応じて並べ替えを行う装置です。

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• その他半導体製造装置

シリコンウェーハの厚さ測定を行い、その厚さに応じて並べ替えを行う装置です。

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• その他半導体製造装置

シリコンウェーハの厚さ測定を行い、その厚さに応じて並べ替えを行う装置です

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• その他半導体製造装置

シリコンウェーハのラップ工程・両面ポリッシュ工程で使用する金属製、または樹脂製のキャリアの厚さを測定する装置です。

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• その他半導体製造装置

シリコンウェーハのラップ工程・両面ポリッシュ工程で使用する金属製、または樹脂製のキャリアの厚さを測定する装置です。

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シリコンウェーハのラップ工程・両面ポリッシュ工程で使用する金属製、または樹脂製のキャリアの厚さを測定する装置です。

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φ２”、φ４”またはφ６”サイズの化合物半導体ウェーハの厚さ測定

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