半導体検査/試験装置の製品一覧
- 分類：半導体検査/試験装置
541～555 件を表示 ／ 全 704 件
【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！
- その他搬送機械
６、８、１２、インチ対応。専用トレイからのテーピングも有ります。 テーピング装置のカスタマイズ制作もお受けしております。
- テーピングマシン
- 半導体検査/試験装置
わずかなデバイスの位置ずれを防ぎ、高倍率顕微鏡を使った時でも操作性が向上
- 半導体検査/試験装置
- 基板検査装置
- プローブ
電波遮蔽性能と遮音性能を併せ持つ防音シールドルームで、良好な検査環境を構築！
- 半導体検査/試験装置
- その他検査機器・装置
- X線検査装置
【2013年6月4日】岩通計測が「スキャナーシステムCS-700シリーズ」を販売開始
岩通計測株式会社は、従来から発売する「半導体カーブトレーサCSシリーズ」の測定デバイスを自動的に切り替り替える「スキャナーシステムCS-700シリーズ」を発売します。 発売開始は2013年6月4日から、受注開始は即日を予定しており、価格は仕様により異なります。岩通計測は、CS-700シリーズを、向こう1年間に50台の販売を見込んでいます。 CS-700シリーズは、リレーユニットを組み合わせることで、さまざまなデバイスの自動測定に対応し、リレーユニット1台で最大10チャネルの信号切り替えが可能です。 また、CS-701を増設することにより、最大800台までのリレーユニット増設が可能です。これにより、極めてフレキシブルなシステムの構築が可能となりました。 更に、CS-810（半導体パラメータ測定ソフトウエア：CSシリーズ共通オプション）と組み合わせることで、デバイスの大量自動測定が可能になります。これにより、従来では測定のたびに必要だった結線作業が不要となり、実験、評価作業が大幅に改善されます。 詳しくはお問い合わせ、または資料をご覧ください。
高加速度試験（最大34,000rpm、100,000G）。槽内温度コントロールが可能。JIS、MIL、IEC等の規格試験に対応。
- その他半導体製造装置
- 半導体検査/試験装置