半導体検査/試験装置の製品一覧

１００万回繰り返しても壊れない！確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

• センサ

直径３０ｍｍ程度から8インチ、高ライフタイム、１万オームを超えるような高抵抗も対応可能！薄化、チップ加工もアレンジいたします！

• その他半導体
• 加工受託
• ウエハー

φ300 mmシリコンウェーハを簡易洗浄（ブラシ+水）する装置です。

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

φ150 mm及びφ125 mmシリコンウェーハの仕込み、取出

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

加工の終了したφ300 mmウェーハを1枚ずつテフロンカセットへ収納し水没させるための装置です

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

ウェーハを1枚ずつローディングする装置です。

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

シリコンウェーハのP/N判定・外観検査を行うためにハンドリングする装置です

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

シリコンウェーハを反転移載する装置です。

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

抵抗率別かつ厚さ別の区分に分類

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

レーザ光にてウェーハ端面の検出を行い、校正用ウェーハ（基準ウェーハ）との比較により直径を測定する装置です。

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

画像処理によりウェーハの端面を検出し、直径を測定する装置です。

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

サファイアウェーハの厚さ測定を行い、その厚さに応じたソーティングを行う装置です。

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

シリコンウェーハの厚さ測定を行い、その厚さに応じて並べ替えを行う装置です。

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

シリコンウェーハの厚さ測定を行い、その厚さに応じて並べ替えを行う装置です。

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

シリコンウェーハの厚さ測定を行い、その厚さに応じて並べ替えを行う装置です

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

シリコンウェーハのラップ工程・両面ポリッシュ工程で使用する金属製、または樹脂製のキャリアの厚さを測定する装置です。

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

シリコンウェーハのラップ工程・両面ポリッシュ工程で使用する金属製、または樹脂製のキャリアの厚さを測定する装置です。

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