半導体検査/試験装置の製品一覧

  • 分類:半導体検査/試験装置

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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100万回繰り返しても壊れない!確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

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国内をはじめ、米国、ヨーロッパ各国の一流家電及び産業機器メーカ800社以上に提供し、高い評価を受けています。

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OLINASニュース:No 087 業界最高クラスの450V定格 ニチコン 基板自立形アルミ電解コンデンサ「LASシリーズ」

【「LASシリーズ」450V定格の特長】 1.耐電圧性能を高めた高信頼電極箔、耐電圧を上げることにより自己放電を抑制する耐電圧対応電解液、高耐電圧に適した耐電圧対応電解紙を採用することで材料レベルから耐電圧を向上。 2.異常電圧によるストレスに対して、内部素子の局部が過剰な負荷とならないよう考慮した耐電圧対応構造を採用することで業界最高クラスの異常電圧性能を実現。現行品よりも定格電圧を高めたことで、675Vまで異常電圧対応することが可能となり、従来よりも45V安全性能を高めております。また、450V定格を追加することで、ワールドワイド電源に対応する電圧範囲をカバーすることが可能となりました。 【主な仕様 ※( )内は今回の拡充定格】 定格電圧範囲:400・420・450V (450V) 定格静電容量範囲:56~390μF (68~330μF) カテゴリ温度範囲:-25~+105℃ 製品寸法:22φ×20L~35φ×45L(mm) (22φ×25L~35φ35L(mm)) 耐久性:105℃ 2000時間保証 端子形状:基板自立形

ディスクリート半導体の静特性を自動測定!~50kv・~1200Aまで対応可能なパワーデバイス/モジュール用テスター

  • その他半導体
  • 半導体検査/試験装置

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生活をよりシンプルに・快適にする製品をお届けします

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本機械は、φ4、5、6、8インチウェーハの厚さ測定する装置です。

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Green LED光にてウェーハ端面の検出を行い、校正用ウェーハ(基準ウェーハ)との比較により直径を測定する装置です。

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『台湾・リープ社』製、世界の主要半導体メーカーから認定を受けたICプログラマーのメーカーです。

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電磁スキャナー式(特許取得済み) ダメージレスで非破壊で測定可能 低コストを実現。高額なAFMと同等の機能を有します

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TFE電子銃用の高圧電源装置です!

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TFE電子銃、電子線リソグラフィ用の、高圧電源装置「FE503XP」です!

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開発期間の短縮にも役立つ、FIBイオン銃用の高圧電源装置「IB303XS」です!

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開発期間の短縮にも役立つ、FIBイオン銃用の高圧電源装置「IB303XP」です!

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サーマルFEエミッタを使用した軟X線管専用の駆動電源「XE303XP」です!

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TFE電子銃用の高精度な高圧電源装置です!

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CD-SEM、レビューSEM用の高圧電源装置「FE103XP」です!

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最大3台までの地震監視装置の接続が可能

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高精度検査を実現!微細チップから特殊サイズまでチップ部品外観検査に完全対応

  • 半導体検査/試験装置
  • 検査ロボット

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平面度0.001mm以下の精度を実現(φ12インチの場合)

  • 半導体検査/試験装置
  • ウエハ加工/研磨装置
  • 加工治具

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TDC紹介動画 第2段が完成しました!

ティ・ディ・シーの紹介ビデオ第2段が完成いたしました。 今回は社長の赤羽によるマネジメントのご紹介です。 1分程のショートムービーですので、ぜひご覧下さい。 下記「関連情報」より動画ご覧いただけます。 タイトル:TDCのマネジメント さて本日より東京ビックサイトで開催されております「ナノテク2018」に出展しております。 様々な材質の鏡面サンプルだけでなく、ラップ研磨で作り込んだ微細部品や内径鏡面品も展示しております。また今回は□400の鏡面板や1メートル程の大きなロールも出しておりますので、ぜひこの機会にご覧下さい。 本日バレンタインということで3日間コーヒーやチョコレートもご用意しております。お気軽にお立ち寄り下さい。 <説明員> 2/14(水):社長・藤野・有査 2/15(木):社長・藤野・前田 2/16(金):社長・藤野・有査・前田 ★技術的な打合せも可能です★ 社員一同お待ちしております。

製造現場での各工程におけるワーク等の微妙な位置決めを短時間かつシンプルに行う位置決めサポートユニットです。

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  • コンベヤ
  • 半導体検査/試験装置
  • ウエハ加工/研磨装置

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フォトルミネッセンス(PL)イメージング法を用いたSiC半導体評価装置

  • 半導体検査/試験装置

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セラミックプレートに貼り付けられたウェーハの厚さを光学プローブ/センサにて非接触測定する装置です。

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本機械はφ8”シリコン製ウエハの厚さ測定を行う装置です

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本機械は、半導体製造工程でφ8”ウェハのマクロ検査及びミクロ検査を行う装置です

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高品質レイアウトデザインを提供します!高性能パッケージ専用自動配線ツール

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剥離洗浄したウェーハを乾燥する装置です

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φ8インチシリコンウェーハの外観目視検査を行う半自動装置です

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石英マスクの表裏面目視検査を行うための治具です

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φ8インチシリコンウェーハの外観目視検査と厚さ測定を行う装置です

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ウェーハのマクロ検査及び、顕微鏡によるミクロ検査を行う装置です

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ポリッシュ加工後のウェーハの表面検査をする装置です

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φ300 mmシリコンウェーハを目視でエッジ検査(チップ・カケ検査)する為の装置です

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合否判定装置

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3種類の動作が行える装置

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両面研磨後の洗浄された300mmウェーハを乾燥させる装置です

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φ300 mmシリコンウェーハを簡易洗浄(ブラシ+水)する装置です。

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φ150 mm及びφ125 mmシリコンウェーハの仕込み、取出

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加工の終了したφ300 mmウェーハを1枚ずつテフロンカセットへ収納し水没させるための装置です

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ウェーハを1枚ずつローディングする装置です。

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シリコンウェーハのP/N判定・外観検査を行うためにハンドリングする装置です

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シリコンウェーハを反転移載する装置です。

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抵抗率別かつ厚さ別の区分に分類

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レーザ光にてウェーハ端面の検出を行い、校正用ウェーハ(基準ウェーハ)との比較により直径を測定する装置です。

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  • その他半導体製造装置

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画像処理によりウェーハの端面を検出し、直径を測定する装置です。

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サファイアウェーハの厚さ測定を行い、その厚さに応じたソーティングを行う装置です。

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シリコンウェーハの厚さ測定を行い、その厚さに応じて並べ替えを行う装置です。

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シリコンウェーハの厚さ測定を行い、その厚さに応じて並べ替えを行う装置です。

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