半導体検査/試験装置の製品一覧
- 分類：半導体検査/試験装置
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- その他搬送機械
レーザ光にてウェーハ端面の検出を行い、校正用ウェーハ（基準ウェーハ）との比較により直径を測定する装置です。
- 半導体検査/試験装置
- その他半導体製造装置
シリコンウェーハのラップ工程・両面ポリッシュ工程で使用する金属製、または樹脂製のキャリアの厚さを測定する装置です。
- 半導体検査/試験装置
- その他半導体製造装置
シリコンウェーハのラップ工程・両面ポリッシュ工程で使用する金属製、または樹脂製のキャリアの厚さを測定する装置です。
- 半導体検査/試験装置
- その他半導体製造装置
シリコンウェーハのラップ工程・両面ポリッシュ工程で使用する金属製、または樹脂製のキャリアの厚さを測定する装置です。
- 半導体検査/試験装置
- その他半導体製造装置
ガラス板に貼り付けられたSiCウェーハの厚みと接着剤の厚み測定及び、SiCウェーハ単体の厚みを測定する装置です。
- その他半導体製造装置
- 半導体検査/試験装置
シリコンウェーハを専用カセットからエッジハンドリングで取り出し、設定されたパターンの厚さ測定を行う装置です。
- 半導体検査/試験装置
- その他半導体製造装置
インテグレーテッドR&Dファウンドリーとして高度な専門技術を提供します。
- 半導体検査/試験装置
- 分析機器・装置
- その他受託サービス
現在のFOUPロードポートを8時間でN2パージ機能に改造できるキットを開発。3000台の納入実績があります。
- その他半導体製造装置
- 半導体検査/試験装置
半導体関連製品やクリーンルーム設備などの製品を紹介します。
- 半導体検査/試験装置
- その他半導体製造装置
- その他クリーンルーム用機器・設備
電子部品生産システム、冷間鍛造自動車部品、クーラント関連機械の総合カタログ
- レジスト装置
- エッチング装置
- 半導体検査/試験装置
計測展2015 TOKYO に出展いたします！
このたび、当社は計測展2015 TOKYO に出展することになりました。 是非ご来場賜りますようご案内申し上げます。 ■会期：2015年12月2日(水)～4日(金) ■会場：東京ビックサイト ブースNo.M4-34 ■出展予定製品： ・半導体カーブトレーサCS シリーズ ・400MHz 広帯域差動プローブBumbleBee ・日本製 ロゴスキーコイル電流プローブ ・SE-6000 シリーズ アイソレーション・プローブ ・PSM3750 周波数レスポンス＆インピーダンスアナライザ（Newtons4th 社製（英国）） ・小信号増幅用アンプ など
６、８、１２、インチ対応。専用トレイからのテーピングも有ります。 テーピング装置のカスタマイズ制作もお受けしております。
- テーピングマシン
- 半導体検査/試験装置
わずかなデバイスの位置ずれを防ぎ、高倍率顕微鏡を使った時でも操作性が向上
- 半導体検査/試験装置
- 基板検査装置
- プローブ
