半導体検査/試験装置の製品一覧
- 分類：半導体検査/試験装置
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１００万回繰り返しても壊れない！確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。
- センサ
従来製品のMODEL400シリーズに改良を加えた新たな製品で、大容量のeMMCへの書込みスピードが更に高速化されています。
- 半導体検査/試験装置
【お知らせ】ギャングプログラマMODEL1950販売終了
この度、当社のギャングプログラマ「MODEL1950」は、現在の在庫品を 持ちまして、販売を終了させて頂きます。 V-UP・修理・校正等の対応は、今まで通り継続致します。 「MODEL1950」の後継機種は「MODEL400e+シリーズ(MODEL404e+,408e+,416e+)」及び 「MODEL500シリーズ(MODEL504,508,516)」となり、変換アダプタは、 共用する事が出来ます。（一部に例外がございます。） 詳細につきましては、当社までお気軽にお問い合せ下さい。
半導体製造装置の要求するクリーン度で対応。ステンレス316L製、高純度ライン用、溶接型コンパクトチェックバルブCMWシリーズ。
- バルブ
- 配管材
- 半導体検査/試験装置
ステム角度1°、3°、5°から選択可能で、よりお客様のご要望に合わせた流量調整が可能。ロックネジ付で希望の流量で固定できます。
- バルブ
- 配管材
- 半導体検査/試験装置
ステンレス316製、高温・高圧対応ボールバルブ（ボール弁）『H6800シリーズ』。耐圧は最高41MPaまで対応。
- バルブ
- 配管材
- 半導体検査/試験装置
ステンレス316製、高温・高圧対応ティ型＆インラインフィルタ『H-600シリーズ』。エレメント交換が可能なフィルタです。
- フィルタ
- 配管材
- 半導体検査/試験装置
・ゼーベック係数を測定に最適 ・真空プローバーシステムをベースにサンプル表面の温度を測定可能に致しました。
- 半導体検査/試験装置
- その他理化学機器
- プローブ
・直接サンプルに熱を与える温度勾配生成ユニット搭載 ・顕微赤外カメラユニット搭載
- 半導体検査/試験装置
- その他理化学機器
- プローブ
プロトスキャリア用のウエハを傷を付けずに移載する非接触ピンセット
- その他搬送機械
- 半導体検査/試験装置
- 空圧機器
各種電子部品用のハンドラーをお客様の仕様に応じて設計・製作します。
- その他半導体
- 半導体検査/試験装置
- 機械設計
半導体の性能試験（検査）をする際に使用する光源装置。
- その他計測・記録・測定器
- その他検査機器・装置
- 半導体検査/試験装置
計測とメカトロをシステム化！応用電機の納入実績をご紹介
- その他計測・記録・測定器
- その他検査機器・装置
- 半導体検査/試験装置
気体垂直気体噴流方式の非接触搬送装置「フロートチャックＳＡ－Ｃ型」を理論的に解明する計算式を作成。
- 空圧機器
- 半導体検査/試験装置
ACラインのノイズ対策から分解能とノイズの関係性まで。電子・電気回路設計者のための『ノイズ対策 ノウハウ集』を無料進呈
- 半導体検査/試験装置
- プリント基板
- 電源
「リニアテクノロジー」LT8362 - 60V耐圧・低静止電流の昇圧/SEPIC/反転コンバータ
特長 ・広い入力電圧範囲：2.8V ～60V ・超低静止電流および低リップルのBurst Mode動作：IQ = 9μA ・2A/60Vのパワースイッチ ・1本の帰還ピンを使用して、正または負の出力電圧を設定 ・プログラム可能な周波数（300kHz ～2MHz） ・外部クロックと同期可能 ・低EMIを実現するスペクトラム拡散変調 ・BIASピンにより高効率に対応 ・プログラム可能な低電圧ロックアウト（UVLO） ・熱特性が改善された10ピン3mm×3mm DFNパッケージおよび16ピンMSOPパッケージ 概要 LT8362は、動作入力電圧範囲が2.8V ～60Vの60V、2Aスイッチを内蔵した電流モードDC/DCコンバータです。独自の単一帰還ピン・アーキテクチャにより、昇圧、SEPIC、または反転構成に対応することができます。Burst Mode動作で消費される静止電流はわずか9μAなので、出力電流が非常に少ないときに高い効率を維持しつつ、標準的な出力リップルを15mV未満に抑えることができます。 【アプリケーション】 ・産業用および自動車用機 ・通信機器 ・携帯型電子機器
