その他計測・記録・測定器の製品一覧
- 分類：その他計測・記録・測定器
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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！
- その他搬送機械
微細加工などに好適！従来の工具では困難とされた穴のバリ取りと両面取りをワンパスで実現！
- その他工作機械
【2021年10月20日(水)～23日(土)】メカトロテックジャパン2021に出展します！
当社は、2021年10月20日(水)～23日(土)の4日間、ポートメッセなごやで 開催される「メカトロテックジャパン2021」に出展いたします。 小径0.8ｍｍからの面取りバリ取りが可能な工具『バーオフツール』や 折損を確実に検出する工具折損検出装置『FEM』をご紹介いたします。 皆様のご来場お待ちしております。（コマ番号：2B12）
◆TIAによるオートゲインコントロール機能付 ◆TIA出力コントロール用VGC機能付 ◆BOSA用カスタムTO-CAN有
- その他計測・記録・測定器
- その他光学部品
- その他理化学機器
細胞研究に必要なデータを高感度で精度よく取得 - 高度なマルチカラーアプリケーションに対応するハイエンドモデル
- その他計測・記録・測定器
細胞研究に必要なデータを高感度で精度よく取得 より多彩な蛍光色素を使用するアプリケーションに対応
- その他計測・記録・測定器
ppb/ppm/% 酸素濃度計の設置型！長寿命のジルコニア酸素センサー採用、コンパクト・モジュラ－タイプ！
- その他計測・記録・測定器
アルミ袋対応コンベア式微小金属検出機(標準型搬送幅150mm×通過高さ40mm)／品番 M998T2R-J6BN-W150H40
- その他計測・記録・測定器
道路交通法改正に伴う2023年12月1日より、完全施行となるアルコール検知器について使用用途別に製品をご案内します
- その他安全・衛生用品
- その他計測・記録・測定器
NEW 環境制御型農業向け（CEA)スマート農業モニタ 屋内環境のパラメータを正確に測定！スマートフォンで簡単！
- その他環境分析機器
- その他計測・記録・測定器
◆紫外域からテラヘルツ領域における最も効率的な検出器◆室温下において優れた受光感度を持ち広範波長レンジ◆フラットな周波数応答特性
- その他光学部品
- その他理化学機器
- その他計測・記録・測定器
カメラ用レンズの各種絞り口径面積を測定。校正登録できるSENS感度は4系列ズームレンズなどの測定に対応。専用仕様受注可能。
- レンズ
- その他計測・記録・測定器
- レンズ
壺坂電機はＣＰ+に出展致します。
壺坂電機は２０１２年２月に行われるＣＰ+２０１２に出展致します。 ２０１２年２月９日（木）～１２日（日） パシフィコ横浜 アネックスホール ブース番号は「Ｐ－０４」です。 ・手ブレ評価システム「ＳＡＰ－１」 ・輝度計「ＬＣ－５」 ・高性能機度箱「LSB-111系」 ・ストロボ光量計「ＬＸ－６０」 ・ストロボ配光テスタ「STB-225LD」 ・Ｆナンバーテスター「ＳＭＤ－８１Ｔ２」 ・シャッターテスタ「AS-250」 など、多数展示・デモ予定です。 お時間ありましたら是非、当ブースへお越し下さいませ。
スパウトパウチのスクリューキャップ開栓力測定に最適なアタッチメント！様々なサイズのスパウトパウチ容器に対応します。
- その他計測・記録・測定器
【2023年12月13日(水)～15日(金)】『SEMICON JAPAN』出展のご案内
株式会社テクネ計測は2023年12月13日(水)～15日(金)にて 東京ビッグサイトにて開催されます『SEMICON JAPAN』に出展いたします。 今回は、半導体業界向けの露点計・⽔分計、酸素濃度計、風速計、温湿度計、温湿度/露点校正器を展示します。 是⾮テクネ計測のブースにお越しください。 ＿＿＿ ＿＿＿ ＼ ┌┴──────┴┐ ／ ／ │ご来場プレゼント│ ＼ ￣ └────────┘ ￣ 大好評♪330ml球体ボトルが可愛い【もいすちゅー水】をプレゼント！ 名刺交換していただいた方に公式キャラクター「もいすちゅー」の形をしたお水をプレゼント♪とってもかわいいボトルですので是非ともGETしてください！ 是⾮テクネ計測のブースにお越しください。
小型軽量で低荷重帯の測定に対応！φ3.2mmまでの針金状サンプルに最適な圧縮試験・引張試験両用アタッチメントです。
- その他計測・記録・測定器
先端が細くなった形状で、狭いスペースでの測定にも対応！繊維や毛など、細いサンプルの荷重測定に最適なアタッチメントです。
- その他計測・記録・測定器
｢JASO D 001-94｣に基づく、搭載電子機器の耐性
- 試験機器・装置
- その他計測・記録・測定器
- EMC試験
国際規格ISO 7637-2（2011年版）規格で要求される過渡サージを発生し、搭載電子機器の耐性を評価
- 試験機器・装置
- その他計測・記録・測定器
- EMC試験
