その他計測・記録・測定器の製品一覧
- 分類：その他計測・記録・測定器
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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！
- その他搬送機械
スマートリンクとフリーアプリで携帯電話やタブレットがポジテクターゲージに変身
- その他計測・記録・測定器
- その他ネットワークツール
手袋をしたままでも操作が可能！熟練者でなくても安定した測定値が得られる測定器
- その他計測・記録・測定器
- その他理化学機器
様々な分野の距離計測要求に対して柔軟に対応可能！光遠隔距離計測システム
- 距離関連測定器
- その他電子計測器
- その他計測・記録・測定器
メカトロテック ジャパン 2019 へ出展いたします。
令和元年10月23日(水)〜10月26日(土) 愛知県名古屋市 ポートメッセなごや にて開催されます、 メカトロテック ジャパン 2019 へ出展いたします！ “オリジナルエンドミル”をはじめ“ジェイコア撮像工具測定システム”、“アイトロ二クス形彫放電加工機”、“TAP SHOT”など展示いたします。 是非お立ち寄り下さい！ 皆様のご来場を心よりお待ちしております！ <小間番号:2A-04>
短時間で複雑な環境や地形の詳細な3次元イメージを生成するレーザー技術を使用した計測サービスを行います！
- その他計測・記録・測定器
- 受託測定
【温度範囲-50℃～200℃】省スペース・省エネルギーでデバイスの温度環境試験に、手軽に使用可能！
- 環境試験装置
- その他計測・記録・測定器
小型で軽量。1軸から3軸まで多彩なバリエーション。TEDS機能付きセンサーもあり。
- 試験機器・装置
- その他計測・記録・測定器
- 時間・周波数測定
【ウェビナー】リアルタイム計測が可能なM2ビームアナ ライザーシステム ～HAAS社製品紹介～
ファイバーレーザーなどの高出力化に伴い、ビーム品質（M2）やプロファイルを測 定する必要性がますます高まっています。Haas Laser Technologies社では、それに 対応すべく、インライン、リアルタイムで使用できるビームアナライザーシステム を、低出力から高出力レベルまで数多く取り揃えています。今回のセミナーでは、原 理、使用方法、製品ラインナップなどについて、詳しくご説明します。 内容 (1) リアルタイムM2計測を実現するための原理、構成 (2) 製品の基本的な使い方、ソフトウェア操作性 (3) ISO準拠の計測方法、具体例 (4) 製品ラインナップ（シングルカメラ、デュアルカメラほか） (5) 今後の製品展開
スイス・マイクロテスト社のアナログ三点式マイクロメータは、高精度の測定と広い測定範囲を両立させた画期的な製品です。
- その他計測・記録・測定器
スイス・マイクロテスト社のデジタル三点式マイクロメータは、高精度の測定と広い測定範囲を両立させた画期的な製品です。
- その他計測・記録・測定器
時間と費用が掛かるとされたテーパーの外側の測定が簡単にできる、ダイヤテストの外側用テーパーゲージ（面取り測定器）です。
- その他計測・記録・測定器
温度変化や塵埃などの環境下においても、正確な測定を実現します。ゲージ測定子は、しぶき・塵埃から守るカプセル設計。
- その他計測・記録・測定器
様々な干渉計に使え、他社データフォーマットの読み込み。さらに様々なソフトウェアに書き出し可能。汎用性に優れた高性能解析ソフト。
- 画像解析ソフト
- その他計測・記録・測定器
静電容量式のマルチタッチモニタを組合わせた革新的なユーザインタフェースにより、最高クラスの効率性と使い易さを実現！
- その他プロセス制御
- その他加工機械
- その他計測・記録・測定器
無料ウェビナー開催のご案内: 半導体樹脂封止成形「金型内部の見える化ソリューション」とIoT技術 (4/27)
半導体、特にNEV(新エネルギー車)向けパワー半導体の樹脂封止工程において製造工程でのゼロディフェクト実現のために金型内部の状態の「見える化」への要求が高まって来ています。 本ウェビナーではエポキシトランスファ成形のような低粘度樹脂、低圧測定用に開発された水晶圧電式型内圧センサを用いて成形不良を改善するためのセンシング技術をご提案します。 ・低粘度樹脂対応⇒エポキシ樹脂の侵入による測定誤差が生じない構造（ダイヤフラム構造） ・高温対応⇒金型温度200℃まで ・直線性（測定誤差）⇒測定レンジに対して1%以下 ・分解能⇒1/1,000MPa このウェビナーは下記の3回開催いたしますが、どの日程も同じ内容となりますのでぜひご都合の良い日にご参加ください！ 2022年04月27日(水) 2022年05月11日(水) 2022年05月18日(水) ぜひ詳細をご確認のうえご登録フォームよりお申込ください。 https://info.kistler.com/ja-webinar-semicon たくさんのかたのご参加を楽しみにしております。
【技術資料進呈中】1ビーム出射プローブを用いたガラス面の変動測定について解説
- 光学測定器
- その他計測・記録・測定器
【技術資料進呈中】重型光学系光路長差ゼロにおいて真空中における測定結果を掲載
- 光学測定器
- その他計測・記録・測定器
【技術資料進呈中】多重型光学系光路長差40mmの場合の大気中測定について掲載
- 光学測定器
- その他計測・記録・測定器
【技術資料進呈中】リアルモード長時間測定結果（光学系の真空中の動作）について
- 光学測定器
- その他計測・記録・測定器
【技術資料進呈中】標準型光学系におけるリアルモード長時間測定結果について掲載
- 光学測定器
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