試験機器・装置の製品一覧
- 分類:試験機器・装置
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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!
- その他搬送機械
2024/4/10(水)~2024/4/12(金)名古屋 ものづくり ワールド 2024出展のご案内
三和式ベンチレーター株式会社は、ポートメッセなごやで開催される 2024ものつくりワールド(名古屋)に出店いたします。 弊社も大型冷風機、涼暖ビエントの展示をおこないます。 日時:2024/4/10~2024/4/12 開場:AM10:00~ 場所:名古屋ポートメッセ(第1展示会場) ※弊社ブース:19-1 お時間が御座いましたら、ご来場頂ければ幸いです。
開発初期の信頼性を向上させたJTAGバウンダリスキャンテスト!
- 試験機器・装置
JPCA Show 2024 / 2024 マイクロエレクトロニクスショーに出展します
アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2024/6/12(水)~6/14(金)まで開催される「JPCA Show 2024 / 2024マイクロエレクトロニクスショー」に出展します。 【展示内容】 ・BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテスト ・半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューション ともに実機デモを実施いたしましますので、是非お立ち寄りください。 【出展ブース】 ・展示会名:2024 マイクロエレクトロニクスショー ・開催日時:2024年6月12日(水)~6/14日(金) 10:00~17:00 ・展示会場:東京ビッグサイト 東展示棟 ・小間番号:3B-35
JTAGテスト入門セミナー - 第238回 2016年12月 7日 水曜日
最近、組込み製品の基板が複雑化、高度化しており、改めて注目されている JTAGバウンダリスキャン・テストを分かり易く解説します! 【セミナー内容】 1. JTAGバウンダリスキャンテスト概要 JTAGバウンダリスキャンアーキテクチャ紹介と活用される分野 2. JTAGバウンダリスキャンテストが登場した背景 LSIのパッケージの高密度実装にともなう変遷 BGAの実装不良と小型化・高密度化による課題 部品内蔵基板やTSV技術による3D LSI/2.5 LSIの概要 3. 実装基板の検査手法と特徴 各テスト手法が検出可能な故障タイプ インサーキットテスト / ファンクションテスト / X線検査 / 自動外観検査(AOI)との補完 4. JTAG ProVisionデモンストレーション 基板の実装検査を行う手順を実機のデモを交えて紹介します。 5. JTAGテストの国内導入企業と課題解決事例 開発現場での活用と開発期間短縮 製造現場での活用と検査コスト削減 サービス現場での活用と修理コスト削減
見えない・触れないピンのハンダ不良を検出!部品内蔵基板、TSV技術にも対応!
- 試験機器・装置
JTAGテストで未検査領域を減らし、お客様へ"安心”をご提供!
- 試験機器・装置
JTAGテストで高密度実装における一貫した先進の検査体制を確立!
- 試験機器・装置
BGA不具合箇所の統計データを製造にフィードバック!
- 試験機器・装置