試験機器・装置の製品一覧
- 分類：試験機器・装置
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電池の基本概念から、利用目的・実現方法による分類までを体系化。複雑な電池選定の第一歩を、初心者目線で分かりやすくまとめました
- 電池・バッテリー
- 技術書・参考書
- 技術書・参考書
ユニットモジュール化 強力な運転機能、４レンジ切替、精密制限、小体積、大用途、複数の検測モード 一機多機能、安全保護の限りがない
- 試験機器・装置
ヨーロッパをはじめとする主要な自動車メーカやエレクトロニクス業界を中心とした国際的な熱衝撃試験規格に準拠しています。
- 試験機器・装置
カタログが新しくなりました！【JIS Z 2241】に準拠。油圧万能試験機『AY-S5/D5』または『YU-S5/D5』シリーズ
- 試験機器・装置
手作業の計測、テスト作業の自動化をサポートします！
- 試験機器・装置
Ｘ線検査では困難なハンダ不良やパターン不良の検出を可能にし、工数の削減や製造品質の向上を実現しました！
- 試験機器・装置
お客様のテスト、検証作業の自動化をスイッチの切り替えにより実現します(事例あり)
- 試験機器・装置
様々なハードウェアシミュレータ・モジュールを提供しております！
- 試験機器・装置
高い安全性が要求される車載機器の検査をJTAGテストで実現！
- 試験機器・装置
高性能・高品質な計測を支える JTAGバウンダリスキャンテスト！
- 試験機器・装置
開発初期の信頼性を向上させたJTAGバウンダリスキャンテスト！
- 試験機器・装置
![[BGA対応！実装基板テスト] JTAGテスト](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/9c7/2001167049/IPROS16571686840134820493.png?w=280&h=280){kind=small}
JPCA Show 2024 / 2024 マイクロエレクトロニクスショーに出展します
アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2024/6/12(水)～6/14(金)まで開催される「JPCA Show 2024 / 2024マイクロエレクトロニクスショー」に出展します。 【展示内容】 ・BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテスト ・半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューション ともに実機デモを実施いたしましますので、是非お立ち寄りください。 【出展ブース】 ・展示会名：2024 マイクロエレクトロニクスショー ・開催日時：2024年6月12日(水)～6/14日(金) 10:00～17:00 ・展示会場：東京ビッグサイト 東展示棟 ・小間番号：3B-35
![[BGA対応！実装基板テスト] JTAGボードテストツール](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/b69/303096003/IPROS_16903476509175706000.jpg?w=280&h=280){kind=small}
JTAGテスト入門セミナー - 第238回 2016年12月 7日 水曜日
最近、組込み製品の基板が複雑化、高度化しており、改めて注目されている JTAGバウンダリスキャン・テストを分かり易く解説します！ 【セミナー内容】 1. JTAGバウンダリスキャンテスト概要 JTAGバウンダリスキャンアーキテクチャ紹介と活用される分野 2. JTAGバウンダリスキャンテストが登場した背景 LSIのパッケージの高密度実装にともなう変遷 BGAの実装不良と小型化・高密度化による課題 部品内蔵基板やTSV技術による3D LSI/2.5 LSIの概要 3. 実装基板の検査手法と特徴 各テスト手法が検出可能な故障タイプ インサーキットテスト / ファンクションテスト / X線検査 / 自動外観検査（AOI）との補完 4. JTAG ProVisionデモンストレーション 基板の実装検査を行う手順を実機のデモを交えて紹介します。 5. JTAGテストの国内導入企業と課題解決事例 開発現場での活用と開発期間短縮 製造現場での活用と検査コスト削減 サービス現場での活用と修理コスト削減
見えない・触れないピンのハンダ不良を検出！部品内蔵基板、TSV技術にも対応！
- 試験機器・装置
JTAGテストで未検査領域を減らし、お客様へ"安心”をご提供！
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JTAGテストで高密度実装における一貫した先進の検査体制を確立！
- 試験機器・装置
BGA不具合箇所の統計データを製造にフィードバック！
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試作モジュールの実証実験に！PV屋外暴露試験システム～I-Vカーブ・日射・温度・風向・雨量等も計測可能～
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