受託解析の製品一覧

１００万回繰り返しても壊れない！確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

センサ

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直径３０ｍｍ程度～8インチまで対応可能　高抵抗FZウエハ

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株式会社エナテック東京本社

直径３０ｍｍ程度から8インチ、高ライフタイム、１万オームを超えるような高抵抗も対応可能！薄化、チップ加工もアレンジいたします！

その他半導体
加工受託
ウエハー

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【分析事例】リチウムイオン二次電池　正極シート状活物質の組成分析

シート状活物質の主成分定量分析が可能

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【分析事例】リチウムイオン二次電池Si負極の評価

サンプル冷却により充電後のSi負極の構造を評価可能

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【分析事例】リチウムイオン二次電池電極材料の評価

雰囲気制御イオン研磨（IP）加工を用いた断面観察が可能

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【分析事例】SiCダイオードのフォトルミネッセンスマッピング測定

SiC中積層欠陥の検出事例

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【分析事例】金属ワイヤー中の不純物評価

SEMと同等の視野で大気成分などの不純物の面内分布を可視化

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【分析事例】テクスチャ付きGaN系LEDの元素分布評価

凹凸のある構造でも平坦化加工により深さ方向分布評価が可能

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【分析事例】SiC基板の品質評価

結晶方位・面内欠陥分布・表面凹凸・不純物を評価

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【分析事例】パワーデバイスのキャリア濃度分布評価

ドーパントの活性化率に関する評価が可能

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【分析事例】化合物積層構造試料のSIMS分析

前処理により化合物層を選択的に除去してから分析が可能

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【分析事例】有機成分洗浄効果の評価

300mmウェハをそのまま測定できます

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【分析事例】高分子フィルムの多層構造の解析

GCIBを用いた低ダメージスパッタリングで多層フィルムの層構造を明瞭に可視化

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【分析事例】TEM・EDX・EELSのアイシャドウ成分元素分析

ナノオーダーの形態観察・元素分析が可能

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【分析事例】SiN膜中水素の結合状態別の定量

赤外吸収法によりSiN膜中のSi-H、N-Hを定量

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【分析事例】高温XRDによる金属膜の評価

昇温過程での相転移・結晶性変化を追跡評価

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【分析事例】メルブロミンの皮膚への浸透性評価