受託解析の製品一覧
- 分類：受託解析
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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減！】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録！ワークに応じた無料相談、テストも受付中！
- その他搬送機械
2024/4/10（水）～2024/4/12（金）名古屋 ものづくり ワールド 2024出展のご案内
三和式ベンチレーター株式会社は、ポートメッセなごやで開催される 2024ものつくりワールド（名古屋）に出店いたします。 弊社も大型冷風機、涼暖ビエントの展示をおこないます。 日時：2024/4/10～2024/4/12 開場：AM10:00~ 場所：名古屋ポートメッセ（第１展示会場） ※弊社ブース：19-1 お時間が御座いましたら、ご来場頂ければ幸いです。
FIBで微小対象物(例えばICコンタクト部)の任意箇所、ここという場所を狙って断面を作製できます
- 受託解析
- 加工受託
- その他コネクタ
繰り返し伸縮可能で、変形に追従できるフレキシブル基板です。 FPC
- 基板設計・製造
- 製造受託
- 受託解析
Niめっきの膜厚や濃度測定、表面汚染レベル測定などXPS、AES、GD-OES各装置での表面分析および測定事例をご紹介します
- その他計測・記録・測定器
- 受託解析
- 表面処理受託サービス
一般的に難しい低温度域でも材料の融解、ガラス転移、結晶化、熱硬化等の転移状況を観測できます
- ゴム
- 受託解析
- 解析サービス
クライオミクロトームとAFMで軟らかい高分子材料の各種高分解能観察が可能です
- その他高分子材料
- 受託解析
- ゴム
知りたい情報によりTG-DTAの測定雰囲気を正しく選ぶ必要があります。当社は適切に選定し測定いたします
- 複合材料
- 受託解析
- 受託解析
硬化特性解析や測定方法など！DSC、TG、DMA、TMAによる事例を多数ご紹介。詳細は資料をダウンロードしてご確認願います
- 受託解析
- その他高分子材料
- プラスチック
FIB-SEM装置で表面からは分かりづらいめっき層内の異常個所を観察でき、Slice&View機能により異常の起点発見も可能です
- 受託解析
- めっき装置
- その他金属材料
YouTubeに動画『FIBによるめっき不良のSlice&Viewおよび3D構築』をアップしました。
集束イオンビーム(Focused Ion Beam：FIB)装置は、集束したイオンビームを試料に照射し、加工や観察を行う装置です。 また、FIB-SEMは高解像度のFE-SEM（電界放出形電子顕微鏡）を搭載しており、高分解能での観察と加工が同時に行えるのが特長です。 本動画はFIB-SEM(サーモフィッシャーサイエンティフィック社製：Helios5 CX)でSlice & Viewおよび3D構築の機能を使い『めっき不良の状況』を観察したものです。 Slice & Viewにより不良の起点から広がる様子、3D構築により不良の形状が確認できています。
X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られるため表面汚染・変色の分析や表面処理その他の評価に最適です
- 受託解析
- その他高分子材料
- 表面処理受託サービス
変色調査や表面改質評価などXPS、AES、AFMによる事例を厳選しました。ぜひご覧いただき資料ダウンロードください
- 受託解析
- その他金属材料
- その他高分子材料
微小部断面加工と分析、残留応力測定などイオンミリング、FE-SEM、EBSD等による各種事例をご紹介します。資料DL可です。
- 受託解析
- その他高分子材料
- その他金属材料
DMAによってDSCでは捉えられないポリエチレン(PE)のガラス転移を測定可能です。PEの特性を取得するためにぜひご活用ください
- 受託解析
- その他高分子材料
- プラスチック
企業交流展示会にて弊社サービスをご紹介いたします！
- 受託検査
- 受託測定
- 受託解析
DSCでは食品加工で重要な要素でんぷんの糊化や老化の様子を把握できます。他食品でも応用可能な本技術を存分に味わってみてください
- 食品試験/分析/測定機器
- 受託解析
- 解析サービス