受託解析の製品一覧
- 分類：受託解析
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１００万回繰り返しても壊れない！確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。
- センサ
直径３０ｍｍ程度から8インチ、高ライフタイム、１万オームを超えるような高抵抗も対応可能！薄化、チップ加工もアレンジいたします！
- その他半導体
- 加工受託
- ウエハー
技術情報「三次元培養ヒト皮膚中インドメタシンの経皮吸収評価（C0467）」1件を公開
MSTホームページにて、下記分析事例1件を公開しました。 ・三次元培養ヒト皮膚中インドメタシンの経皮吸収評価（C0467） 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/
技術情報「XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価（C0472）」1件を公開
MSTホームページにて、下記分析事例1件を公開しました。 ・XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価（C0472） 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/
技術情報「リチウムイオン二次電池正極材料の原子分解能分析(C0475)」1件を公開
MSTホームページにて、下記分析事例1件を公開しました。 ・リチウムイオン二次電池正極材料の原子分解能分析(C0475) 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/
技術情報「有機EL（OLED）の材料構造評価」ほか2件を公開
MSTホームページにて、下記分析事例2件を公開しました。 ・有機EL（OLED）の材料構造評価 ・炭素材料のラマンマッピング 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/
技術情報「TOF-SIMS・LC/MS/MSによる三次元培養ヒト皮膚を用いた経皮吸収評価」ほか2件を公開
MSTホームページにて、下記分析事例2件を公開しました。 ・TOF-SIMS・LC/MS/MSによる三次元培養ヒト皮膚を用いた経皮吸収評価 ・三次元培養ヒト皮膚表面の微細形状観察 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/
技術情報「TOF-SIMSによる粉体粒子表面の分布評価」ほか3件を公開
MSTホームページにて、下記分析事例3件を公開しました。 ・TOF-SIMSによる粉体粒子表面の分布評価 ・TDSによる有機膜の熱処理温度依存性評価 ・TDSによるレジスト膜の脱ガス評価 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/
EV関連分析事例ページ 開設のお知らせ
弊団HP内に【EV関連分析事例ページ】を開設しました。 製品分野別に最適な手法・分析事例を紹介しています。 電気自動車（EV）に関する分析の検討にぜひ“関連リンク"よりご覧ください。 気になる事例がありましたら、下記ボタンまたは弊団HPより、お気軽にお問い合わせください。
