受託解析の製品一覧

  • 分類：受託解析

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【導入事例5選を収録！】バランサー　総合カタログ無料プレゼント

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安全柵　『SATECH』 【低コスト＆スピード施工！】

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  • その他安全・衛生用品

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【分析事例】SUS不動態皮膜深さ方向状態と酸化膜厚評価

【分析事例】SUS不動態皮膜深さ方向状態と酸化膜厚評価

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TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

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【分析事例】Si自然酸化膜の膜厚評価

【分析事例】Si自然酸化膜の膜厚評価

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光電子の平均自由行程を用いた膜厚の見積もり

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【分析事例】SIMSによるGaN系LED不純物の深さ方向濃度分析

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目的に応じた分析条件で測定します

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【分析事例】SIMSによるNPT-IGBT中ドーパント調査

【分析事例】SIMSによるNPT-IGBT中ドーパント調査

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イメージングSIMSによって局在する元素の評価が可能

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【分析事例】パワーデバイスのドーパント・キャリア濃度分布の評価

【分析事例】パワーデバイスのドーパント・キャリア濃度分布の評価

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複合解析で活性化率に関する評価が可能

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【分析事例】300mmウェハ最表面の異物の評価

【分析事例】300mmウェハ最表面の異物の評価

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異物検査装置との座標リンケージ機能で特定異物の評価が可能

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【分析事例】SiC基板のゲート酸化膜評価

【分析事例】SiC基板のゲート酸化膜評価

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膜厚・密度・結合状態を評価

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【分析事例】SiC基板におけるSSDP-SIMS分析

【分析事例】SiC基板におけるSSDP-SIMS分析

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SiC基板側からドーパント濃度プロファイルを取得可能

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【分析事例】SIMSによるGaN系LED構造の組成分析

【分析事例】SIMSによるGaN系LED構造の組成分析

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GaN系LEDの主成分元素の組成を深さ方向に評価可能

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【分析事例】GaN系LED構造中MgのSSDP-SIMS分析

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裏面側からGaN系LED構造中の不純物プロファイルを取得可能

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【分析事例】はんだ合金中の添加物面内分布評価

【分析事例】はんだ合金中の添加物面内分布評価

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ppmレベルの添加物の分布を高感度に評価可能

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【分析事例】SIMSによる化合物半導体の組成分析

【分析事例】SIMSによる化合物半導体の組成分析

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化合物半導体の主成分元素の組成を深さ方向に評価可能

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【分析事例】食品中有害成分の濃度分析

【分析事例】食品中有害成分の濃度分析

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乳幼児用粉ミルク中メラミンの濃度評価

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【分析事例】パフ表面の形状観察

【分析事例】パフ表面の形状観察

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パフ表面のデジタルマイクロスコープ観察

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【分析事例】SIMSによるSiC中ドーパント元素の深さ方向分析2

【分析事例】SIMSによるSiC中ドーパント元素の深さ方向分析2

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目的に応じた分析条件で測定します

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【分析事例】SAXSによる乳化剤の液晶構造・ミセルサイズ評価

【分析事例】SAXSによる乳化剤の液晶構造・ミセルサイズ評価

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ナノオーダーの構造解析・ナノ粒子サイズの評価が可能

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【分析事例】ヤムイモ中ジオスゲニンのLCMS分析

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ジオスゲニン配糖体の定性・定量分析

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【分析事例】機能性成分グルコシルセラミドの分析評価

【分析事例】機能性成分グルコシルセラミドの分析評価

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LC/MSによる定性分析、HPLCによる定量分析事例

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【分析事例】SiCパワーMOSFETの活性層複合評価

【分析事例】SiCパワーMOSFETの活性層複合評価

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活性層の形状とドーパントを評価

  • 受託解析

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【分析事例】SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価

【分析事例】SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価

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コンタクト電極/SiC層の界面の相同定・元素分布評価

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【分析事例】シリコンウェハ上の汚染原因調査

【分析事例】シリコンウェハ上の汚染原因調査

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手袋由来の汚染の評価

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【分析事例】高分子フィルム中の添加物成分分析

【分析事例】高分子フィルム中の添加物成分分析

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フィルム中の添加剤の表面およびGCIBを用いた深さ方向の分布評価

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【分析事例】TOF-SIMS Siウエハ保管による表面汚染評価

【分析事例】TOF-SIMS Siウエハ保管による表面汚染評価

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フッ酸処理で酸化膜を除去したSiウエハの汚染・酸化の評価

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【分析事例】アルミホイル表面の成分分析

【分析事例】アルミホイル表面の成分分析

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光沢面・つやなし面の違いを評価

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【分析事例】エタノールをつけた綿棒の残渣分析

【分析事例】エタノールをつけた綿棒の残渣分析

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TOF-SIMSにより光学顕微鏡で見えないシミや洗浄残渣の分析が可能

  • 受託解析

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【分析事例】有機EL素子の層構造評価

【分析事例】有機EL素子の層構造評価

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N2雰囲気下での切削加工で酸化劣化を防止

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【分析事例】有機EL発光層の成分分析

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雰囲気を保ったまま解体・前処理から装置導入まで可能

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【分析事例】有機EL素子の劣化評価

【分析事例】有機EL素子の劣化評価

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雰囲気制御下での切削により加工による変質を抑制

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【分析事例】GCIBのSiO2中アルカリ金属深さ方向濃度分布評価

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SiO2膜の不純物の評価

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【分析事例】錠剤における薬効成分の分布評価

【分析事例】錠剤における薬効成分の分布評価

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主成分や添加物の分布が可視化できます

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【分析事例】リチウムイオン二次電池電解液の溶媒及び添加剤の分析

【分析事例】リチウムイオン二次電池電解液の溶媒及び添加剤の分析

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製品からの電解液の抽出および成分評価

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【分析事例】LIB電解液の溶媒及び添加剤の特定・定量評価

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電解液のサンプリングから定性・定量評価が可能

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【分析事例】食品用ラップフィルム表面の成分分析

【分析事例】食品用ラップフィルム表面の成分分析

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TOF-SIMSを用いて加熱前後のラップフィルム表面の成分変化を分析

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【分析事例】FT-IRによるUV硬化樹脂の硬化度評価

【分析事例】FT-IRによるUV硬化樹脂の硬化度評価

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官能基の変化を捉えることでUV硬化樹脂の硬化度を評価可能です

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【分析事例】DNA解析を利用した細菌の分析

【分析事例】DNA解析を利用した細菌の分析

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サンプル中の細菌について、単離・培養せず、DNAから分析します

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【分析事例】LIBの充放電サイクル試験後の劣化評価

【分析事例】LIBの充放電サイクル試験後の劣化評価

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電池セルの作製から充放電サイクル試験から解体、劣化成分量の調査まで

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リチウムイオン二次電池書籍執筆のお知らせ

株式会社技術情報協会より発刊予定の書籍「自動車用途へ向けたリチウムイオン二次電池/材料の発熱挙動・劣化評価と試験方法」へ、MST(財)材料科学技術振興財団が執筆を行いました。 ★発刊日：２０１１年１月３１日 料金・体裁など詳しい情報は、株式会社技術情報協会のウェブサイトをご覧ください。 http://www.gijutu.co.jp/doc/b_1583.htm ★掲載内容 リチウムイオン二次電池電極材料の劣化評価
【分析事例】粘着テープの残渣評価

【分析事例】粘着テープの残渣評価

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TOF-SIMSにより表面付着物成分を同定します

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【分析事例】SIMSによる酸化物ReRAM動作領域の元素分布評価

【分析事例】SIMSによる酸化物ReRAM動作領域の元素分布評価

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酸化物デバイスにおける局所元素分布を酸素同位体を用いて高感度に評価

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【分析事例】ウェハ・チップの特定箇所の前処理技術

【分析事例】ウェハ・チップの特定箇所の前処理技術

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目的箇所のみサンプリングし、ウェハを割らずにサンプル作製します

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【分析事例】リチウムイオン二次電池バインダの成分分析

【分析事例】リチウムイオン二次電池バインダの成分分析

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熱分解GC/MSによる有機成分の同定

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  • ガスクロマトグラム.png
  • リチウムイオン二次電池の基本構造.png
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【分析事例】CIGS薄膜太陽電池特定結晶粒の評価

【分析事例】CIGS薄膜太陽電池特定結晶粒の評価

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任意断面のEBIC測定で特徴があった箇所の直交断面観察

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【分析事例】有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価

【分析事例】有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価

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低加速STEM観察とEELS測定による有機材料の分布状態評価

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【分析事例】リチウムイオン二次電池電極の三次元的観察

【分析事例】リチウムイオン二次電池電極の三次元的観察

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Slice and Viewによる充填度・ボイドの観察

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【分析事例】リチウムイオン二次電池活物質の元素分析

【分析事例】リチウムイオン二次電池活物質の元素分析

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大気非暴露環境下で解体・サンプリングし、劣化・変質を抑えた測定が可能です

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【分析事例】SIMSによるMEMS中ドーパントの三次元分布評価

【分析事例】SIMSによるMEMS中ドーパントの三次元分布評価

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イメージングSIMSにより微小領域・微量元素の濃度分布を可視化できます

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