受託解析の製品一覧
- 分類：受託解析
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二次イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です
- 受託解析
- 受託測定
- 受託検査
電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定することによって、物質の構成元素や電子構造を分析
- 受託解析
- 受託測定
- 受託検査
FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます
- 受託解析
- 受託測定
- 受託検査
電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です
- 受託解析
- 受託測定
- 受託検査
応用物理 2012年5月号執筆記事掲載のお知らせ
公益社団法人応用物理学会より発刊の月刊誌「応用物理」2012年5月号へ、MST一般財団法人材料科学技術振興財団が走査電子顕微鏡（SEM）について記事執筆を行いました。 ●雑誌概要 ・発行元：公益社団法人応用物理学会 ・掲載誌：2012年5月発行 応用物理 ・企画名：基礎講座 ＜ホップ・ステップ・ジャンプ＞シリーズ「走査電子顕微鏡」 ●MST寄稿概要 ・執筆者： 一般財団法人材料科学技術振興財団 分析評価部TMG リーダー 米光恭子 ・執筆内容： 走査電子顕微鏡の研究開発への応用－解析事例、こんなことに使われる ぜひご覧ください。
固体試料にイオンビームを照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱されてくるイオンのエネルギーおよび強度を測定する手法です
- 受託解析
- その他受託サービス
- 基板設計・製造
機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です
- 受託解析
- 受託測定
- 受託検査
ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製する加工法です
- 受託解析
- 受託測定
- 受託検査
50MHz～6GHz帯の20～40MHz BWをノートPCに連続収録・再生することができます。
- データロガー
- 記録計・レコーダ
- 受託解析
経験豊富な解析技術者が、乱流・燃焼・自由表面等の流体解析業務に迅速に対応、設計者をサポートします！
- 受託解析
- 解析サービス
経験豊富な解析技術者が熱伝導、対流、輻射などの熱解析業務に迅速に対応、設計者をサポートします！
- 受託解析
- 解析サービス
経験豊富な解析技術者が、複合材料・振動・形状最適化などの構造解析業務に迅速に対応、設計者をサポートします！
- 受託解析
- 解析サービス
大きな試作品、製品はございませんか？当社の大型引張試験機にて即座に対応します！引張試験は得意分野！治具の作成もお任せ下さい！！
- 受託解析
- 受託測定
![[その他試験機・ソフトウエア] 各種委託試験](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/849/2000131320/IPROS3771498059061950158.jpg?w=280&h=280){kind=small}
エア・ブラウンでは、各種試験機や小型シグナル（FFT）解析装置等のレンタル、委託試験も承ります！
- レンタル/リース
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