受託測定の製品一覧
- 分類：受託測定
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１００万回繰り返しても壊れない！確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。
- センサ
直径３０ｍｍ程度から8インチ、高ライフタイム、１万オームを超えるような高抵抗も対応可能！薄化、チップ加工もアレンジいたします！
- その他半導体
- 加工受託
- ウエハー
EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。
- 受託解析
- 受託測定
- 受託検査
UV-Visは波長ごとに分けた光を測定試料に照射し、試料を透過した光の強度を測定することで、試料の吸光度や透過率を求める手法です
- 受託解析
- 受託測定
- 受託検査
![[TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/371/2000823132/IPROS13976815575557580837.jpg?w=280&h=280){kind=small}
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応用物理 2012年5月号執筆記事掲載のお知らせ
公益社団法人応用物理学会より発刊の月刊誌「応用物理」2012年5月号へ、MST一般財団法人材料科学技術振興財団が走査電子顕微鏡（SEM）について記事執筆を行いました。 ●雑誌概要 ・発行元：公益社団法人応用物理学会 ・掲載誌：2012年5月発行 応用物理 ・企画名：基礎講座 ＜ホップ・ステップ・ジャンプ＞シリーズ「走査電子顕微鏡」 ●MST寄稿概要 ・執筆者： 一般財団法人材料科学技術振興財団 分析評価部TMG リーダー 米光恭子 ・執筆内容： 走査電子顕微鏡の研究開発への応用－解析事例、こんなことに使われる ぜひご覧ください。