受託測定の製品一覧

１００万回繰り返しても壊れない！確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。

センサ

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直径３０ｍｍ程度～8インチまで対応可能　高抵抗FZウエハ

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株式会社エナテック東京本社

直径３０ｍｍ程度から8インチ、高ライフタイム、１万オームを超えるような高抵抗も対応可能！薄化、チップ加工もアレンジいたします！

その他半導体
加工受託
ウエハー

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【分析事例】積層セラミックコンデンサ(MLCC)加熱SSRM評価

誘電体内の伝導パス(絶縁劣化箇所)の可視化

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【分析事例】XPSによる抗菌コートの評価

各種表面処理を検証可能

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受託検査

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【分析事例】半導体パッケージのはんだ濡れ性試験

劣化加速試験後の電極のはんだ濡れ性試験が可能です。

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【分析事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT二次元電子ガス層評価

製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です

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【分析事例】セラミックスのぬれ性原因評価

無機材料の親水・撥水箇所に特徴的な有機物の分析ができます

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【分析事例】テープストリッピング法トラネキサム酸の経皮吸収試験

皮膚への浸透性を定量的に評価

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【分析事例】SiCトランジスタのSlice&view故障解析

SEM像の3D化でリークパスを確認

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【分析事例】部材の有機汚染分析

TD-GC/MSにより部材に付着した微量の有機汚染を分析します。

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半導体検査/試験装置

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【分析事例】酸化ガリウムGa2O3イオン注入ダメージ層の評価

イオン注入後のアニール条件の違いによる差異を確認

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【分析事例】X線CTによる円筒形リチウムイオン電池の内部構造評価

非破壊で電池内部の電極間距離計測・欠陥調査が可能

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【分析事例】有限要素法による強誘電体キャパシタ金属の応力評価

昇温・降温時の異種材料間にかかる応力分布を定量化できます

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【分析事例】STEM、EBSD像シミュレーション多結晶体構造解析

像シミュレーションを併用した結晶形の評価

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【分析事例】ポリイミドのイミド化反応評価

加熱条件の違いによるイミド化の進行度合いをXPSで評価できます

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【分析事例】UV硬化樹脂の組成解析

ソフトイオン化法との併用で同定能力が向上します

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【分析事例】二次電池正極表面被膜の組成分析