受託検査の製品一覧
- 分類：受託検査
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試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です
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TOF-SIMS新サービス 2016年10月より提供開始のお知らせ
2016年10月、MSTは最新型の高分解能TOF-SIMSを導入し分析サービスを開始します。医薬品・バイオテクノロジ・医療機器や、エレクトロニクス関連の製品開発・品質管理など幅広い分野を対象に分析サービスを提供します。 これまでも実績のあるTOF-SIMS分析の技術を基盤に、さらに高品質なデータでお客様の研究開発をサポートします。 詳細は下記URLをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/corporate/tabid/1211/Default.aspx 分析事例のご紹介 •TOF-SIMS新サービスのご紹介【医薬品・バイオテクノロジ・医療機器向け】 http://www.mst.or.jp/special/tabid/1194/Default.aspx •TOF-SIMS新サービスのご紹介【エレクトロニクス分野向け】 http://www.mst.or.jp/special/tabid/1210/Default.aspx
株式会社日立ハイテクノロジーズ主催電子顕微鏡・FIBセミナー講演のお知らせ
株式会社日立ハイテクノロジーズ主催セミナー「日立材料解析セミナー 2012（名古屋）」にて、MST(財)材料科学技術振興財団が講師を務めます。 リチウムイオン二次電池の解析について、分析データを基にレビューを行います。 皆様のご参加をお待ちしております。 ●日時・会場 2012年02月03日（金） 13:00～17:40 愛知県名古屋市 瀧定ビル17階 ●聴講料・お申し込み 詳しくは日立ハイテクノロジーズウェブサイトをご覧ください。 ●MST講師の講座概要 ・タイトル 雰囲気制御下でのCryo FIB-TEM法 ～リチウムイオン二次電池への適用～ ・講師 (財)材料科学技術振興財団 分析評価部 TMG 江口 央
愛工舎 第6回新エネルギー試作・加工展 出展情報【小間番号：W6-6】
【展示会概要】 ■スマートエネルギーWeek2015 （内 第6回 新エネルギー 試作・加工展） ■日時：2015年2月25日（水）～27日（金） ■会場：東京ビッグサイト ■主催：リード エグジビション ジャパン株式会社 ■小間番号：W6-6 ■公式ホームページ：http://www.ptexpo.jp/ 【出展の見どころ】 ■SUS304 微細切削加工品 →SUS304を使用した外径0.5ミリから4.0ミリまでの微細パーツ ■マシニングセンタ微細穴加工品 →樹脂、ステンレス等各種材料への微細穴加工 ■外径0.03ミリ～超微細切削加工品 →最先端の微細コンタクトプローブパーツを提供 ■微細パーツアッセンブリ →コンタクトプローブ等、各種微細組立品の対応可 ※詳細はダウンロード資料よりご確認ください。 当日詳細をお聞きしたい方は事前ダウンロードよりアポイント申請フォームに記載の上、ご返信ください。
愛工舎 第6回新エネルギー試作・加工展 出展情報【小間番号：W6-6】
【展示会概要】 ■スマートエネルギーWeek2015 （内 第6回 新エネルギー 試作・加工展） ■日時：2015年2月25日（水）～27日（金） ■会場：東京ビッグサイト ■主催：リード エグジビション ジャパン株式会社 ■小間番号：W6-6 ■公式ホームページ：http://www.ptexpo.jp/ 【出展の見どころ】 ■SUS304 微細切削加工品 →SUS304を使用した外径0.5ミリから4.0ミリまでの微細パーツ ■マシニングセンタ微細穴加工品 →樹脂、ステンレス等各種材料への微細穴加工 ■外径0.03ミリ～超微細切削加工品 →最先端の微細コンタクトプローブパーツを提供 ■微細パーツアッセンブリ →コンタクトプローブ等、各種微細組立品の対応可 ※詳細はダウンロード資料よりご確認ください。 当日詳細をお聞きしたい方は事前ダウンロードよりアポイント申請フォームに記載の上、ご返信ください。
最低限実施しなければならない水質検査項目や法律が複雑で困るなど排水処理に関わる水質分析に関する冊子を無料進呈！
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- 食品試験/分析/測定機器
- 廃液/排水処理装置
他にも数多くの業務がある中で排水処理の管理業務が負担になっているなど排水処理に関わる運転管理に関する冊子を無料進呈！
- 受託検査
- 食品試験/分析/測定機器
- 廃液/排水処理装置
最低限実施しなければならない機器点検が分からないから、整備時期も分からないなど排水処理に関わる機器修繕に関する冊子を無料進呈！
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- 食品試験/分析/測定機器
- 廃液/排水処理装置
二次イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です
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電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定することによって、物質の構成元素や電子構造を分析
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FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます
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電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です
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応用物理 2012年5月号執筆記事掲載のお知らせ
公益社団法人応用物理学会より発刊の月刊誌「応用物理」2012年5月号へ、MST一般財団法人材料科学技術振興財団が走査電子顕微鏡（SEM）について記事執筆を行いました。 ●雑誌概要 ・発行元：公益社団法人応用物理学会 ・掲載誌：2012年5月発行 応用物理 ・企画名：基礎講座 ＜ホップ・ステップ・ジャンプ＞シリーズ「走査電子顕微鏡」 ●MST寄稿概要 ・執筆者： 一般財団法人材料科学技術振興財団 分析評価部TMG リーダー 米光恭子 ・執筆内容： 走査電子顕微鏡の研究開発への応用－解析事例、こんなことに使われる ぜひご覧ください。
機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です
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ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製する加工法です
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高機能炭素材、高度な化学技術、地域と生活に密着したサービスを提供します！
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