画像解析ソフトの製品一覧
- 分類：画像解析ソフト
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電池の基本概念から、利用目的・実現方法による分類までを体系化。複雑な電池選定の第一歩を、初心者目線で分かりやすくまとめました
- 電池・バッテリー
- 技術書・参考書
- 技術書・参考書
ラインカメラ運用で重要となる光学条件セッティングをあるべき箇所で角度調整が可能。取付の異なる照明を独自の取付機構でそのまま固定
- 画像処理用照明
- 画像解析ソフト
- 欠陥検査装置
【溶接外観検査システム】目視検査から３Dカメラとロボットを使った自動検査を実現。サンプルテスト実施中。
- 画像解析ソフト
【2024年7月30日(火)】「AIと既存設備の融合！『SearchMaru』で実現する検査DXと不良削減」 ウェビナー開催のご案内
既存の検査設備はそのままで現状の業務や工程にAIを組み込むことで検査DXを実現 お客様の声を形にした『SearchMaru』だからこそ AI導入で発生しがちな課題を解決します。 さらに検査画像データを最大限活用することで 不良削減に繋げる方法をデモを交えてご紹介します。 ＜こんな方におすすめ＞ ・検査設備の継続利用とDXの両立を目指す方 ・検査画像データの有効活用方法を探している方 ・製造現場のAI活用により生産性向上に興味がある方
Unity、iOS/iPadOS、Androidに対応！マーカレスでお手軽モーションキャプチャが可能な姿勢推定AIエンジン
- 画像解析ソフト
AIカメラやAIチップに搭載可能な姿勢推定AIエンジン「VisionPose」です。工場システムなどIoT×AIの開発に利用可。
- 画像解析ソフト
溶接の外観検査のために開発されたから"目視"→"自動"への移行がスムーズです。
- 画像解析ソフト
【溶接検査を自動化】新しい資料集を公開しました！
コアテックの三次元計測システム「POLASTAR」なら今まで目視での検査に頼っていた溶接外観検査の自動化を実現！ 自動化を実現できた理由については…資料集をご確認ください！ その他にも、ここ最近の溶接検査にまつわる事情からPOLASTARを選んでいただいた理由までを全20ページ超のボリュームで解説しています。 溶接外観検査の自動化を御検討中の方はもちろん、 検査のトレーサビリティ化、検査員の人員確保や技量による検査結果のバラつきにお悩みの方にもおすすめします。
200万個以上の粒子を学習済の高精度AIモデル搭載！二値化で解析困難な場合がある粒子・粉体の精密解析が可能な画像解析ソフトウェア
- 画像解析ソフト
- 画像解析
【2025年2月19日(水)～21日(金)】『BATTERY JAPAN 国際二次電池展』出展のお知らせ
BLUE TAG株式会社は、東京ビッグサイトにて開催される 『BATTERY JAPAN 二次電池展』に出展いたします。 当展示会は、二次電池の研究開発、製造に必要なさまざまな技術、部品・材料、 装置が出展し、世界各国から専門家が来場する展示会として業界に定着しています。 当社は、Deep Learningを用いることで従来の画像処理では解析困難であった 粒子・粉体画像に対して、個別粒子・粉体の高精度な検出・分類、正確な計測を 実現したAI粒子画像解析ソフトウェア「AIPAS」を展示予定です。 皆様のご来場を心よりお待ちしております。
"AlphaFold 2" を搭載したタンパク質構造予測ソフトウェア「NovaFold AI」
- その他理化学機器
- 画像解析ソフト
- 分析機器・装置
産業用CTデータの解析・可視化を行うハイエンドなソフトウェアです。モジュールによる解析システムの構築も可能です。※デモ可能
- 分析機器・装置
- 三次元測定器
- 画像解析ソフト
3つのカタログと動画も掲載。「パワー半導体の故障部位が深くて観察しづらい」といった問題に！故障原因の解析もお任せください。
- その他半導体
- その他解析
- 画像解析ソフト
X線CTを使った非破壊解析【STEP/STLファイル作成にも対応】
自動車の電装化が進むにつれ、部品の採用車種や一台当たりの搭載部品点数が飛躍的に増大。開発段階においては、試作品の評価工数の短縮が、ますます要求されています。 従来、試作品の製造品質確認や信頼性評価は、破壊解析によるものが主流でしたが、工数もかかるうえに、問題が無かったとしても、一度破壊してしまった試作品や市場不良・工程不良品を元に戻す事は出来ません。 そこで、非破壊のままでも多くの有益なデータを得たい、直接目視できないモジュール内部の出来栄えを確認したい、信頼性試験による劣化調査を行いたい、といった要望が高まっています。 「クオルテック 名古屋品質技術センター」では、高い透過力と解像度を併せ持つX線CT「FF35」を導入。より良い観察の提案が可能です。クオルテックでは、今後も、開発段階の試作品や、市場不良品・工程不良品の非破壊解析サービスを強化していきます。
試料表面で生じる電子線後方散乱回析により金属など結晶性材料の結晶方位・粒径・歪み分布などに関する情報を取得することが出来ます。
- その他解析
- 画像解析ソフト
- 超音波発振器
SEMでの高倍率観察中に試料の特定箇所をピンポイントで評価できるため、μmオーダーの微小領域分析が可能です。
- その他半導体
- その他解析
- 画像解析ソフト
超音波の性質を顕微鏡の観点から言えば、分解能の良い計測が可能なことを意味します。波の性質を利用して指向性を高めることも可能です。
- その他解析
- 画像解析ソフト
- 超音波発振器