駆動/光学デバイスの位置精度や解像度チェック用『校正用プレート』
位置精度や解像度チェックを目的に、FA分野のお客様からお引合い多数。アフターサポートとしてキズ修正・再コーティング等にも対応
竹田東京プロセスサービスの『校正用プレート』は、 透明な素材（PET ・ガラス）に対し、高精度・高解像度のパターンを形成した製品です。 パターンの形状は、光学デバイスの解像度チェックを目的として、点ないし線状のチャートを規則的に配列したもの、 位置精度のチェックを目的としてドットパターンや十字マークを規則的に配列したものなどがあります。 当社のフォトマスクは、工程ごとの厳しい品質管理を徹底するとともに、最新装置を駆使した短納期・低コストを実現することで、 半導体・電子部品・プリント基板・LCD等向けに、お客様の様々なご要求にお応えしています。 【特長】 ■透明な素材（PET ・ガラス）に対し、高精度・高解像度のパターンを形成 ■測定公差 ・校正事業者登録制度の下で認定された業者による外部校正も可能 ・校正証明を付与し、トレーサビリティが取れていることを確認できる ■アフターサポート：キズ修正/再コーティング/洗浄 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
