分析計×サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社／Thermo Fisher Scientific K.K. - 企業1社の製品一覧

Orbitrap Astral質量分析計

正確で精密な定量を実現！テクノロジーの相乗効果でデータ収集の強化

当社のOrbitrap Astral質量分析計をご紹介いたします。高選択性と高イオン透過率の四重極アナライザー、高ダイナミックレンジと高分解能測定を実現するOrbitrapアナライザー、そして高速かつ高感度測定を実現する新しいAstralアナライザーの3つのアナライザーを搭載しています。これにより、質量分析の性能の新しい基準を達成し、従来の質量分析計と比較して最大2倍深いプロテオームカバレッジと最大4倍のスループットを実現します。ラベルフリー定量またはマルチプレックス定量を使用した、より広いダイナミックレンジで正確かつ精密な定量により、重要な生物学的知見を発見することができます。【特長】 ■四重極、Orbitrap、Astralアナライザーを搭載 ■Orbitrap ：最大分解能（FWHM @ m/z 200）: 480 000 ■Astral ：分解能（FWHM @ m/z 524）80 000かつ最大スキャン速度 >200 Hz ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社／Thermo Fisher Scientific K.K.
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その他計測・記録・測定器
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高精度安定同位体比質量分析計『253 Plus』

先端同位体科学研究でも活躍！高精度安定同位体比分析向け上位モデル

主に炭素、窒素、硫黄、酸素、水素といった軽元素の安定同位体比分析装置（Gas IRMS）です。 Thermo Scientific DELTA Q安定同位体比質量分析計の上位モデルで、先端同位体科学研究でも活躍する高い性能を発揮します。 ■高精度安定同位体比分析・10 kVの加速電圧による優れた感度、安定性、堅牢性、信号直線性・微量試料も高精度に分析可能・国際標準物質の認証値決定における実績多数 ■各種前処理装置と組み合わせて、多彩な同位体比分析アプリケーションに対応・前処理装置とシームレスに接続・統合制御可能・特に、デュアルインレットシステム専用Thermo Scientific Kiel IV自動炭酸塩前処理装置との組み合わせで、古気候や古環境研究において卓越した性能を発揮 ■Clumped Isotope/Isotopomer研究をはじめとする新たな同位体科学研究分野を切り拓く高い性能・従来機種と比べて分解能が向上・新たな信号積算技術（Long Integration Dual Inlet、LIDI法）を導入・極微量測定用10^13Ω抵抗付アンプを搭載

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表面電離型質量分析計（TIMS）『TRITON』

金属元素の精密同位体比分析に実績のあるTIMS

主に金属元素などの同位体比分析（IRMS）のための表面電離型質量分析計（TIMS）です。精製後の試料をフィラメントに塗布し、真空下で熱イオン化させる手法により測定します。 ■高精度な同位体比分析が可能・イオンのエネルギー散乱が小さく、精密分析が可能・25年以上に渡る実績と信頼＜代表的な測定対象元素＞・地球化学分野：ネオジム（Nd）、ストロンチウム（Sr）、リチウム（Li）、鉛（Pb）など・原子力分野：ウラン（U）、プルトニウム（Pu）など＜代表的なアプリケーション＞・宇宙地球化学的研究（地質や隕石試料などの年代測定、物質循環研究）・原子力安全保障、核査察・環境放射能研究（90Srなど）詳しくはPDFをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。

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Niton ハンドヘルドXRF分析計

30年にわたり世界中のさまざまな業界で活躍する、信頼のNitonハンドヘルドXRF分析計

1994年以来、Thermo Scientific Niton ハンドヘルド蛍光X線（XRF）分析計は、ラボ品質の元素分析を現場で行うための信頼できる分析計として選ばれてきました。過酷な条件下でも使用できるように設計された、この使いやすいハンドヘルドXRF分析計は、優れた検出下限と非常に速い測定時間を提供し、現場での確実な意思決定を可能にします。

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蛍光X線分析装置

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グロー放電質量分析計『ELEMENT GD Plus』

材料中の主成分～極微量元素の組成・分布を簡単に分析

グロー放電質量分析計（GD-MS）は、固体試料表面の元素をアルゴンプラズマでサンプリングして分析するシステムです。ELEMENT GD Plus GD-MSは、連続／パルス放電の切り替えが可能な高圧グロー放電イオン源を採用し、分析のスピードと柔軟性を両立します。 ■固体材料の元素組成を迅速分析・70元素以上を一斉分析・XRFやOESでは検出困難なサブppbレベルから、主成分までカバーする12桁のダイナミックレンジ・標準試料不要の半定量分析。標準試料の使用で精密定量も可能・ハイスループット：高圧グローの迅速なサンプリングと真空排気により、試料交換を含めて約10分/試料で分析 ■幅広い材料・元素に対応・金属・半導体材料の迅速分析。パルス放電＋二次電極で非導電性のセラミックスなども分析可能・新開発イオン源オプションによるC・N・Oの高感度分析・パルス放電＋冷却機構による低融点元素Ga・In・Teの高感度分析 ■多元素一斉・広いダイナミックレンジの深さ方向分析パルス放電によるnmオーダーの薄膜の分析から、SIMSでは長時間を要する深さ～100 µmの迅速分析まで対応

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