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測定器(co) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年07月09日~2025年08月05日
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測定器の製品一覧

166~180 件を表示 / 全 238 件

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【カーボンニュートラル】粒子径分布・形状測定装置

CO2を排出しないクリーンエネルギー“電池” の材料評価に ~粒子径分布と粒子形状評価を1台の装置で

Microtrac MRBのコア技術であるレーザ回折・散乱式と動的画像解析式を1台の装置に融合。 特許取得済のシンクロナイズ測定技術により、一度の測定で、粒子径分布と粒子形状の多角的な評価を実現しています。 【用途】 多種多様な適応材料、アプリケーション 電池材料、セラミックス、3Dプリンター用金属材料、ガラスビーズ、樹脂、建築材料(骨材、セメント)、製薬、食品、香粧品等 ※詳しくはお問い合わせください。また、デモ・サンプル分析も受け付けておりますので、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【カーボンニュートラル】粒子径分布/粒度分布・ゼータ電位測定装置

CO2を排出しないクリーンエネルギー“電池” の材料評価に ~粒子径分布(粒度分布)・ゼータ電位測定を1台の装置で

NANOTRAC WAVE IIシリーズは、光学プローブによる後方散乱法測定を用いた粒子径分布(粒度分布)・ゼータ電位装置です。 低濃度から高濃度まで安定したデータを得ることが可能です。 【用途】 電池材料、飲料・食品・製薬・化粧品・セメント・インク・塗料・顔料・半導体・鉱物・高分子材料・ポリマー ※詳しくはお問い合わせください。また、デモ・サンプル分析も受け付けておりますので、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【カーボンニュートラル】比表面積/細孔分布測定装置

CO2を排出しないクリーンエネルギー“電池” の材料評価に ~Xの"卓越した優位性"を搭載した比表面積・細孔分布測定装置

BELSORP MINI Xは比表面積評価による導電材の性能把握が可能な製品です。 また、全固体電池の電極材料(酸化物・硫化物)を大気にさらすことなく比表面積や緻密性(細孔分布)の評価を実現しました。 近年、世界中でHe ガス供給不足が叫ばれている中、Heガスを利用せずに高精度な比表面積評価が可能な製品です。 【用途】 触媒・電池電極/導電材・カーボン・薬品・化粧品・セメント・トナー・顔料・セラミックス・半導体" ※詳しくはお問い合わせください。また、デモ・サンプル分析も受け付けておりますので、お気軽にお問い合わせ下さい。

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高精度ガス・蒸気吸着量測定装置『BELSORP MAX X』

【pdf資料進呈】新世代BELSORP MAXシリーズ遂にリリース:最高性能を最高品質で!

高精度ガス・蒸気吸着量測定装置『BELSORP MAX X』をご紹介いたします。 最大4検体同時に比表面積・細孔分布評価が可能です。 比表面積:0.01m 2/g以上(N2)、0.0005m 2/g以上(Kr) 細孔分布:0.35~500nm (直径) また、各種蒸気吸着測定により、材料表面の親水性・疎水性評価、各種材料の 溶剤回収、脱臭能力などを把握することが出来ます。 【特長】 ■最大4検体同時に測定 ■低温~高温、極低相対圧~高相対圧等、広範囲な条件下でガス・蒸気吸着等  温線測定 ■フリースペース連続測定法(AFSM):少量のサンプル量で高精度で  再現性の高い測定 ■測定時間を大幅短縮 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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レーザーフラッシュ法熱物性測定装置『DLF』

広い温度範囲にわたって測定可能!優れた正確度と精度を備えた熱物性測定装置

『DLF』は、広い温度範囲にわたって熱拡散率を測定できるレーザーフラッシュ法 熱物性測定装置で、幅広い熱特性を持つ材料の比熱容量と熱伝導率を測定します。 すべてのシステムには、生産性が数倍向上し、比熱容量測定が改善した、 多検体試験機能が含まれます。モジュラー構造で柔軟性が高いため、 ニーズの変化に合わせて他の環境モジュールや光源モジュールを追加可能です。 当社では、1200℃までの検体の測定が可能な卓上型の「DLF 1200」や、 1600°Cまでの検体の測定が可能な自立型の「DLF 1600」などをご用意しております。 【特長】 ■広い温度範囲での測定が可能 ■高い正確度と精度 ■操作が簡単 ■ルス幅300μs~400μsのコリメート式単色エネルギーパルスを発生

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  • 分析機器・装置

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非接触式シート抵抗測定機『LEI-1510シリーズ』

広い範囲で優れた測定直線性!三次元グラフィックマップとしてPCモニター上で確認可能

『LEI-1510シリーズ』は、旧リハイトン社製の非接触式シート抵抗測定機です。 ロボットを取り付ける事により、多数枚を迅速に計測処理する事が可能。 四探針方式で起こる、探針の接触汚染や接触具合による再現性の問題を 解決します。 2インチから最大8インチまでのSiウェーハ、化合物半導体(GaAs、GaN、InP等) epiウエハを非接触・破壊にてシート抵抗を測定します。 【特長】 ■探針の接触汚染や接触具合による再現性の問題を解決 ■多数枚を迅速に計測処理する事が可能 ■0.035~3200ohm/sq.という広い範囲で優れた測定直線性 ■計測データを三次元グラフィックマップとしてPCモニター上で確認可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • 半導体検査/試験装置

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【デモ機貸し出し可能】デジタル線幅測定機

デモ機貸し出し可能!プリント配線板の導体幅や絶縁間隔を測定する新ツール!

『AccuLine II』は、プリント配線板の導体幅(トップ・ボトム)や絶縁間隔を 測定できるデジタル線幅測定機です。 スタンドアローンで、導体幅(最大900μm、最小30μm)の自動測定が可能。 TH径(最大 700μm)の手動測定もできます。 また、操作性や測定ターゲット合わせ、メモリ機能が大幅に改善しました。 「アドバンスタイプ」「ベーシックタイプ」「マニュアルタイプ」の3種類を ラインアップしており、お客様の用途に合わせてお選びいただけます。 【特長】 ■スタンドアローン ■自動測定・手動測定が可能 ■導体のボトム・トップ幅を同時測定 ■3.5インチカラーLCD搭載 ■設定により合否判定を表示可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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RI計器水分密度測定器ANDES SRDM-2SV レンタル

放射性同位体チップの付いた線源棒を土中に挿入して、放射線の減衰率から、土の水分量と密度を求めます。

***特長*** ・マイクロコンピューター内蔵の土の現場密度水分計(RI計器)。 ・締め固め状態をその場で判定できます。 ・どのような土質でも測定が可能です。 ・わずか1分でスピーディーに測定します。 ・低レベル線源だから安全、しかも簡単です。 ・データ分析を行う計算機能を備えています。 ・プリンター付きだから測定データが保存できます。

  • その他

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陽電子消滅寿命測定/ドップラー拡がり測定装置

高効率のデジタル計測。 寿命スペクトルと波形ファイル保存が可能!

分子レベルのナノスケール空間構造を解析できる陽電子消滅法の測定に必要な計測・電源機器を一体化。 コンピュータにインストールされた付属の専用アプリケーションからネットワーク経由で各モジュールへの設定とデータの読み込みを行います。 PALSは2台のBaF2シンチレーション検出器からの高速パルス信号を3Gspsのモジュールで取り込み算出。 CDBでは2台のゲルマニウム半導体検出器からコインシデンスを取り、それぞれの波高値から2次元ヒストグラムを生成。 さらにこれらの機器の組み合わせにより寿命と運動量の相関をとるAMOCの計測も可能。

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【カーボンニュートラル】粒子径分布・形状測定装置

CO2の有効利用を目的としたセメント・コンクリートの材料評価に ~粒子径分布と粒子形状評価を1台の装置で ~

Microtrac MRBのコア技術であるレーザ回折・散乱式と動的画像解析式を1台の装置に融合。 特許取得済のシンクロナイズ測定技術により、一度の測定で、粒子径分布と粒子形状の多角的な評価を実現しています。 【用途】 多種多様な適応材料、アプリケーション 電池材料、セラミックス、3Dプリンター用金属材料、ガラスビーズ、樹脂、建築材料(骨材、セメント)、製薬、食品、香粧品等 ※詳しくはお問い合わせください。また、デモ・サンプル分析も受け付けておりますので、お気軽にお問い合わせ下さい。

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蛍光X線式測定器『XDALシリーズ』

非破壊で膜厚測定と素材分析ができる!品質管理や生産管理における測定にも好適!

『XDALシリーズ』は、微小部品や複雑な構造部品を非破壊で膜厚測定と 素材分析をするのに好適な蛍光X線式測定器です! また、プログラム可能な電動式XYステージを搭載しており、自動測定で 品質管理や生産管理における測定にも適しています。 さらに当シリーズは、FISCHERSCOPE X-RAYシステムの特長である 高精度かつ長期安定性により再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。 【特長】 ■微小部品や複雑な構造部品を測定可能 ■非破壊で膜厚測定や素材分析ができる ■プログラム機能付き電動式XYステージを搭載 ■品質管理や生産管理における測定にも好適 ■再校正(キャリブレーション)に必要な時間や労力を大幅に削減 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 膜厚計
  • 蛍光X線分析装置

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蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』

ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線式測定器!

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。 ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計された モデルです。 さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、電動式で 切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 【特長】 ■ユーザーフレンドリーな構造 ■革新的なポリキャピラリーレンズを搭載 ■高精度で高分解能な検出感度を実現 ■再校正に必要な時間や労力を大幅に削減可能 ■簡単に膜厚測定と素材分析ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 蛍光X線分析装置

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VERSATILE TEC / 自動フロントエンド測定機

缶高さ、板厚の最大・最小・平均値、また缶底の深さを測定する事が可能!

Versatile technology(ヴァーサタイル・テクノロジー)社製 自動フロントエンド測定機は、360º の自動スキャンを行う事によって缶高さ、板厚の最大・最小・平均値、また缶底の深さを測定する事が可能。 また測定結果は液晶タッチパネルにリアルタイムで表示。 板厚の垂直方向の連続測定にて、板厚分布の取得も可能。 測定可能缶は 202, 204, 206, 211径、缶高さが250mlから610mlのトリム缶(ルブリカント缶)とカップ。 型替えは必要ありません。

  • その他検査機器・装置

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マルチ環境測定器『testo480(テストー)』レンタル

室内空気品質に関連するすべてのパラメータを1台で測定、分析、記録!

『testo480』は、換気や室内空気品質に関連するすべてのパラメータを1台で 測定、分析、記録できる、使いやすい高精度な多機能環境計測器です。 ピトー管を使った測定や空調用フィルタ/クリーンルームのチェックのための 高精度な差圧センサを内蔵。 また、風速および風量をはじめ、温度、湿度、圧力などの測定に対応した 豊富な種類の高品質なプローブが用意されています。 当製品は、作業の効率性を高め、作業をより簡単に実行できるように設計されています。 【特長】 ■高精度な差圧センサを内蔵 ■豊富な種類の高品質なプローブ ■最大6、000万件の測定結果を保存できる大容量メモリ ■PCとUSB接続してメモリに保存された測定データを直接転送 ■専用のデジタルプローブを採用、極めて高精度な測定結果が得られる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • レンタル/リース

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ASC IMU 7シリーズ 慣性測定装置

主な市場:自動車、鉄道、農業、土木、海洋

ASCの慣性測定ユニット(IMU)は、ジャイロスコープと加速度計の組み合わせを使用して線形および角運動を測定する6軸システムです。 ASC MEMS IMU 7.x.yには、3軸加速度計と3軸ジャイロスコープを含む 精密慣性センサが組み込まれています。 これにより、IMUは生の加速度信号および回転速度信号を出力し、これを積分して実際の位置と方向を得ることができます。 ASC IMU 7.x.yは、ASC LNシリーズ(低騒音)加速度計または ASC MFシリーズ(中周波)加速度計のいずれかを内蔵しており、 加速度範囲は±2g〜±50gです。 IMU 7.x.yは、±75°/ s〜±900°/ sの範囲の MEMS振動リングジャイロを備えています。 ユーザは、広範囲の加速および回転速度範囲から選択してIMUを構成 することが出来ます。 軽量、低消費電力、広範囲温度対応。

  • センサ
  • 試験機器・装置

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