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測定(光) - List of Manufacturers, Suppliers, Companies and Products

Last Updated： Aggregation Period:2025年08月20日～2025年09月16日
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測定 Product List

16～30 item / All 35 items

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【遠赤の話】分光放射率の測定について

【遠赤の話】分光放射率の測定について

分光放射率の測定方法や、装置についてご紹介！

有限会社AMKは、工業用遠赤外線ヒーターと加熱装置・乾燥装置を取り扱って いる会社です。 遠赤外線ヒーターの効果を確認する方法の一つに波長毎の放射率を測定する ことが可能です。分光放射率といい測定方法はJIS R 1801に規定。 測定器はフーリエ変換赤外分光装置で略してFTIR装置といいます。 原理は光の干渉波形を空間や時間の関数として計測し、フーリエ変換すること によりスペクトルを得る装置です。現在ではFTIRでの分光放射率測定が主流。 得られるグラフは横軸が振動数(波長)で縦軸は1(黒体)から0となっていて、 各波長で1に近ければ近いほど黒体並みの放射率ということになります。 ただこれは各波長毎の黒体との比率であることに注意してください。 測定で難しいのは　光源である黒体炉の温度と試料の表面温度を正確に測定 すること。かなりの技術と慣れが必要で測定する人や、測定機関により 違った結果が出ることも多々あります。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他ヒータ
  • 加熱装置
  • 乾燥機器

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分光測色色彩色差/濁度同時測定器　ハ－ゼン色数・ＹＩ・ヘーズ測定

分光測色色彩色差/濁度同時測定器　ハ－ゼン色数・ＹＩ・ヘーズ測定

色彩と濁度を同時に測定！ 一台でハ－ゼン色数（APHA）・ASTM色数・ヘ－ズ・濁度・分光透過率・吸光度など測定が可能。

『TZ-7700』は、一台で分光透過率・色彩値・石油製品色・ヘーズ(濁度)・ 色汚染度(排水着色度)の5種類の測定が行える測定器です。 白色LEDを採用し、400nm～700nmの波長範囲を出力10nm間隔で測定。 今まで複数の測定器使用が必要だった作業が一回の測定で計測が可能です。 ◇試験管やディスポセルでの測定もできます（オプション） 【特長】 ■色彩と濁度を同時測定 ■白色LEDを採用した分光方式 ■標準の光以外に他光源下での色彩測定が可能 ■大型開放型スライド式扉採用 ■見やすい大型カラー液晶表示採用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器

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ウエハーステップハイトのインプロセス測定

ウエハーステップハイトのインプロセス測定

「CHRocodile 2 DPS色収差共焦点センサー」は、独立した2つの測定チャネルを搭載しております

研削作業では、加工中にウエハーの厚さを調整する必要があります。 非接触・非破壊の光学測定法であれば、ワークにストレスを加えたり ワークを破壊したりすることなく加工中のウエハーの厚みがモニター されるため、ソリューションとして好適です。 当社の「CHRocodile 2 DPS色収差共焦点センサー」は、独立した2つの 測定チャネルを搭載しています。 センサーは2つの色収差プローブを処理し、測定値と出力をリアルタイム に同期。ウエハーの最終的な高さや厚さを出力します。 【特長】 ■10年以上に及ぶCMPおよび研削の干渉測定から得たノウハウにより、 　過酷な環境向けの色収差プローブの開発を実現 ■過酷な環境におけるウエハー厚の非接触式測定 ■プローブごとに10 kHzのデータ取得レート ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • センサ

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測色計・分光色彩色差/濁度同時測定器　APHA・ＹＩ・ヘーズ測定

測色計・分光色彩色差/濁度同時測定器　APHA・ＹＩ・ヘーズ測定

色彩と濁度を同時に測定！ 一台でハ－ゼン色数（APHA）・ASTM色数・ヘ－ズ・濁度・分光透過率・吸光度など測定が可能。

『TZ-7700』は、一台で分光透過率・色彩値・石油製品色・ヘーズ(濁度)・ 色汚染度(排水着色度)の5種類の測定が行える測定器です。 白色LEDを採用し、400nm～700nmの波長範囲を出力10nm間隔で測定。 今まで複数の測定器使用が必要だった作業が一回の測定で計測が可能です。 ◇試験管やディスポセルでの測定もできます（オプション） 【特長】 ■色彩と濁度を同時測定 ■白色LEDを採用した分光方式 ■標準の光以外に他光源下での色彩測定が可能 ■大型開放型スライド式扉採用 ■見やすい大型カラー液晶表示採用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器

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受託・委託測定（粒度分布、粉塵爆発、細孔分布他）

受託・委託測定（粒度分布、粉塵爆発、細孔分布他）

粉体機器メーカーだからできる測定がある！！　粉の物性でお困りの際はご連絡ください。

セイシン企業の粉体測定センターでは受託測定業務を行っております。単発的に発生する測定や、品質管理として断続的に行なう測定などに、便利にご利用いただけます。必要なとき、必要なデータが敏速かつ正確にえられます。セイシン企業粉体測定センターでは皆さまのご要望にお応えできる測定技術とノウハウを兼ね備えています。粉体に関することなら日本で一番の知識と経験があると自負しておりますので是非一度ご相談下さい。お待ちしております。

  • 受託測定

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高速かつフレキシブルなガラス肉厚測定

高速かつフレキシブルなガラス肉厚測定

高い柔軟性と効率性！測定点は最大12.5 mmの長さを持つライン上に広がっています

容器ガラスのびんを生産する際、生産速度が速いにもかかわらず、 びん1本1本の肉厚を検査する必要があります。 そして、容器の重要部分を測定する場合や、黒色ガラスや非球形容器を 測定する場合既存のポイントプローブセンサーでは難しい現状です。 当社の「CHRocodile MPS 2Lセンサー」は、測定点最大12.5 mmの長さを 持つライン上に広がっています。 高い柔軟性と効率性で、各チャネルを個別に処理できるため、1本の ラインプローブと最大12個の追加のポイントプローブを使用した 構成なども可能です。 【特長】 ■ラインプローブごとのデータ収集レートは4.5 kHz ■CHRocodile MPS 2Lによる毎秒108,000点の測定 ■移動速度の速いサンプルでもインライン検査が可能 ■使用するチャネル数を減らすことでサンプリングレートが増大 ■CHRocodile MPS 2Lは最大24個の独立したチャネルの測定、プローブの 　ラインに沿った測定点の選択機能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • センサ

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装置・精密部品内の清浄度を測定『空気中パーティクルカウンター』

装置・精密部品内の清浄度を測定『空気中パーティクルカウンター』

多くの製薬会社などで導入！PIC/S対応の清浄度監視システムも提案！資料進呈中

当社では、BECKMAN COULTER（ベックマンコールター）社の 『MET ONE 気中パーティクルカウンタ』をご提供しています。 測定する清浄度や測定粒径、目的に応じたモデルを取り揃え、 製薬、ライフサイエンス、電子工学、航空宇宙、食品、半導体、精密機械など 幅広い分野で多数導入されています。 【特長】 ■光散乱方式を採用した微粒子測定 ■ハンドヘルド、ポータブルなど豊富な測定機器のバリエーション ■測定粒子径が幅広く、２粒径監視もOK。PIC/S GMPに対応 ■測定機器に合わせ、日本語に対応した監視システムも提案可能 ただ今、「微粒子測定の基本」「パーティクルカウンタの選び方」などがわかる 小冊子をダウンロードで進呈中！お問い合わせもお気軽にどうぞ。

  • パーティクルカウンター

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分光透過率・反射率測定

分光透過率・反射率測定

材料の分光透過・反射率の測定、透過・反射の散乱特性など、スタンダードな測定メニュをご用意しております。

「紫外可視近赤外分析光度計による分光透過率・反射率測定」 紫外可視から近赤外域までの測定範囲をカバーし、物性の分光特性を解析します。 ●測定応用例 ガラスやプラスチック材料を用いた光学部品の透過率、反射率、及び製品の光学特性の測定 「ゴニオフォトメータによる散乱測定」 フィルムなどの物質の光学特性（透過散乱測定、反射散乱測定）を、目的に応じた種々の光を当てながら受光器を自動で回転させることによって測定します。 ●測定応用例 ・フィルム、ガラス基板等の透過、反射特性の角度変化の測定 ・BRDF、BTDFの測定

  • 受託測定
  • 受託解析

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蓄電池・バッテリーの測定をサブミクロン分解能で高速高精度で測定

蓄電池・バッテリーの測定をサブミクロン分解能で高速高精度で測定

高温環境での平坦度測定や製造工程中の異物検査、ボタン電池のエッジ形状検査、セパレーター厚みやコーティング厚みの測定等の実績豊富！

当社は色収差共焦点・干渉を原理とした非接触タイプの測定器を取り扱っています。 膜厚測定、形状測定、粗さ測定、変位測定、外観検査に適用でき、加工中のインプロセス測定やインラインでの高速検査、オフライン測定が可能です。 各種インターフェースを用意しており、組み込み用途にも対応。 高分解能（最小XY分解能1μm～、最小Z分解能0.02μm～）で測定が行え、製品品質の向上、製造プロセスの時間・コスト削減に貢献します。 シングルポイントセンサでは、低価格向けの製品（CHRcodile C, CHRocodile Mini)も２種類用意しています 【特長】 ■幅広いセンサラインナップ 　　各種センサプローブの中から検査要件、材質に応じて選択可能 ■測定範囲に応じたセンサ 　　シングルポイントセンサ、ラインセンサ型、エリアスキャン型をご用意 ■用途 　　PCBフレキの検査、ワイヤループ検査、ウエハバンプ検査などに活用可能 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

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  • その他計測・記録・測定器

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電気光学効果電界プローブ 過酷な環境でのEMF測定！

電気光学効果電界プローブ 過酷な環境でのEMF測定！

水中、オイル中 での利用可能な光プローブ・光電界センサ

eoProbeは、電気光学技術（ボッケルス効果）に基づいた光電界センサで一軸を測定します。この超広帯域センサは、過酷な条件下で、ほとんどすべての場所および環境（空気、液体、気体、真空）で正確な測定を可能にします。 Kapteosシステムは、このボッケルス効果を利用した電気光学プローブeoProbeとハイエンドコンバータeoSenseにより革新的な電界測定を実現しました。その測定性能は、数MV / mを超え、40 Hz〜100 + GHzの超高帯域幅や、水中などの非常に過酷な環境で最も高度な機能を提供します。 ＜電場ベクトルの包括的測定＞ 電気光学技術に基づいたボッケルス効果によりベクトル電界の3つの成分と位相を測定することができます。また縦方向,横方向タイプの2種類のプローブにより、eoSensorコンバータと使用することで3軸のベクトルを正確に識別・測定することができます。 ＜非侵襲的測定＞ 金属部品を使用しないセンサの能動部品は基本的にクリスタルです。測定信号は光ファイバーリンク内のレーザーによって送信されます。MRIシステム内の動物組織、果物または野菜の内側の電界測定も可能です。

  • 光学測定器
  • EMC試験
  • プローブ

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透明体の厚み測定

透明体の厚み測定

センサの設置方法や設置角度の考え方、屈折率と測定値の関係について解説！

汎用的なレーザ変位センサ(三角測距を応用したレーザ変位センサ)を 使用し、透明ガラスの厚み測定を行う場合の、センサの設置方法と光の 屈折による誤差の補正方法について解説いたします。 透明ガラスにレーザ光を垂直に当てると、ほとんどの光が透過し、 透明ガラス表面からはほとんど反射光が得られません。 そのため、一般的な拡散反射光を利用するレーザ変位センサの場合、 透明ガラスに対して垂直にレーザ光を照射するように設置すると、 透明ガラスからの反射光が得られないため、厚み測定はできません。 ※記事の詳細内容は、添付のPDF資料より閲覧いただけます。 　詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

  • センサ

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光触媒『チタニスター』スポンジチタンのBET法による比表面積測定

光触媒『チタニスター』スポンジチタンのBET法による比表面積測定

スポンジチタンラージおよびスポンジチタンスモールの観察をご紹介

スポンジチタンスモールを処理品および無処理品に分類し、 走査型電子顕微鏡(SEM)により表面状態差について、それぞれ倍率を変えて観察しました。 【BET法】 ■スポンジチタンラージ ・BET 比表面積 5.4203m2/g micropore(細孔径40 オングストローム以下) ・BET 比表面積 4.1314m2/g macropore(細孔径40～360 オングストローム以上) ■スポンジチタンスモール ・BET 比表面積 3.3912m2/g micropore(細孔径40 オングストローム以下) ・BET 比表面積 2.5581m2/g macropore(細孔径40～360 オングストローム以上) 【スポンジチタン表面のSEMによる観察】 SEM観察写真はPDF資料をご覧ください。 ※その他の詳細は、PDFをダウンロードしてご覧ください。

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  • その他高分子材料

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【レンズ分析】複屈折測定

【レンズ分析】複屈折測定

光が異なる方向に異なる速度で進む現象！皆様のモノづくりを強力にサポート

当社では、光学性能を評価するアプリケーションの一つとして 複屈折測定サービスを提供しております。 複屈折とは、光が異なる方向に異なる速度で進む現象で、材料の分子配向や 射出成型時に生じる内部応力が主な要因。この現象により、レンズの 光学性能が低下し、画像の歪みや焦点のずれが生じることがあります。 東京晨美光学電子はマイクロレンズ開発で培った様々な経験とノウハウを もって皆様のモノづくりを強力にサポートいたします。 【事例概要】 ■測定項目：複屈折 ■測定器：小型レンズ用複屈折分布測定システム「Photonic-lattice製 　WPA-100」 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 受託解析

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3D形状測定(3Dマクロスコープ・レーザ顕微鏡)

3D形状測定(3Dマクロスコープ・レーザ顕微鏡)

形状仕上がり検証、実装品質へ寄与！広範囲を短時間で測定することが可能

「3D形状測定(3Dマクロスコープ・レーザ顕微鏡)」では、試料に光を 照射し、非接触で3D測定を行います。 基板の反り、平面度計測、部品や面の形状測定(高さ・角度・半径 等) が測定可能。製品の形状仕上がり検証、実装基板の実装品質へ寄与します。 測定例には、反り測定(基板)、寸法測定(金属部品)、レーザ顕微鏡 による平面度測定(ワッシャ)がございます。 【設備紹介：3Dマクロスコープ(一部)】 ■設備名・型番：ワンショット3D形状測定機 VR-5200 ■メーカ：KEYENCE ■XY可動範囲：184mm×88mm ■Z可動範囲：73mm ■表示分解能：0.1µm ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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  • 三次元測定器

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PVAテプラ社ウェハ内部ストレス測定

PVAテプラ社ウェハ内部ストレス測定

非接触にてウェハ残留応力の可視化、プロセス開発・製造時の内部ストレスモニタリングに最適

TePla社製SIRDは，非破壊，非接触にて，インラインのサンプルストレスフィールドモニタリングを実現します．あるストレスを受けたサンプルは光弾性効果により複屈折を生じます．複屈折の生じたエリアに偏光された光が通過する際，この偏光状態に変化が生じます． このときのデポラリゼーションおよびトランスミッションを評価し，ストレス分布のイメージングを行います．

  • images (1).jpg
  • 欠陥検査装置

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