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測定(3d) - List of Manufacturers, Suppliers, Companies and Products

Last Updated: Aggregation Period:2025年11月19日~2025年12月16日
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測定 Product List

31~40 item / All 40 items

Displayed results

表面粗さ・輪郭形状測定機

粗さ測定と輪郭形状測定の融合。簡単な操作を実現した製品等をラインアップしております

新日本電工では『表面粗さ・輪郭形状測定機』を取り扱っております。 0.005μmの分解能を維持したまま、12mmの広範囲測定を実現した 高安定倍光路型レーザ干渉計を装備した「サーフコム 3000A」をはじめ、 非接触かつ高速で輪郭形状解析が可能な「プロファイルスキャナー PS200」や 「サーフコム 130A」などを各種ご用意。 ご要望に合わせてお選びいただけます。 【ラインアップ(一部)】 ■表面粗さ・輪郭形状統合測定機 サーフコム 3000A ■非接触三次元輪郭形状測定機 プロファイルスキャナー PS200 ■三次元表面粗さ形状測定機 サーフコム 1400D-3DF ■光触針ピックアップ ■輪郭形状測定機 コンターレコード 2600E など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他計測・記録・測定器

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電気光学効果電界プローブ 過酷な環境でのEMF測定!

水中、オイル中 での利用可能な光プローブ・光電界センサ

eoProbeは、電気光学技術(ボッケルス効果)に基づいた光電界センサで一軸を測定します。この超広帯域センサは、過酷な条件下で、ほとんどすべての場所および環境(空気、液体、気体、真空)で正確な測定を可能にします。 Kapteosシステムは、このボッケルス効果を利用した電気光学プローブeoProbeとハイエンドコンバータeoSenseにより革新的な電界測定を実現しました。その測定性能は、数MV / mを超え、40 Hz〜100 + GHzの超高帯域幅や、水中などの非常に過酷な環境で最も高度な機能を提供します。 <電場ベクトルの包括的測定> 電気光学技術に基づいたボッケルス効果によりベクトル電界の3つの成分と位相を測定することができます。また縦方向,横方向タイプの2種類のプローブにより、eoSensorコンバータと使用することで3軸のベクトルを正確に識別・測定することができます。 <非侵襲的測定> 金属部品を使用しないセンサの能動部品は基本的にクリスタルです。測定信号は光ファイバーリンク内のレーザーによって送信されます。MRIシステム内の動物組織、果物または野菜の内側の電界測定も可能です。

  • 光学測定器
  • EMC試験
  • プローブ

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微小なサンプルの水分を非破壊で迅速に測定 BS-F1700

多彩なファイバーセンサーと検量線作成機能で、微小なサンプルの微量な水分・成分も迅速かつ精密に測定!

◇使用波長範囲900nm~1700nm、最大3項目を同時に測定 ⇒測定に使用する波長が多く、読み取れるデータが多い分、食品サンプル中の水分や成分(タンパク質/脂質/糖質など)測定だけでなく、フィルムの厚さなどサンプルの定量測定が可能。 ◆最小測定径φ3mmのファイバーセンサを含む8種類のセンサと、検量線チャンネル最大100チャンネルで多種多様なサンプルに対応 ⇒8種類のセンサで、食品や樹脂ペレットなどの固体から溶液中の水分・成分測定まで、幅広いサンプルに対応。検量線作成機能でサンプルに合わせた目盛データを作成、より精密な測定が可能。 ◇最短1秒間隔の連続測定、トリガ機能で測定タイミングを外部出力により制御可能。 ⇒センサプローブを製造ラインや配管(窓越し)に設置して、リアルタイムの成分測定が可能。トリガ機能で、サンプルが流れているときだけの成分値を確実にモニタリング。 当社では本製品のデモ試験も承っております。 ご要望の際はご連絡ください。

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三次元測定機による高精度測定

三次元測定機による高精度測定 航空・宇宙産業向け製品を15年以上保証してきた実績

【特徴】 ■機種:Mitsutoyo FALCIO Apex9106 ■複雑な形状の製品も、制度要求の高い製品も測定可能 ■20℃で温度管理された測定室 ■三次元測定機は人による測定値のバラツキなし ■JIS Q 9100に基づいた品質管理 ■測定結果はデータ保存し、20年保管 ■航空・宇宙製品を15年以上品質保証してきた実績

  • その他機械要素

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分析・測定『食品製造業様向け 栄養成分分析』

健康で豊かな食生活のために!食品表示法に対応した栄養成分分析

日吉の『食品製造業様向け 栄養成分分析』では、様々な品質保証体制・ 品質管理システムを導入し、信頼される結果をお届けします。 一般消費者に販売される全ての加工食品は、栄養成分の正しい表示義務があります。 当社では、栄養表示基準に基づいた分析方法(平成27年3月30日消食表第139号)にて検査を実施。 正確な分析値なら誤差範囲基準等に適合した表示が可能です。 【特長】 ■食品表示法対応 ■厚生労働省食品衛生法登録検査機関  ISO/IEC17025試験所認定取得 ■品質保証体制・品質管理システムを導入 ■検査からコンサルタントまで一貫サポート 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分析機器・装置
  • 受託測定
  • 受託検査

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プレシテック社 非接触センサメーカーのご紹介

色収差共焦点法・分光干渉法での測定が得意な非接触センサメーカー。高速・高精度な厚み測定、形状測定に強み。様々な材質に対応可!

プレシテックはドイツの非接触センサメーカーです。高速・高精度な厚み測定、形状測定を得意としており、 ウエハ厚み、エッジ形状、高さ測定、平坦度の測定・検査などに使用されています。 幅広い測定範囲 、許容角度、様々な材質に対応でき、全面測定に向いているラインセンサ、エリアスキャナもあります。 半導体製造装置への搭載実績も多数あり、LCD製造装置、フィルムのインライン検査でも使用されています。 また、スタンドアロンなどの卓上機の組み込み用センサとしても利用されています。 【アプリケーション】 ウエハ加工(研磨など)前後、加工中の厚み測定、フィルム、コーティング厚み測定、 ガラスウエハ肉厚検査、ウエハエッジ形状、TTV、平坦度、ワイヤボンディング形状、 マイクロバンプ形状、溶接部形状、PCB形状、CMMへ搭載しての非接触距離センサ、 バッテリー用フォイル厚み、ガラス厚み、エアギャップなど ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【レンズ分析】表面粗さ測定

カラーマップによる3DCGで分かりやすい測定が可能!モノづくりを強力にサポート

当社で行った、光に影響が大きい「表面粗さ測定」の事例をご紹介いたします。 カメラ内の部品表面、塗装後、機械加工後の表面等、表面状態によっては、 嵌合部品の組みづらさや本来の高さとは異なる組付け、ゴーストフレアが 発生することもあります。 細かい範囲の高低差や、薄い製品の全体的な歪みをカラーマップによる 3DCGで分かりやすい測定が可能。また、測定可能かの確認や、指定いただく 測定箇所のご相談もお受けいたします。 【事例概要】 ■測定項目 ・Ra、Rz ・測定範囲の3DCG ・表面の細かい高低差 ■測定器:光学式表面性状測定器「Zygo製 NewView7300」 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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LoRaWANエンドデバイス『OiNET-950NU82』

バッテリーでの動作を考慮した低消費電力設計!各種シーケンスに対応しております

『OiNET-950NU82』は、無電圧接点入力を1ポート備えたLoRaWAN仕様に 準拠したLoRaWANエンドデバイスです。 ドアの開閉等を検知するセンサーのような無電圧接点出力を行う装置や、 雨量計のような接点パルス出力を行う装置を接続し、LoRaWANを用いて 通信することが可能。 また、バッテリーでの動作を考慮した低消費電力設計となっています。 【特長】 ■LoRaWAN仕様に準拠(Class A/C、各種MACコマンド) ■低消費電力設計(送信時はmA、スリープ時はμAで動作可能) ■各種シーケンスに対応 (定時送信/周期送信/状変送信/状態取得/制御/設定変更等) ■LoRaSPN(Small Private Network)に対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 圧電デバイス

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顕微分光膜厚計 nk 未知の極薄膜の測定

複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定

従来法では困難であった極薄膜領域下(100nm以下)でのnk解析ですが、複数点解析機能により、精度良くnk解析が可能です。(特許取得済 第5721586号) 最小二乗法でフィッティングをして膜厚値(d)を解析するには材料のnkが必要です。nkが未知の場合、d とnkの両方を可変パラメータとして解析します。 しかしながら、d が100nm以下の極薄膜の場合、d とnkとを分離することができず、そのため精度が低下して正確な d が求められないことがあります。  このような場合、d の異なるサンプルを複数測定し、nkが同一であると仮定して同時解析(複数点同一解析)をします。これにより精度よくnkを求め、正確な d を求めることが可能です。

  • 複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定.jpg
  • 分析機器・装置

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輪郭形状測定サービス|JTL

微細なRや深さ等の寸法、図面では表記困難な輪郭形状を評価します。

本サービスでは、輪郭形状測定機や画像測定機、三次元測定機、光学式3Dデジタイザのスキャニング(倣い)測定を用いて製品・金型等の測定物の表面をトレースすることにより、微細な箇所の輪郭形状データを得ることができます。取り込んだデータは専用ソフト上で計算処理することによって、寸法測定・座標算出等の評価を行うことが可能です。また、図面の寸法線では表記できない輪郭線や自由曲線を数値化・可視化した評価を行うことも可能です。 接触式による高精度測定や非接触式による広範囲測定など、輪郭形状測定には様々な方法がありますのでワーク・測定の条件により適切な測定機器・手法をご提案させていただきます。

  • 公共試験/研究所
  • 受託測定
  • その他受託サービス

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