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【Bently Nevada】パワフル＆優れた接続性！計測した振動データはハンドヘルドデバイスで表示・保存が可能
『SCOUT200シリーズ』は、産業向け設備の振動データを記録し、その状態を 監視することにより設備故障を診断するポータブル型振動解析装置です。 危険な場所（爆発性雰囲気）で使用可能な「SCOUT」、一般環境下で 使用を想定した設計の「COMMTEST」があります。 データ収集と分析のニーズに合わせ、どちらのシリーズにおいても 2チャンネルと4チャンネルの製品をご用意しております。 【特長】 ■データ収集モジュール、操作端末分離型の設計を採用 ■柔軟に選択可能なハンドヘルドデバイス ■持ち運びが容易 ■高性能データ収集 ■System1ソフトウェアプラント全体のソリューション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 尚、イプロスにご登録されている個人情報は、弊社正規代理店にも共有、ご連絡させていただく場合がございます。ご了承ください。
ローデ・シュワルツの5Gワイドバンド信号生成・解析ソリューションをいち早くご紹介！
昨今、5G（次世代移動通信システム）の商用化に向けた取り組みが盛んに行われています。5Gでは従来よりも高度なモバイル・ネットワーク技術が求められており、機器の開発には対応した測定器の調達が必要になると考えられます。 ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ ＼＼ 当社では5G用に最新測定器の品揃えを強化しています ／／ ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ ワイドバンド信号生成と解析の使用例とともに、最新の5Gソリューションをご紹介！ レンタルなら開発予算の平準化を実現し、調達初期のコストを大幅に削減します。
流体解析 粒子径測定 衝突力分布など、ノズル性能に関する解析でスプレーノズルの性能を可視化！事例を掲載した資料を進呈します！
スプレーノズルの性能は、圧力、流量、スプレーパターン、粒子径、 流速、流量分布、衝突力分布などの要因により左右されます。 エバーロイはそれらの測定設備及び解析評価技術を保有し、 これまでに数多くの解析を受託してきました。 長年の実験や解析評価の蓄積から、お客様の使用目的に応じて スプレーノズルの最適化案をご提案できます。 解析を必要とされるお客様は、お気軽にご相談ください。
数万におよぶ膨大な粒子撮影と解析をわずか数分で実現！【デモ測定／持ち込みできます！】ご相談ください。
従来の粒度分布測定器以上の粒子径評価に、粒子形状を画像で評価し数値化することで、粉粒体の付加価値を向上させます。 粒子画像解析には、鮮明な粒子画像が必要となることは言うまでもありません。 カメラの焦点深度は数ミクロンになりますので、観察される粒子は、正確に焦点を通過させる必要があります。また、観察ゾーンを粒子ができるだけ重なりあって通過しないようにしなければなりません。 「PITA-04」は、独自の平面伸張セルの採用と高解像度CCDカメラで粒子撮像環境を実現しました。 「針状／繊維状粒子の長さや太さ」「懸濁粒子の分散／凝集状態」「粗大粒子が単一粒子か凝集粒子か又は異物か」「形状を制御した粒子に異形物はないか」など、PITA-04ならば、これらが確実に分析できます。 【特徴】 ○平面伸張セル採用による、鮮明な粒子画像 ○誰でも簡単に短時間で測定可能 ○重い・大きい・繊維状の粒子や、凝集確認などの多種の測定を実現 ○有機溶媒対応 ○コンパクト化によりコストダウンに成功 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
わずか1秒で表面自由エネルギー解析が可能な大人気モデル！
世界初の空気圧によるダブル滴定システムを採用し、ワンクリックで同時に2液の接触角を測定することで表面自由エネルギーを最短1秒で算出できます。完全自動測定なので人為誤差も最大限に排除します。
フォトレジストの高度な評価を行う、さまざまな装置を提供します。
脱保護反応解析装置 PAGAシリーズはPEB及び248mm露光によるin-situ反応解析、脱保護反応パラメータ算出機能。FT-IR室内にベークプレートを配置し、加熱し ながら官能基の変化を観察で来ます。また、紫外線(248nm)照射装置も搭載されており、露光中における酸発生のメカニズムなどの解析にも利用できます。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
新しいEyeLinkはどこでも簡単に高精度にアイトラッキングができます
EyeLink Portable Duoでの計測は、カメラをノートPCに接続するだけで簡単にできます。 クリニック、オフィス、ラボ、自宅など、どこでも簡単に高精度にアイトラッキングが可能です。 ノートPCでも、三脚を使って簡易的に頭部固定しても使えますので使い方も自由自在です。 専用のノートPC、カメラを専用のキャリーバッグにまとめて持ち運べるので、特別な梱包も必要なく移動も便利です。
用途に応じてカスタマイズが可能、様々な実験条件に対応します
基本システムにタスクに応じたレンズ/カメラマウントの選択が可能です。 デスクトップ型、タワー型、リモート型、アーム型の４タイプが構成されます。ビデオ式のアイトラッキングシステムでは世界最速の2000Hzサンプリングへの拡張もできます。 EyeLink1000 PLUSに組み込まれた特殊画像処理技術により、低いノイズ、少ないドリフトで安定した計測を長時間おこない、精度の高いデータを取り込むことができます。 <スタンダードカメラマウント> ■デスクトップ型：アイカメラを刺激呈示用モニタの下に設置し、ヘッドレストに顔を乗せ計測するタイプです。 ■タワー型：眼球映像の取り込みにハーフミラーを使用するので、カメラが眼球を正面から捉えることができます。 ■リモート型：非接触にて計測できるので被験者への負担は軽減されます。 ■アーム型：視覚刺激呈示用モニタの下部にアイカメラを取り付けたタイプです。
高機能でこの価格帯！ プロ仕様、最高級高周波電磁波測定器
高機能でこの価格帯！ プロ仕様、最高級高周波電磁波測定器 ドイツ建築生物学（バウビオロギー）協会認定測定士が、 マイクロ波(レーダー波含む）測定に使用している信頼性の高い機種 ■□■特徴■□■ ■測定周波数範囲：800 MHｚ（メガヘルツ）〜2.5 GHｚ（ギガヘルツ）、 精度を落とし3.3 GHzまで測定可能 ■測定単位：読みやすい μW/m2（マイクロワット パー 平方メートル） - 欧州及び国際標準−によるデジタル表示 ■電力密度測定範囲：0.01〜19,990 μW/m2（マイクロワット パー 平方メートル） ■分解能 ・Coarse＝10〜19,990 μW/m2( =19.99 μW/m2：ミリワット パー 平方メートル） ・Medium＝0.1〜199.9 μW/m2 〜 -60 dBm ・Fine ＝0.01〜19.9 μW/m2 〜 -70 dBm ■超高精度：＋-4.5dB、+-7 ■詳細は、お問い合わせ下さい。
Al配線に配向性が見られた、EBSDによる解析例を紹介いたします
Chip表面の配線(Al)について、EBSDによる解析例を紹介いたします。 パッケージ樹脂を薬液/RIEにより開封し、EBSDによるチップ表面の Alパターンの解析を実施。 その結果、Al配線に配向性が見られました。 法線方位が分布しており、結晶が多く存在していると考えられます。 【概要】 ■解析方法 ・パッケージ樹脂を薬液/RIEにより開封 ・EBSDによるチップ表面のAlパターンの解析を実施 ■結果 ・Al配線に配向性が見られた ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
EBSD法により結晶サイズの分布や、残留応力を推測することができます
積層基板で形成されるビア(Cu)について、EBSDによる解析例を 紹介致します。 EBSD法により結晶サイズの分布や、残留応力を推測することが可能。 また、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた特長を 可視化できます。 【概要】 ■EBSDにて結晶構造を観察 ・IPFマップ ・GRODマップ ・結晶粒分布map ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
EBSDパターン(菊池パターン)、金ワイヤーボンド接合部の解析例をご紹介します
EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折 パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに 定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布や 応力ひずみ等の材料組織状態を調べる手法です。 例えば、SEM中で試料を大きく傾斜し電子線を照射したとき、試料が結晶性 の物であれば、試料内で電子線回折が生じます。そのパターンを指数付け することでその点の結晶方位を求めることが可能となります。 結晶方位差を観察することで、結晶粒内の残留応力を推測することができます。 【特長】 ■個々の結晶の方位情報を取得しマップ化 ■結晶方位、結晶粒分布や応力ひずみ等の材料組織状態を調べる ■結晶方位差を観察することで、結晶粒内の残留応力を推測可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
「SEM像」や「吸収電流像（電流センス）」など！配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します
当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。 『EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み』では、 ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線の オープン不良、高抵抗不良箇所を特定します。 吸収電流を電圧センスすることで、配線内の抵抗分圧に基づいた コントラストが得られるため、ビアチェーンなどのTEGで⾼抵抗 不良箇所を検出することもできます。 【EBAC法による解析事例】 ■SEM像 ■重ね合わせ画像 ■吸収電流像（電流センス） ■吸収電流像（電圧センス） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
「観察/元素分析」や「EBSDによる解析」など！EBSDによる解析例を紹介致します
セラミック（Al2O3）について、EBSDによる解析例を紹介致します。 「観察/元素分析」では、EDXによる元素分析からAl2O3と判断され、 マップよりSiが点在している様子が観察されました。 「EBSDによる解析」では、EBSD法により結晶サイズの分布や配向性を 確認でき、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた特長を 可視化できます。 【解析概要】 ■観察/元素分析 ・SEMによる観察とEDXによる元素分析 ■EBSDによる解析 ・EBSDにて結晶構造を観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて解析した事例を紹介！
当資料では、ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて、 機械研磨にて断面を作製し、SEM観察及びEBSD解析した事例を 紹介しています。 ICパッケージの表面SEM像をはじめ、断面SEM像などを掲載しています。 EBSD法により測定された結晶粒と結晶粒界が一致していることがわかります。 ぜひご一読ください。 【掲載事例】 ■観察/断面作製 ■EBSDによる解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
