評価システムのメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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評価システム - メーカー・企業45社の製品一覧とランキング

更新日: 集計期間:2025年07月09日~2025年08月05日
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評価システムのメーカー・企業ランキング

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  1. 大塚電子株式会社 大阪府/試験・分析・測定
  2. Unchained Labs (アンチェインドラブズ)株式会社 東京都/その他
  3. 日本キスラー合同会社 神奈川県/試験・分析・測定 本社
  4. 4 アフロディ株式会社 東京都/光学機器 本社
  5. 5 新日本空調株式会社 東京都/試験・分析・測定 ソリューション事業部

評価システムの製品ランキング

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  1. オールインワンタンパク質構造安定性評価システム『UNCLE』 Unchained Labs (アンチェインドラブズ)株式会社
  2. 燃焼解析用測定・評価システム KiBox To Go 2893A 日本キスラー合同会社 本社
  3. インライン透過率評価システム MCPD Series 大塚電子株式会社
  4. 4 インラインフィルム評価システム MCPD Series 大塚電子株式会社
  5. 5 パワーサイクル・過渡熱抵抗評価システム 株式会社クオルテック

評価システムの製品一覧

46~60 件を表示 / 全 69 件

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【異物問題の解決へ】浮遊微粒子・付着微粒子 可視化評価システム

微細異物の混入や付着に悩まされていませんか?実績豊富な微粒子・気流可視化システムで不良率の改善に貢献します。是非ご相談ください!

微粒子可視化システムは、製造ラインにおける異物混入問題や環境悪化問題を数多く解決してきました。 目には見えないほど小さな異物の映像化や、異物サイズや個数といった定量データの取得により、現場の改善に貢献します。 ■ニーズに合わせた超高感度ラインナップを用意しました   STD: 可搬性に優れたコンパクトモデル   HS: 高速度撮影対応モデル   EX: ナノ粒子の検出を追求したハイスペックモデル ■生産・品質管理の様々なシーンで利用できます ■当社ホームページに実例映像が多数掲載されています   ⇒https://www.snk.co.jp/particle/ ■可視化技術全般のWEB紹介や実演を随時承っています ■弊社専門スタッフへ現場評価を委託することもできます ■詳細はカタログダウンロードまたは当社ホームページへお気軽にお問合せください ■出展情報 ~様々なシステムやツールをご体感いただけます~   2024.10.2~4開催「国際水素・燃料電池展」に出展します。   会場で是非ご体感ください。   出展場所:幕張メッセ 8ホール E25-6

  • その他環境分析機器
  • 食品試験/分析/測定機器
  • 流量計

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上肢訓練評価システム E-LINK

手首から肩までの自動・抵抗自動訓練をサポートできる上肢訓練具

E-LINK上肢訓練具は、手関節、前腕、肘関節、そして肩関節の自動および抵抗自動上肢訓練に特化した上肢訓練具です。 汎用性のあるパラメータにより、整形外科や神経科など幅広い被験者へのリハビリテーションに利用できます。 訓練可能な動作 ●手関節: 掌屈/背屈、橈屈/尺屈 ●前腕 : 回内/回外 ●肘関節: 伸展/屈曲 ●肩関節: 伸展/屈曲、外転/内転、外旋/内旋 訓練で用いる関節可動域は、可動域の小さな被験者では2度から、全可動域まで設定できます。 負荷抵抗の大きさは、訓練を始めたばかりの被験者では小さくしておき、リハビリテーションを経て改善するにつれて大きくするなど、調節することができます。 注意事項: 本製品は日本での医療機器認定はされておりません

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  • その他検査機器・装置

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ペロブスカイト太陽電池対応 屋外暴露評価システム

試作モジュールの実証実験に!PV屋外暴露試験システム~I-Vカーブ・日射・温度・風向・雨量等も計測可能~

新型太陽電池の試作モジュールの実証実験や研究目的のPVストリング計測まで幅広い要望に応える太陽電池評価システムです。 評価対象や目的に合わせてご提案いたします。 ・新型太陽電池(ペロブスカイト型等)太陽電池セル/モジュールの屋外暴露試験実績あり ・車載用太陽電池の屋外暴露試験実績あり ・1台の計測器で複数枚の太陽電池を切り替えて評価するシステム ・複数台の計測器で複数枚の太陽電池を同時に評価するシステム ・太陽電池モジュール1枚とストリング、アレイを切り替えて順番に計測するシステム ・系統連系せずにパワーコンディショナの代わりにMPPT制御機能付き負荷装置を使用して計測するシステム その他ご予算・ご要望にあわせてご提案いたします。お気軽にお問い合わせください。

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  • 試験機器・装置

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インライン膜厚評価システム MCPD Series

インライン膜厚評価システムは、光学式のため非接触・非破壊膜厚で膜厚測定が可能

測定可能膜厚範囲は 65nm~92μmと薄膜から厚膜まで対応しております。(屈折率1.5の場合) 測定原理は分光干渉方式のため、高い測定再現性を実現しつつ多層厚み測定にも対応しております。独自アルゴリズムの採用により高速でリアルタイムにモニタリングが可能なため、インラインフィルムモニターとして最適なシステムをご提案いたします。 【特長】 ■プロセス中の薄膜高速測定に最適 ■最短露光時間1ms~ ※仕様による ■リモート測定に対応 ■膜厚測定範囲65nm~92μm(SiO2換算) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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  • 分光分析装置

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インライン透過率評価システム MCPD Series

インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊での透過率、吸光度、色などの検査が可能

各種フィルム上コート膜などの透過率測定および吸光度、色などの測定が可能。 仕様により膜厚測定も可能であり、測定可能膜厚範囲は 65nm~92μmと薄膜から厚膜まで対応しております。(屈折率1.5の場合) 測定原理は分光干渉方式のため、高い測定再現性を実現しつつ多層厚み測定にも対応しております。独自アルゴリズムの採用により高速でリアルタイムにモニタリングが可能なため、インラインフィルムモニターとして最適なシステムをご提案いたします。 【特長】 ■プロセス中の薄膜高速測定に最適 ■最短露光時間1ms~ ※仕様による ■リモート測定に対応 ■膜厚測定範囲65nm~92μm(SiO2換算) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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ディスプレイの色域評価システムGamut Rings

ディスプレイの新しい色域評価のガマットリングス(Gamut Rings) まだ従来の色域評価をしますか?

新製品の特長について  ・色域評価が正しく、簡単に、わかりやすくできます。 ・これまでの色度図では表現できない明度も含めた3次元の色域(色空間)を2次元で可視化する新しい手法です。 ・3次元の色域を一定の明度間隔で輪切りにし、平面に引き延ばし、リング状に配置します。 ・この測定は国際標準化に策定されております(IEC,CIE) 1)人の視認性にとても合致しており、正しく評価できるためディスプレイ設計開発や品質の改善に有効。 2)従来にない明度方向の色を含めて2次元で表現できるため、解析が容易。 3)測定時間がとても速いため、測定効率の大幅な効果が期待できます。

  • 光学測定器

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ディスプレイ空間解像度評価システム『DT-8031』

ディスプレイの空間解像度評価!人が視認する画像の鮮明レベルを定量化

国際標準化IECに制定された新開発のLine-based方法を採用。 映像のボケレベルを簡単に数値化できます。 様々なディスプレイ、ディスプレイデバイス、素材/部材の空間解像度定量評価(空間分解能評価)ができます。 リアルタイム測定が可能で、高い測定精度と安定性、そして測定ハードウェアは安価なカメラ、光学系のシステムが実現できます。 ご要望に応じて、大型ディスプレイ対応や部材/素材評価に合わせたシステム一式を特別仕様でご対応します。 サンプル、デモ評価からシステム販売、アフターサービスまで一貫した技術サービスをご提供します。 【ディスプレイMTF測定データ】 ■ディスプレイの評価 ■ディスプレイの素材、部材の評価 ■品質特性評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • 光学測定器

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輸送機器/機械装置/鉄構製品の実構造強度、多軸強度評価システム

鉄道車両や航空機の構造部材から、家電製品まで、各種構造強度試験に実績多数あり!!

当社では、各種機器・製品、実機部品に対して、実運用に 近い状態で荷重を負荷する強度試験と、設計段階で予想した応力分布や疲労強度と比較、評価し、 各種製品、実機部品が十分な構造強度を有するか確認できる場を提供しています。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • その他計測・記録・測定器
  • 試験機器・装置
  • 受託測定

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品質評価システム『HALT/HASS』

製品に開発リードタイムの短縮と信頼性向上のために

『HALT/HASS』は、製品化プロセスの初期段階である開発/設計において 短期間で製品の弱点を検出し、潜在的な不具合をいち早く取り除くための 評価システムです。 1980年代に米国で発案され、欧米を中心に航空機、自動車、医療機器など さまざまな業界での品質評価で採用。 製品に“強いストレス”を加え製品の弱点を短期間で検出し、改善改良を 繰り返すことで製品の品質を向上させることができ、品質評価における フロントローディングを可能にします。 【特長】 ■ロバスト設計の実現 ■設計マージンの最適化 ■フロントローディングの実現 ■広い温度域:-100℃~+250℃ ■急速温度変化:60℃/min以上 ■6自由度振動 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器

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【異物管理】浮遊微粒子・付着微粒子 可視化評価システム

微細異物の混入や付着に悩まされていませんか?実績豊富な微粒子・気流可視化システムで不良率の改善に貢献します。是非ご相談ください!

製造ラインにおける異物混入問題や環境悪化問題を数多く解決してきた微粒子可視化システム。 目には見えないほど小さな異物の映像化や、異物サイズや個数といった定量データの取得により、現場の改善に貢献します。 ■ニーズに合わせた超高感度ラインナップを用意しました   STD: 可搬性に優れたコンパクトモデル   HS: 高速度撮影対応モデル   EX: ナノ粒子の検出を追求したハイスペックモデル ■生産・品質管理の様々なシーンで利用できます ■当社ホームページに実例映像が多数掲載されています   ⇒https://www.snk.co.jp/viest/movie.html ■可視化技術全般のWEB紹介や実演を随時承っています ■弊社専門スタッフへ現場評価を委託することもできます ■詳細はカタログダウンロードまたは当社ホームページへお気軽にお問合せください

  • その他環境分析機器
  • 熱流体解析
  • 熱流体解析 受託

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有機EL輝度評価システム「型式 PEL-100シリーズ」

増設・拡張性に優れた有機ELの輝度評価装置です

有機EL輝度評価システム「型式 PEL-100シリーズ」は、基本ユニット1台で複数のEL素子を独立並列に評価できます。 10CH 定電流駆動の「PEL-100S」と20CH 定電流駆動の「PEL-100T」がございます。 その他ユーザー様の要望に応じてカスタム電源も製作致します。 【特長】 ○ユニットを増設することによりを1システムで最大144CHまで拡張可能 ○LAN経由による遠隔操作も可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

  • 試験機器・装置

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有機EL輝度評価システム「型式 PEL-100S・T」

有機EL輝度・寿命評価で信頼が厚いシステムです。

有機EL輝度評価システム「型式 PEL-100S・T」は、基本ユニット1台で20個のEL素子を独立並列に評価できます。 10CH 定電流駆動の「PEL-100S」と20CH 定電流駆動の「PEL-100T」がございます。 【特長】 ○増設ユニット(20CH)を1システムで5台(計120CH)まで拡張可能 ○LAN経由による遠隔操作も可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

  • 試験機器・装置

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有機EL用 経時変化評価システム「ELS-100」

有機EL素子をセットするだけで長時間の発光特性を測定する経時変化評システムです

「ELS-100」は、有機EL素子を長時間点灯して、 電圧・輝度・スペクトルを取り込み、経時変化を検出する評価システムです。 有機ELの発光効率、スペクトル、色度などを的確に把握でき、 付属のソフトウェアで、カンタンに操作・管理が行えます。 【特長】 ■ディスプレイメーカー、材料メーカーなど実績多数! ■現場に合わせてカスタマイズが可能 ■手厚いメンテナンスやアフターフォロー体制 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 試験機器・装置

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多チャンネル液晶セル評価システム

複数の液晶セルを並列連続的に測定し、データ取得するシステムです。

測定可能項目 ・TV測定(電圧-明るさ測定) ・Vcom最適値検索測定(Vcomスキャン測定) ・光フリッカー測定(FMA/JEITA) ・Vcomシフト測定  (印加電圧違いに対する、時間-最適DC電圧測定) ・輝度シフト測定(ΔTV測定)  (印加電圧違いに対する、時間-明るさ測定) ・DC輝度緩和測定(休息後の時間-明るさ測定)  スマイルカーブ測定(ストレス/緩和Vcomスキャン)

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  • その他計測・記録・測定器

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インラインフィルム評価システム MCPD Series

インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊での膜厚、濃度、色などの検査が可能

測定可能膜厚範囲は 65nm~92μmと薄膜から厚膜まで対応しております。(屈折率1.5の場合) 測定原理は分光干渉方式のため、高い測定再現性を実現しつつ多層厚み測定にも対応しております。独自アルゴリズムの採用により高速でリアルタイムにモニタリングが可能なため、インラインフィルムモニターとして最適なシステムをご提案いたします。 【特長】 ■プロセス中の薄膜高速測定に最適 ■最短露光時間1ms~ ※仕様による ■リモート測定に対応 ■膜厚測定範囲65nm~92μm(SiO2換算) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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