Dynamic Tester『ST-6527B』
複数の異なる測定項目条件を設定し、連続しての試験が行えます
『ST-6527B』は、半導体の動特性を設定されたテスト条件に従って 測定をする装置です。 全ての試験項目は、ディジタルオシロスコープにて取り込んだ波形を 解析して、測定及び判定。シングル試験、スイープ試験、ループ試験他、 豊富な解析機能を備えております。 また、L負荷、R負荷、スナバコンデンサ、ダイオード、ゲート抵抗は、 プラグインタイプを使用し、様々なハードウエア設定を可能にしています。 【特長】 ■測定データと波形データの管理が容易 ■パワーデバイスの動特性試験に特化 ■高温(最大230℃)での試験が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：嶺光音電機株式会社
- 価格：応相談
