複数の異なる測定項目条件を設定し、連続しての試験が行えます
『ST-6527B』は、半導体の動特性を設定されたテスト条件に従って 測定をする装置です。 全ての試験項目は、ディジタルオシロスコープにて取り込んだ波形を 解析して、測定及び判定。シングル試験、スイープ試験、ループ試験他、 豊富な解析機能を備えております。 また、L負荷、R負荷、スナバコンデンサ、ダイオード、ゲート抵抗は、 プラグインタイプを使用し、様々なハードウエア設定を可能にしています。 【特長】 ■測定データと波形データの管理が容易 ■パワーデバイスの動特性試験に特化 ■高温(最大230℃)での試験が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報
【電気的仕様】 ■コレクタドライバ ・Vce最大出力電圧：1700V ・Vclamp最大出力電圧：2000V ■測定負荷 ・L負荷：6種類 ・R負荷：5種類 ■ゲートドライバー電源、ゲートドライバー、Rg ・放電時間：5ms/15V以下 ・ドライバー出力ピーク電流：4A など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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企業情報
当社は、ハイブリッド車や省エネ家電などに使用されるパワーデバイスを 中心とした半導体及び電子部品のテスターメーカーです。 お客様の製品開発段階での評価・試験から、ウェハー、チップレベルでの 前工程試験、パッケージング後の後工程試験までお客様からのさまざまな ニーズに応え、快適なソリューション活動を展開しております。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。